一种测试样品支架的制作方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种测试样品支架，该测试样品支架包括底座组件和设置在底座组件上的样品平台组件，进一步地还包括设置在底座组件上的用于使样品平台组件相对于底座组件运动的滑动组件。根据本实用新型的测试样品支架可以用于太赫兹安全检测系统的样品测试，能够实现样品取放过程中的平滑的轨道运动，简化样品取放步骤、提高样品取放效率。该测试样品支架不仅能够在不对太赫兹发生器件以及太赫兹安全检测系统进行断电的情况下实现待检测样品的更换，而且能够大大地延长采用这种测试样品支架的样品测试系统的使用寿命。
【专利说明】一种测试样品支架
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及光电特性产品检测【技术领域】，具体涉及一种测试样品支架，比如为一种用于太赫兹安全检测系统的测试样品支架。
【背景技术】
[0002]以下对本实用新型的相关技术背景进行说明，但这些说明并不一定构成本实用新型的现有技术。
[0003]太赫兹波是指频率在0.1THz到1THz范围的电磁波，波段介于微波和红外之间。该波段包含着非常丰富的光谱信息，其波谱频域范围覆盖了生物大分子和凝聚态物质振动、转动能级的宽电磁波范围。大多数物质在此波段范围内具有非常丰富的吸收和色散性，即特征指纹谱。这些振动所反映的分子结构及其它相关信息都可以在其吸收峰位和吸收强度上有所反映。通过测量并分析这些物质的太赫兹信号，可以获得关于其物质成分、理化信息及生物学信息。太赫兹安全检测的原理是通过采集各种待检物品在太赫兹波段的特征指纹谱，将待检物品的太赫兹频段吸收谱与数据库内的标准指纹吸收谱数据进行比对并做出判别报警。近年来，太赫兹波安全监测技术在各类有机物和违禁物质(包括各类炸药、毒品等)的检测和分析领域得到了广泛的研究和应用。
[0004]样品在太赫兹安全检测过程中有着重要的作用，样品参数直接影响各种检测参数和检测结果。在太赫兹安全检测过程中，样品制备好以后一般被放置在位于太赫兹光路聚焦中心的固定样品支架上。在多个样品连续测量过程中，取放样品步骤繁琐、效率低，也容易造成样品损坏，进而影响检测结果的准确性。
[0005]因此，现有技术中需要一种能够解决由于取放样品步骤繁琐而导致检测效率低、准确性差的问题的技术方案。
实用新型内容
[0006]本实用新型的目的在于针对现有技术中存在的问题提供一种用于太赫兹安全检测系统的测试样品支架。
[0007]根据本实用新型的优选的实施例，提供一种测试样品支架，其包括底座组件和设置在底座组件上的样品平台组件。该测试样品支架还包括设置在底座组件上的用于使样品平台组件相对于底座组件运动的滑动组件。
[0008]根据本实用新型的测试样品支架可以用于太赫兹安全检测系统的样品测试，能够实现样品取放过程中的平滑的轨道运动，简化样品取放步骤、提高样品取放效率。该测试样品支架不仅能够在不对太赫兹发生器件以及太赫兹安全检测系统进行断电的情况下实现待检测样品的更换，而且能够大大地延长采用这种测试样品支架的样品测试系统的使用寿命O
[0009]根据本实用新型的测试样品支架的另一个优选的实施例，滑动组件包括固定地设置在底座组件上的导轨和能够相对于导轨运动的滑块组件。
[0010]在根据本实用新型的测试样品支架的再一个优选的实施例中，滑块组件包括与导轨滑动地配合的滑块和固定地设置在滑块上的平台。
[0011]根据本实用新型的测试样品支架的又一个优选的实施例，在平台的端部上设置有手柄，以便于手动操作。
[0012]在根据本实用新型的测试样品支架的还一个优选的实施例中，在底座组件与滑动组件之间设置有定位组件，用于限制所述滑块组件的运动以及定位样品平台组件的位置。
[0013]根据本实用新型的测试样品支架的另一个优选的实施例，定位组件包括设置在底座组件或滑块组件上的第一定位部件以及设置在底座组件和滑块组件中的另一个上的第二定位部件。
[0014]在根据本实用新型的测试样品支架的再一个优选的实施例中，第一定位部件和第二定位部件是磁性接合部件，两者通过彼此之间的作用力而接合在一起。通过磁性接合部件能够以非常简单的方式实现第一定位部件和第二定位部件之间的接合。
[0015]根据本实用新型的测试样品支架的又一个优选的实施例，第一定位部件以能够移位的方式设置在滑块组件上，第二定位部件固定地设置在底座组件上。通过调节第一定位部件在滑块组件上的位置可以使得设置在滑块组件上的样品台与激光光束对准，从而提高样品的测试精度和准确度。
[0016]在根据本实用新型的测试样品支架的还一个优选的实施例中，在导轨的第一部分的两侧设置有用于限制滑块组件的运动的限位块。限位块的设置可以限制滑块组件在导轨上的过渡滑动，从而防止滑块组件与导轨的破坏。
[0017]根据本实用新型的测试样品支架的另一个优选的实施例，样品平台组件包括固定地设置在滑块组件上的样品增高架和旋转地设置在样品增高架上的样品台。
[0018]在根据本实用新型的测试样品支架的还一个优选的实施例中，样品台能够通过相对于样品增高架旋转以实现自身高度的调节。可以通过使样品台相对于样品增高架旋转来实现样品台相对于样品增高架的高度的调节，从而实现整个样品平台组件的高度的调节，由此调节样品台及其内的样品的高度。
[0019]根据本实用新型的测试样品支架的另一个优选的实施例，样品台的顶部设置有凹形结构。通过凹形结构对待检测样品进行盛放和支承。
[0020]根据本实用新型的太赫兹安全检测系统的测试样品支架，由透波性能较好的聚四氟乙烯作材料经精加工成型制作而成，以有效减小支架本身对太赫兹安全检测系统的干扰。
[0021]根据本实用新型的测试样品支架，滑动组件能提高样品取放的精确性、简化测试过程中样品取放的步骤，提高测试效率，从而保证测试结果的准确性。此外，根据本实用新型的测试样品支架能有效减小支架本身对太赫兹安全检测系统的干扰。
【专利附图】
【附图说明】
[0022]通过以下参照附图而提供的【具体实施方式】部分，本实用新型的特征和优点将变得更加容易理解，在附图中:
[0023]图1是根据本实用新型的测试样品支架的主视图；
[0024]图2是图1中的根据本实用新型的测试样品支架沿线A-A截取的截面图；
[0025]图3是根据本实用新型的测试样品支架的俯视图。
【具体实施方式】
[0026]下面参照附图对本实用新型的示例性实施方式进行详细描述。对示例性实施方式的描述仅仅是出于示范目的，而绝不是对本实用新型及其应用或用法的限制。
[0027]如图1所示，根据本实用新型的优选的实施例，提供一种测试样品支架，其包括底座组件和设置在底座组件上的样品平台组件，其中，该测试样品支架还包括设置在底座组件上的用于使样品平台组件相对于底座组件运动的滑动组件。根据本实用新型的测试样品支架可以用作太赫兹安全检测系统的测试样品支架，当然其也可以用作其他样品检测过程中的样品支架。在根据本实用新型的测试样品支架中，测试样品支架由透波性能较好的聚四氟乙烯作材料经精加工成型制作而成。
[0028]以下参照附图1、2和3详细地说明根据本实用新型的测试样品支架的具体结构。测试样品支架的底座组件包括底座I和用于对底座I进行支承和/或固定的底座支脚14。如图3所示，底座I包括位于第一侧的第一底座部分1-1和位于第二侧的第二底座部分1-2，其中，第二底座部分1-2的宽度大于第一底座部分1-1的宽度。底座I的如上所述形式的结构不仅能够确保底座I具有牢固的结构，而且能够使得底座组件具有较小的质量，从而节省底座组件的制作材料，相应地降低了底座组件的制造成本。此外，还能够使底座组件具有较小的体积，由此使得根据本实用新型的测试样品支架能够用于具有较小安装空间的环境下。
[0029]测试样品支架的滑动组件包括导轨3和滑块组件，其中，滑块组件包括滑块11和平台10。在根据本实用新型的测试样品支架的实施例中，导轨3为直线导轨，其也可以根据实际情况设计成其他形状，比如可以为半圆形导轨、曲线形导轨以及其他形状的导轨。如图3所示，导轨3固定地设置在底座组件的底座I上，比如导轨3可以通过螺钉15安装在底座I上，本领域技术人员可以理解到，导轨3和底座I也可以通过焊接、铆接以及其他固定方式进行安装。如图2和图3所示，滑块组件的滑块11通过螺钉13与平台10连接在一起，在此滑块11也可以通过焊接、铆接等本领域已知的其他方式与平台10进行连接。
[0030]如图2所不,导轨3包括位于下部的导轨基部34和位于导轨基部34的上部的导轨部32。在导轨部32的外周上形成有与滑块11接合的凹槽，比如可以为半圆形凹槽。同时，在滑块11内形成有凸起，比如可以为半圆形凸起。当然，也可以在滑块11的内侧设置有滚珠，从而能够大大地减小导轨3的导轨部32与滑块之间的摩擦力。滑块11内的凸起或滚珠与导轨3的外周上的凹槽相互配合，从而保证滑块11沿着导轨3运动的精确性。在导轨3的一侧的端部设置有限位块2，用于限制滑块11沿着导轨3运动的极限位置。从图1中可以看出，限位块2设置在导轨3的靠近底座I的第二底座部分1-2的端部上。进一步地，固定地设置在滑块11上并且与滑块11 一起运动的平台10为长形结构，在平台10的远离限位块2 —侧设置有手柄102，手柄102可以用于对平台10施加作用力，从而使得平台10和滑块11沿着导轨3往复运动。
[0031]以下结合附图详细说明测试样品支架的样品平台组件的结构。如图1所示，样品平台组件包括与平台10螺纹地连接在一起的样品增高架7和可旋转地设置在样品增高架7上的样品台6。在样品增高架7的与平台10接合的端部上形成有螺纹部，比如在样品增高架7的端部上设置有螺杆，在平台10上设置有通孔或螺纹孔，然后利用与螺杆配合的螺母8将样品增高架7固定在平台10上。根据本实用新型的优选的实施例，在样品增高架7的螺杆的端部设置有限制螺母8的运动的限位片9，从而能够使螺母8牢固地固定在样品增高架7的螺杆上。样品台6能够相对固定地设置在样品增高架7上，同时，样品台6能够围绕自身的轴线旋转，比如，样品台6可以以能够旋转的方式设置在样品增高架7上，通过样品台6相对于样品增高架7的旋转实现样品台6相对于样品增高架7的高度的调节。比如在需要对样品台6进行高度调整时，可以使样品台6相对于样品增高架7旋转，从而使样品台6相对于样品增高架7产生高度方向的相对运动，由此能够实现样品平台组件的整体高度的调节。
[0032]样品台6的下部部分64可以为柱体结构，比如可以为长方体或圆柱体结构，样品台6的上部部分62为半球体或其他类似的结构。样品台6的半球体形状的上部部分62的球面坐置在下部部分64的上部。样品台6的上部部分62的顶部设置有凹部结构66，比如可以根据上部部分62的具体形状形成为半圆形凹部结构66，或者其他形状的凹部结构66。根据本领域技术人员所能够理解的，样品台6的上部部分62和下部部分64可以设置成其他形状，类似地，设置在上部部分62的顶部的凹部结构66也可以设置成具有其他形状。在根据本实用新型的优选的实施例中，样品增高架7可以包括套置在一起的第一主体部74和第二主体部72，如图1所示，样品增高架7的第一主体部74的尺寸大于第二主体部72的尺寸。有利地，第二主体部72可以以能够相对于第一主体部74滑动的方式设置在第一主体部74中。在此，样品增高架7也可以采用一体式结构，其高度是不能调节的。在需要调节样品台6的高度时，可以通过调节第二主体部72在第一主体部74内的位置进行。当然，也可以通过旋转样品台6来实现样品台高度的调节。
[0033]以下结合附图1详细说明根据本实用新型的测试样品支架的定位组件。定位组件包括设置在底座组件或滑块组件上的第一定位部件4以及设置在底座组件和滑块组件中的另一个上的第二定位部件5，优选地，第一定位部件4和第二定位部件5是磁性接合部件，两者通过彼此之间的作用力而接合在一起。根据本实用新型的测试样品支架，第一定位部件4的上部部分42通过螺钉12与平台10连接。有利地，第一定位部件4以能够相对于平台10运动的方式设置在平台10上。比如，可以在平台10的与第一定位部件4相接合的位置处设置有长形孔，而在第一定位部件4上固定地设置螺杆，可以通过使螺杆在平台10的长形孔内运动来实现第一定位部件4相对于平台10的位置的调节。类似地，也可以在第一定位部件4的上部部分42上设置长形孔，而将螺杆相对固定地设置在平台10上，通过使平台10上的螺杆在第一定位部件4的上部部分42中的长形孔内往复运动，实现第一定位部件4与平台10之间的相对位置的调节。
[0034]第二定位部件5固定地设置在底座I的与限位块2相反的端部上，第二定位部件5与第一定位部件4的下部部分44相对，并且与该下部部分44形成配合关系，从而使平台10和滑块11相对于底座组件进行定位。第一定位部件4的下部部分44和第二定位部件5在平台10的移动过程中可以实现接合与分离，进而对测试样品支架的样品平台组件进行限位和定位。另外，虽然在此以将第二定位部件5设置在底座组件上为例进行了说明，本领域技术人员可以理解的，第二定位部件5也可以设置在导轨3的端部，同样能够与设置在平台10的端部上的第一定位部件4实现接合，从而对平台10进行定位和限位。
[0035]以下将参照附图详细说明根据本实用新型的测试样品支架的组装步骤。首先，底座组件为整个测试样品支架的安装基础，因此需要将底座组件设置就位，使得底座I的第一底座部分1-1面向样品取用舱的舱门方向；然后，通过螺钉15将导轨3安装在底座I上，并与底座I的限位基准对齐，从而使得导轨3高精度地定位在底座I上；随后，在底座I或导轨3上安装限位块2，并且在底座I或导轨3上设置第二定位部件5 ;接着，将样品台6安装在样品增高架7的上端部上，样品增高架7的下端部与平台10连接，在此，将设置在样品增高架7的端部的螺杆插入到形成在平台10中的通孔内，并且利用螺母8将螺杆锁紧，接着安装限位片9，从而将样品增高架7牢固地设置在平台10上；随后，在平台10的与限位块2相反的端部上安装第一定位部件4 ;最后，将滑块11从导轨3的与限位块2相反的端部滑动地设置在导轨3上，从而使得滑块11能够在导轨3上自由地滑动。
[0036]根据本实用新型的测试样品支架的调整方法如下，首先使太赫兹聚焦光束的空间位置用可见激光光束替换，在样品台6的凹部内放置与待检样品相同尺寸的圆形样片，旋转样品台6使圆形样片的中心达到与激光光束等高的位置，调节平台10与导轨3的相对位置，使圆形样片中心与激光光束重合，稍微地旋转样品台6，使得圆形样片与激光光束垂直，调节第一定位部件4的位置使得第一定位部件4的下部部分44与第二定位部件5紧密地接合，然后用螺钉12将第二定位部件4锁紧；通过手柄102来回抽拉平台10数次，检查每次第一定位部件4的下部部分44与第二定位部件5紧密接合时，激光光束与圆形样片中心的偏差，将该偏差调整到小于1_。由此，完成了根据本实用新型的测试样品支架的组装操作。
[0037]根据本实用新型的测试样品支架的使用方法为，在太赫兹安全检测系统操作过程中需要取放样品时，无需断电或关闭太赫兹产生器件，直接打开太赫兹安全检测系统的光学舱的样品取用舱门，通过手柄102拉动平台10直至样品台6露出取样舱的舱门外，将样品台6的凹部结构66内的样品取出并进行更换，然后将平台10推回至第一定位部件4的下部部分44完全接合第二定位部件5。最后，关闭取样舱的舱门，查看温度和湿度是否状态正常，如果处于正常状态，即可开始新样品的检测操作。如此往复使用，由此快速高效地利用用于太赫兹安全检测系统的测试样品支架。
[0038]虽然在本文中以用于太赫兹安全检测系统的测试样品支架为例进行了说明，但是，本领域技术人员可以理解，根据本实用新型的测试样品支架可以用于其他领域的样品测试，比如可以用于化学领域的某些样品的测试操作，其可以通过在不为系统断电的情况下实现化学样品的更换，能够实现样品的连续检测。
[0039]根据本实用新型的用于太赫兹安全检测系统的测试样品支架能够以抽拉的方式实现测试样品的更换，从而能够在无需断电或关闭太赫兹产生器件的情况下，通过直接打开太赫兹安全检测系统的光学舱的样品取用舱门来实现样品的更换，由此通过非常高效的方式实现测试样品的更换。另外，由于无需对太赫兹安全检测系统进行断电操作或者关闭太赫兹产生器件，因此能够大大延长太赫兹产生器件以及太赫兹安全检测系统的使用寿命O
[0040]虽然参照示例性实施方式对本实用新型进行了描述，但是应当理解，本实用新型并不局限于文中详细描述和示出的【具体实施方式】，在不偏离权利要求书所限定的范围的情况下，本领域技术人员可以对所述示例性实施方式做出各种改变。
【权利要求】
1.一种测试样品支架，包括底座组件和设置在底座组件上的样品平台组件，其特征在于，所述测试样品支架还包括设置在所述底座组件上的用于使所述样品平台组件相对于所述底座组件运动的滑动组件。
2.如权利要求1所述的测试样品支架，其特征在于，所述滑动组件包括固定地设置在底座组件上的导轨(3)和能够相对于导轨(3)运动的滑块组件。
3.如权利要求2所述的测试样品支架，其特征在于，所述滑块组件包括与所述导轨(3)滑动地配合的滑块(11)和固定地设置在滑块(11)上的平台(10)。
4.如权利要求3所述的测试样品支架，其特征在于，在所述平台(10)的端部上设置有手柄(102) ο
5.如权利要求2所述的测试样品支架，其特征在于，在所述底座组件与所述滑动组件之间设置有定位组件。
6.如权利要求5所述的测试样品支架，其特征在于，所述定位组件包括设置在所述底座组件或所述滑块组件上的第一定位部件(42)以及设置在所述底座组件和所述滑块组件中的另一个上的第二定位部件(44)。
7.如权利要求6所述的测试样品支架，其特征在于，所述第一定位部件(42)和所述第二定位部件(44)是磁性接合部件，两者通过彼此之间的作用力而接合在一起。
8.如权利要求7所述的测试样品支架，其特征在于，所述第一定位部件(42)以能够移位的方式设置在所述滑块组件上，所述第二定位部件(44)固定地设置在所述底座组件上。
9.如权利要求2所述的测试样品支架，其特征在于，在所述导轨(3)的一侧的端部设置有用于限制所述滑块组件的运动的限位块(2)。
10.如权利要求2所述的测试样品支架，其特征在于，所述样品平台组件包括固定地设置在所述滑块组件上的样品增高架(7)和旋转地设置在所述样品增高架(7)上的样品台(6)。
11.如权利要求10所述的测试样品支架，其特征在于，所述样品台(6)能够通过相对于所述样品增高架(7)旋转以实现自身高度的调节。
12.如权利要求10或11所述的测试样品支架，其特征在于，所述样品台(6)的顶部设置有凹形结构。
【文档编号】G01N21/01GK204154628SQ201420489607
【公开日】2015年2月11日 申请日期:2014年8月27日 优先权日:2014年8月27日
【发明者】郑岩, 孙金海 申请人:北京环境特性研究所