本发明涉及一种芯片测试PATTERN转换方法，属于半导体测试技术领域。
背景技术：
当前极大规模集成电路芯片测试是集成电路制造工艺中重要的一个环节；所用测试系统结构复杂而价格昂贵，在芯片测试之前，首先根据芯片的逻辑功能、性能技术指标确定测试系统型号，然后再基于测试系统开发测试程序、转换测试PATTERN(测试向量)，同时还有硬件设计制作等；一些芯片在芯片量产测试过程中，常常要根据产能、成本、不同测试项的需求，选择在不同型号测试系统上进行测试；一种芯片使用不同型号的测试系统就会对应不同的测试程序，但是所用的测试PATTERN逻辑、时序是相同的，只是因测试系统差异PATTERN格式、命令描述不同。人为修改PATTERN的格式，效率低，且正确率也无法保证，目前的芯片测试PATTERN文件巨大，手工也无法实现；本发明解决的就是把爱德万T2000(一种大规模测试系统型号)测试PATTERN转换为泰瑞达J750(一种大规模测试系统型号)测试PATTERN的一种简单效率高的方法。该方法适用于所有芯片，节省了大量人力，保证了原有PATTERN的正确性。
技术实现要素：
本发明涉及一种芯片测试PATTERN转换方法；步骤如下：
步骤一、创建J750测试系统pattern文件；
步骤二、读取T2000测试系统PATTERN头文件；
步骤三、把T2000的头文件转换成J750头文件格式、并保存到J750PATTERN文件中；
步骤四、读取T2000 PATTERN信息及命令；
步骤五、确定芯片管脚数量的同时可将PATTERN内容按芯片管脚名称或管脚属性(输入、输出、双向)进行重新排列；
步骤五、确定各行命令时可对PATTERN进行优化(多行合并为循环)，压缩文件；
步骤六、转换结束后保存到J750PATTERN中；
步骤七、按T2000的pattern文件命名J750的PATTERN文件；
步骤八、转换结束，保存J750PATTERN文件；
最后写入完成后与转换源文件进行校对。
本发明方法的亮点是确定各行命令时可对PATTERN进行优化(多行合并为循环)，压缩PATTERN文件、写入完成后与源文件进行校对，该方法已经在集成电路芯片测试线上应用，满足了测试需求，取得了好的效果；该方法适用于所有芯片的转换。
附图说明
下面结合附图和具体实施方案做进一步说明：
图1转换方法流程图
具体实施方式
本发明下面将结合附图作进一步详述：流程示意图如图1所示：
创建J750测试系统pattern文件；
读取T2000测试系统PATTERN头文件；
把T2000的头文件转换成J750头文件格式、并保存到J750PATTERN文件中；
针对T2000与J750对PATTERN头文件的不同要求进行转换，T2000PATTERN头文件格式：
J750PATTERN头文件格式：
转换PATTERN主题内容，读取T2000PATTERN信息及命令，第一种是针对T2000与J750对PATTERN中相同功能的不同命令写法，进行转换。如T2000中”NOP”对应J750中”tset_tmld”，等等，都是相同功能不同命令写法的例子。
第二种是针对T2000与J750对PATTERN中相同功能的不同命令格式，进行转换。
例子1：
T2000PATTERN格式如下：
而J750PATTERN格式如下：
例子2：
T2000PATTERN格式如下：
J750PATTERN格式如下：
确定芯片管脚数量的同时可将PATTERN内容按芯片管脚名称或管脚属性(输入、输出、双向)进行重新排列；
确定各行命令时可对PATTERN进行优化(多行合并为循环)，压缩文件大小；
运行转换程序
转换结束后保存到J750PATTERN中；
按T2000的PATTERN文件格式规则命名J750的PATTERN文件；
转换结束，保存J750PATTERN文件；
最后写入完成后与转换源文件进行校对。
本发明方法的亮点是确定各行命令时可对PATTERN进行优化(多行合并为循环)，压缩PATTERN文件、写入完成后与源文件进行校对。当前芯片的PATTERN文件都是几百兆甚至上G的大小，半导体测试是跟时间赛跑的一个行业，时间开销减少是本方法的重要亮点。本发明中只对PATTERN转换，至于时序等另有转换方法。