技术特征：
技术总结
本发明描述了球形本体检验设备（1），其包括，支撑布置结构（10、101），实现为在检验过程期间支撑球形本体（2）；探针布置结构（11A、11B、11C），包括绕球形本体（2）布置的多个UT探针（11A、11B、11C），使得所述UT探针（11A、11B、11C）将球形本体（2）的表面处的共同的测试点（P）定为目标；以及位移装置（100、110），用于产生球形本体（2）和探针布置结构（11A、11B、11C）之间的至少一个相对旋转位移（R2、R11）。本发明进一步描述检验球形本体（2）的方法。
技术研发人员：M.怀特;S.F.埃尔莫斯;B.佩德森
受保护的技术使用者：西门子公司;日食科学产品公司
技术研发日：2015.06.01
技术公布日：2018.04.20