1.一种用于测定填充材料(107)的体积或质量的方法，包括以下步骤：
在不存在填充材料的情况下采取空轮廓检测模式；
在不同方向上向所述填充材料的表面发射传输信号；
接收至少在所述填充材料的表面上被反射的传输信号；
从被反射并且随后被接收的传输信号生成回波曲线，并且检测相关传输信号沿其反射的对应方向；
从这些回波曲线测定干扰点轮廓，所述干扰点轮廓对应于干扰物体的位置；
当存在填充材料时采取体积或质量测定模式；
生成另一些回波曲线；
从所述另一些回波曲线并考虑所述干扰点轮廓来测定所述填充材料的体积或质量。
2.根据权利要求1所述的方法，还包括以下步骤：
从在所述空轮廓检测模式中生成的回波曲线并使用所述填充材料位于其内的容器的几何形状来测定所述干扰点轮廓。
3.根据前述权利要求中任一项所述的方法，还包括以下步骤：
从在所述空轮廓检测模式中生成的回波曲线测定整体轮廓，其中所述整体轮廓是容器轮廓和所述干扰点轮廓的组合；
从所述整体轮廓测定所述干扰点轮廓。
4.根据权利要求3所述的方法，
其中使用一致性分析从所述整体轮廓测定所述干扰点轮廓，以便将所述整体轮廓划分成容器轮廓和所述干扰点轮廓。
5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，还包括以下步骤：
在不存在填充材料且不存在干扰物体的情况下，从在所述空轮廓检测模式中生成的回波曲线测定所述填充材料位于其内的容器的几何形状。
6.根据前述权利要求中任一项所述的方法，还包括以下步骤：
从在所述体积或质量测定模式中生成的另一些回波曲线并且考虑所述填充材料位于其内的容器的几何形状来测定所述填充材料的体积或质量。
7.根据前述权利要求中任一项所述的方法，还包括以下步骤：
从在所述体积或质量测定模式中生成的另一些回波曲线测定表示所述填充材料的表面拓扑结构的拓扑曲线；
其中这个步骤包括将拓扑曲线的当从填充水平测量装置的天线观看时在干扰点后面的那些部分消除。
8.根据前述权利要求中任一项所述的方法，还包括以下步骤：
存储在所述空轮廓检测模式中生成的回波曲线。
9.根据前述权利要求中任一项所述的方法，还包括以下步骤：
当存在填充材料时采取所述空轮廓检测模式。
10.一种用于根据前述权利要求中任一项所述的方法来测定填充材料(107)的体积或质量的填充水平测量装置(105)。
11.根据权利要求10所述的填充水平测量装置(105)，
被设计成与4-20mA的双线传输线连接，所述双线传输线用于向所述填充水平测量装置供给测量操作所需要的能量，并且用于传输由所述填充水平测量装置生成的测量值。
12.一种程序单元，其中当所述程序单元在填充水平测量装置的处理器上执行时指示所述填充水平测量装置进行以下步骤：
在不存在填充材料的情况下采取空轮廓检测模式；
在不同方向上向所述填充材料的表面发射传输信号；
接收至少在所述填充材料的表面上被反射的传输信号；
从被反射并且随后被接收的传输信号生成回波曲线并存储所述回波曲线，并且检测相关传输信号沿其反射的对应方向；
从这些回波曲线测定干扰点轮廓，所述干扰点轮廓对应于干扰物体的位置；
当存在填充材料时采取体积或质量测定模式；
生成另一些回波曲线；
从所述另一些回波曲线并考虑所述干扰点轮廓来测定所述填充材料的体积或质量。
13.一种计算机可读介质，在所述计算机可读介质上存储有根据权利要求12所述的程序单元。