一种基于CCD探测器的光学材料折射率测量装置的制作方法

本发明涉及光学领域，具体涉及一种基于ccd探测器的光学材料折射率测量装置。

背景技术：

光学材料的研制在光学领域属于基础研究，好的光学材料往往能够大大提升整个光学系统的性能。现有技术中，在生产光学材料时，需要对光学材料的折射率、均匀度等进行测量。但是现有的测量设备不能满足全部需要。

技术实现要素：

发明目的：本发明旨在克服现有技术的缺陷，提供一种基于ccd探测器的光学材料折射率测量装置。

技术方案：一种基于ccd探测器的折射率测量装置，包括水平导轨、设置在水平导轨上的滑块、水平基台、长方体的标准样品和与所述标准样品形状尺寸相同的被测样品；所述滑块上设有第一激光器、第二激光器和第三激光器，所述第一、二、三激光器发出两两互不相同的单色光，所述第一、二、三激光器发出的光平行，所述基台上设有第一ccd探测器和第二ccd探测器；当滑块在第一位置时，第一激光器的光线透过所述标准样品后在第一ccd探测器上形成第一光斑，第二激光器的光线透过所述标准样品后在第一ccd探测器上形成第二光斑，第三激光器的光线透过所述标准样品后在第一ccd探测器上形成第三光斑；当滑块在第二位置时，第一激光器的光线透过所述标准样品后在第二ccd探测器上形成第四光斑，第二激光器的光线透过所述标准样品后在第二ccd探测器上形成第五光斑，第三激光器的光线透过所述标准样品后在第二ccd探测器上形成第六光斑。

进一步地，所述测量装置还包括竖板，所述水平导轨固定在所述竖板上，所述竖板上还设有排成一条水平直线的4个固定块，所述标准样品放置在第一ccd探测器一侧的两个的固定块上，所述被测样品放置在第二ccd探测器一侧的两个固定块上。

进一步地，所述第一、二、三激光器发出的光与水平面呈45度角。

进一步地，所述第一、二ccd探测器为面阵ccd探测器。

进一步地，所述测量装置还包括控制器和显示器，当第一光斑和第二光斑之间的距离与第四光斑和第五光斑之间的距离不同，或者第二光斑和第三光斑之间的距离与第五光斑和第六光斑之间的距离不同时，控制器利用显示器提示被测样品不合格。

有益效果：本发明的光学材料折射率测量装置利用标准样品作为基准，测量简单，通过对标准样品和被测样品的比较就能够方便地检测出被测样品是否合格。

附图说明

图1为本发明测量装置在第一ccd探测器上形成光斑示意图；

图2为本发明测量装置在第二ccd探测器上形成光斑示意图。

具体实施方式

附图标记：1水平导轨；1.1滑块；2.1第一激光器；2.2第二激光器；2.3第三激光器；3标准样品；4被测样品；5.1第一ccd探测器；5.2第二ccd探测器；6基台；7竖板；8固定块。

一种基于ccd探测器的折射率测量装置，包括水平导轨1、设置在水平导轨1上的滑块1.1、水平基台6、长方体的标准样品3和与所述标准样品3形状尺寸相同的被测样品4；所述滑块1.1上设有第一激光器2.1、第二激光器2.2和第三激光器2.3，所述第一、二、三激光器发出两两互不相同的单色光，所述第一、二、三激光器发出的光平行，所述基台6上设有第一ccd探测器5.1和第二ccd探测器5.2；当滑块1.1在第一位置时，第一激光器2.1的光线透过所述标准样品3后在第一ccd探测器5.1上形成第一光斑，第二激光器2.2的光线透过所述标准样品3后在第一ccd探测器5.1上形成第二光斑，第三激光器2.3的光线透过所述标准样品3后在第一ccd探测器5.1上形成第三光斑；当滑块1.1在第二位置时，第一激光器2.1的光线透过所述标准样品4后在第二ccd探测器5.2上形成第四光斑，第二激光器2.2的光线透过所述标准样品4后在第二ccd探测器5.2上形成第五光斑，第三激光器2.3的光线透过所述标准样品4后在第二ccd探测器5.2上形成第六光斑。所述测量装置还包括竖板7，所述水平导轨1固定在所述竖板7上，所述竖板7上还设有排成一条水平直线的4个固定块8，所述标准样品3放置在第一ccd探测器5.1一侧的两个的固定块上，所述被测样品4放置在第二ccd探测器5.2一侧的两个固定块上。所述第一、二、 三激光器发出的光与水平面呈45度角。所述第一、二ccd探测器为面阵ccd探测器。所述测量装置还包括控制器和显示器，当第一光斑和第二光斑之间的距离与第四光斑和第五光斑之间的距离不同，或者第二光斑和第三光斑之间的距离与第五光斑和第六光斑之间的距离不同时，控制器利用显示器提示被测样品不合格。

测量时，如果被测样品合格，那么形成的三个光斑的分布和测量标准样品时应该是一样的，如果形成的光斑的分布，具体体现为光斑之间的距离不一样，那么被测样品肯定是不合格的。

尽管本发明就优选实施方式进行了示意和描述，但本领域的技术人员应当理解，只要不超出本发明的权利要求所限定的范围，可以对本发明进行各种变化和修改。

技术特征：

技术总结
本发明公开了一种基于CCD探测器的光学材料折射率测量装置，包括水平导轨、设置在水平导轨上的滑块、水平基台、长方体的标准样品和与所述标准样品形状尺寸相同的被测样品；所述滑块上设有第一激光器、第二激光器和第三激光器，所述第一、二、三激光器发出两两互不相同的单色光，所述第一、二、三激光器发出的光平行，所述基台上设有第一CCD探测器和第二CCD探测器；当滑块在第一位置时，第一CCD探测器上形成三个光斑；当滑块在第二位置时，第二CCD探测器上形成三个光斑。本发明的装置使用方便，测量准确。

技术研发人员：张启龙
受保护的技术使用者：扬州维姆科技有限公司
技术研发日：2016.05.11
技术公布日：2017.11.21