晶体管扫描测试系统的制作方法
【专利摘要】本实用新型提供一种晶体管扫描测试系统，包括用于测试晶体管或二极管的测试仪，其特征在于：还包括继电器组以及继电器控制单元；所述继电器控制单元用于控制每个继电器的通断，所述继电器控制单元设置在测试仪内；测试仪可以同时与多个晶体管器件进行连接，利用继电器的开合来选择所要测试晶体管，配型单片机等可编程器件能够实现自动测试，提高测试效率。
【专利说明】晶体管扫描测试系统
【技术领域】
[0001] 本实用新型属于测试【技术领域】，涉及一种晶体管测试系统。
【背景技术】
[0002] 现有晶体管的测试是利用测试仪一次测试一个晶体管，进行下个晶体管测试时， 需要将前次晶体管取下，再将待测晶体管与测试仪连接进行测试。因此，现有晶体管测试方 法的测试效率低，自动化程度低。
[0003] 现有晶体管的测试对于多封装的测试不能一次测完，必须一个单元一个单元测 试。因此，现有晶体管测试方法的测试效率低，自动化程度低。
【发明内容】
[0004] 为解决现有晶体管测试效率低下的技术问题，本实用新型提供一种晶体管扫描测 试系统。
[0005] 本实用新型的技术解决方案如下：
[0006] -种晶体管扫描测试系统，包括用于测试晶体管的测试仪，其特殊之处在于：
[0007] 还包括继电器组以及继电器控制单元；
[0008] 所述继电器组中三分之一的继电器一端与测试仪的c测试端相连，另一端分别与 每个被测晶体管的c端相连；还有三分之一的继电器一端与测试仪的b测试端相连，另一端 分别与每个被测晶体管的b端相连；最后三分之一的继电器一端与测试仪的e测试端相连， 另一端分别与每个被测晶体管的e端相连；
[0009] 所述继电器控制单元用于控制每个继电器的通断。
[0010] 另一种晶体管扫描测试系统，包括用于测试晶体管的测试仪，其特殊之处在于：
[0011] 还包括继电器组以及继电器控制单元；
[0012] 所述被测晶体管排列成MXN的矩阵；
[0013] 所述继电器组包括N个c端继电器、MXN个b端继电器和Μ个e端继电器；
[0014] 每个c端继电器的一端与相应1列晶体管的所有c端相连，另一端与测试仪的c 测试端相连；
[0015] 每个晶体管的b端对应连接一个b端继电器，所述b端继电器的另一端与测试仪 的b测试端相连；
[0016] 每个e端继电器的一端与相应1行晶体管的所有e端相连，另一端与测试仪的e 测试端相连，
[0017] 所述继电器控制单元用于控制每个继电器的通断。
[0018] 第三种晶体管扫描测试系统，包括用于测试晶体管的测试仪，其特殊之处在于：
[0019] 还包括继电器组以及继电器控制单元；
[0020] 所述继电器组中二分之一的继电器一端与测试仪的c测试端相连，另一端分别与 每个被测晶体管的c端相连；还有二分之一的继电器一端与测试仪的b测试端相连，另一端 分别与每个被测晶体管的b端相连；所有晶体管的e端与测试仪的e测试端相连，
[0021] 所述继电器控制单元用于控制每个继电器的通断。
[0022] -种二极管扫描测试系统，包括用于测试二极管的测试仪，其特殊之处在于：
[0023] 还包括继电器组以及继电器控制单元；
[0024] 所述继电器组中二分之一的继电器的一端与测试仪的正测试端相连，另一端分别 与每个被测二极管的正端相连；还有二分之一的继电器一端与测试仪的负测试端相连，另 一端分别与每个被测二极管的负端相连；所述继电器控制单元用于控制每个继电器的通 断。
[0025] 另一种二极管扫描测试系统，包括用于测试二极管的测试仪，其特征在于：
[0026] 还包括继电器组以及继电器控制单元；所述继电器组包括与被测二极管一一对应 的多个继电器，所述继电器的一端与测试仪的一个测试端相连，另一端与对应的被测二极 管相应端连接；所述二极管的另一端与测试仪的相应测试端连接，所述继电器控制单元用 于控制每个继电器的通断。
[0027] 在以上技术方案中，继电器控制单元可设置在测试仪内。
[0028] 本实用新型与现有技术相比，优点是：
[0029] 本实用新型晶体管扫描测试系统，测试仪可以同时与多个晶体管器件进行连接， 利用继电器的开合来选择所要测试的晶体管，配和单片机等可编程器件能够实现自动测 试，提高测试效率。
【专利附图】
【附图说明】
[0030] 图1为现有晶体管测试系统；
[0031] 图2为本实用新型晶体管扫描测试系统的第一种技术方案；
[0032] 图3为本实用新型晶体管扫描测试系统的第二种技术方案；
[0033] 图4为本实用新型晶体管扫描测试系统的第三种技术方案；
[0034] 图5所示为本实用新型的二极管测试的一种方案；
[0035] 图6所示为本实用新型的二极管测试的另一种方案。
【具体实施方式】
[0036] 以下结合附图对本实用新型进行详细说明，但是本实用新型的【具体实施方式】不限 于此。
[0037] 图2所示为本实用新型的一种技术方案，晶体管扫描测试系统，包括用于测试晶 体管的测试仪1、继电器组以及继电器控制单元；其中三分之一的继电器一端与测试仪的c 测试端相连，另一端分别与每个被测晶体管3的c端相连；还有三分之一的继电器一端与测 试仪的b测试端相连，另一端分别与每个被测晶体管的b端相连；最后三分之一的继电器一 端与测试仪的e测试端相连，另一端分别与每个被测晶体管的e端相连；继电器控制单元 10用于控制每个继电器的通断。继电器控制单元10设置在测试仪。
[0038] 图3所示为本实用新型的第二种技术方案，包括用于测试晶体管的测试仪1、继电 器组以及继电器控制单元10 ;被测晶体管3排列成MXN的矩阵；继电器组包括N个c端继 电器5、MXN个b端继电器7和Μ个e端继电器6 ;每个c端继电器的一端与相应1列晶体 管3的所有c端相连，另一端与测试仪的c测试端相连；每个晶体管的b端对应连接一个b 端继电器，b端继电器的另一端与测试仪的b测试端相连；每个e端继电器的一端与相应1 行晶体管的所有e端相连，另一端与测试仪的e测试端相连，继电器控制单元用于控制每个 继电器的通断。。
[0039] 图4所示为本实用新型的第三种技术方案，晶体管扫描测试系统，包括用于测试 晶体管的测试仪1，还包括继电器组4以及继电器控制单元10 ;其中二分之一的继电器一端 与测试仪的c测试端相连，另一端分别与每个被测晶体管的c端相连；还有二分之一的继电 器一端与测试仪的b测试端相连，另一端分别与每个被测晶体管的b端相连；所有晶体管的 e端与测试仪的e测试端相连。继电器控制单元设置在测试仪。
[0040] 图5所示为本实用新型的二极管测试的一种方案，包括用于测试二极管的测试仪 8、继电器组4以及继电器控制单元10 ;继电器组中二分之一的继电器的一端与测试仪的正 测试端相连，另一端分别与每个被测二极管9的正端相连；还有二分之一的继电器一端与 测试仪的负测试端相连，另一端分别与每个被测二极管的负端相连；继电器控制单元用于 控制每个继电器的通断，继电器控制单元设置在测试仪内。
[0041] 图6所示为本实用新型的二极管测试的另一种方案，包括用于测试二极管的测试 仪8、继电器组4以及继电器控制单元10 ;继电器组包括与被测二极管一一对应的多个继电 器，继电器的一端与测试仪的一个测试端相连，另一端与对应的被测二极管9的相应测试 端连接；二极管的另一端与测试仪的相应测试端连接，继电器控制单元用于控制每个继电 器的通断，继电器控制单元设置在测试仪内。
【权利要求】
1. 一种晶体管扫描测试系统，包括用于测试晶体管的测试仪，其特征在于： 还包括继电器组以及继电器控制单元； 所述继电器组中继电器的数量是晶体管的三倍，其中三分之一的继电器一端与测试仪 的C测试端相连，另一端分别与每个被测晶体管的C端相连；还有三分之一的继电器一端与 测试仪的b测试端相连，另一端分别与每个被测晶体管的b端相连；最后三分之一的继电器 一端与测试仪的e测试端相连，另一端分别与每个被测晶体管的e端相连； 所述继电器控制单元用于控制每个继电器的通断。
2. 根据权利要求1所述的晶体管扫描测试系统，其特征在于： 所述继电器控制单元设置在测试仪内。
3. -种晶体管扫描测试系统，包括用于测试晶体管的测试仪，其特征在于： 还包括继电器组以及继电器控制单元； 所述被测晶体管排列成MXN的矩阵； 所述继电器组包括N个c端继电器、ΜX N个b端继电器和Μ个e端继电器； 每个c端继电器的一端与相应1列晶体管的所有c端相连，另一端与测试仪的c测试 端相连； 每个晶体管的b端对应连接一个b端继电器，所述b端继电器的另一端与测试仪的b 测试端相连； 每个e端继电器的一端与相应1行晶体管的所有e端相连，另一端与测试仪的e测试 端相连， 所述继电器控制单元用于控制每个继电器的通断。
4. 根据权利要求3所述的晶体管扫描测试系统，其特征在于： 所述继电器控制单元设置在测试仪内。
5. -种晶体管扫描测试系统，包括用于测试晶体管的测试仪，其特征在于： 还包括继电器组以及继电器控制单元； 所述继电器组中二分之一的继电器一端与测试仪的c测试端相连，另一端分别与每个 被测晶体管的c端相连；还有二分之一的继电器一端与测试仪的b测试端相连，另一端分别 与每个被测晶体管的b端相连；所有晶体管的e端与测试仪的e测试端相连， 所述继电器控制单元用于控制每个继电器的通断。
6. 根据权利要求5所述的晶体管扫描测试系统，其特征在于： 所述继电器控制单元设置在测试仪内。
7. -种晶体管扫描测试系统，包括用于测试二极管的测试仪，其特征在于： 还包括继电器组以及继电器控制单元； 所述继电器组中二分之一的继电器的一端与测试仪的正测试端相连，另一端分别与每 个被测二极管的正端相连；还有二分之一的继电器一端与测试仪的负测试端相连，另一端 分别与每个被测二极管的负端相连；所述继电器控制单元用于控制每个继电器的通断。
8. 根据权利要求7所述的晶体管扫描测试系统，其特征在于： 所述继电器控制单元设置在测试仪内。
9. 一种晶体管扫描测试系统，包括用于测试二极管的测试仪，其特征在于： 还包括继电器组以及继电器控制单元；所述继电器组包括与被测二极管一一对应的多 个继电器，所述继电器的一端与测试仪的一个测试端相连，另一端与对应的被测二极管相 应端连接；所述二极管的另一端与测试仪的相应测试端连接，所述继电器控制单元用于控 制每个继电器的通断。
10.根据权利要求9所述的晶体管扫描测试系统，其特征在于： 所述继电器控制单元设置在测试仪内。
【文档编号】G01R31/26GK203838298SQ201420108950
【公开日】2014年9月17日 申请日期:2014年3月11日 优先权日:2014年3月11日
【发明者】郭胜岩, 冯丽平 申请人:陕西开尔文测控技术有限公司