一种实验室设备能效测试方法及系统与流程

文档序号:11131953阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种实验室设备能效测试系统,其特征在于,包括被测设备、电能表和能效测试负载装置;

所述能效测试负载装置设置在被测设备内腔,能效测试负载装置内设有功率可调的阻性电热元件,能效测试负载装置外设有测温传感器;

所述电能表串联在被测设备的输入电路中,用于检测所述能效测试负载装置外设的测温传感器的温度变化不同阶段所述被测设备的耗电量,以及预设条件下的阻性电热元件功率和被测设备功率。

2.根据权利要求1所述的一种实验室设备能效测试系统,其特征在于,所述能效测试负载装置是正六面体结构,每个面上分布着至少一个测温传感器。

3.根据权利要求1所述的一种实验室设备能效测试系统,其特征在于,所述能效测试负载装置的材料是密度稳定且导热的材料。

4.根据权利要求3所述的一种实验室设备能效测试系统,其特征在于,所述能效测试负载装置的材料是铝合金或不锈钢。

5.根据权利要求1-4任意一项所述的一种实验室设备能效测试系统,其特征在于,所述能效测试负载装置设置在被测设备内腔的几何中心点,所述能效测试负载装置的体积不大于被测设备内腔体积的二分之一。

6.根据权利要求1-4任意一项所述的一种实验室设备能效测试系统,其特征在于,还包括支撑装置,所述支撑装置是不导热材料,位于能效测试负载装置下部。

7.一种实验室设备能效测试方法,其特征在于,包括如下步骤:

S1,搭建如权利要求1-6任一项所述的一种实验室设备能效测试系统的测试环境;

S2,通过设置被测设备的工作状态使能效测试负载装置外设的测温传感器获取的温度稳定在第一预设温度,关闭被测设备的制冷功能,将加热功能开至最大,记录能效测试负载装置外设的测温传感器获取的温度从第一预设温度升至第二预设温度的耗电量W1;

S3,待能效测试负载装置外设的测温传感器获取的温度恢复至第一预设温度,再关闭加热功能,将制冷功能开到最大,记录测温传感器的温度从第一预设温度降至第三预设温度的耗电量W2;

S4,测温传感器的温度维持第三预设温度,同时开启加热和制冷功能,逐渐增大能效测试负载装置中的阻性电热元件功率,直至被测设备无法使测温传感器的温度再次实现温度稳定,记录此时所述能效测试负载装置中的阻性电热元件功率W,以及被测设备功率W3;

S5,根据耗电量W1、耗电量W2、功率W和功率W3计算能效指标。

8.根据权利要求7所述的一种实验室设备能效测试方法,其特征在于,所述第一预设温度与第二预设温度的温度差值范围是5℃至50℃,第三预设温度范围与第一预设温度的温度差值范围是5℃至50℃。

9.根据权利要求8所述的一种实验室设备能效测试方法,其特征在于,所述第一预设温度范围是0℃至35℃,第二预设温度范围是5℃至85℃,第三预设温度范围是-5℃至-50℃。

10.根据权利要求7所述的一种实验室设备能效测试方法,其特征在于,所述计算能效指标包括:计算加热能力的能效指标,计算制冷能力的能效指标,计算恒温能力的能效指标,所述加热能力的能效指标计算是:E=20·c·m/w1;制冷能力的能效指标计算是:E=30·c·m/w2;恒温能力的能效指标计算是:E=w/w3,其中C为能效测试负载装置的电容,m为能效测试负载装置的质量。

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