技术总结
一种检测缺陷光传感器的方法包括以下操作：‑收集数据，包括收集光传感器数据；‑在所收集的数据上执行准备过程以便确定模板；以及‑执行检测过程以用于确定光传感器状态。执行准备过程的操作包括在定义明确的条件下确定在构成一日的部分的时间段期间收集的光传感器数据的行为的模板。执行检测过程的操作包括以下操作：‑针对另外的若干日在对应的时间段期间收集光传感器数据；‑选择其代表性日；‑针对每一个所选日确定对应的行为；以及‑将对应的行为与模板进行比较以检测光传感器的任何缺陷。
技术研发人员：T.J.J.登特尼尔
受保护的技术使用者：飞利浦灯具控股公司
文档号码：201580011014
技术研发日：2015.02.16
技术公布日：2016.11.23