技术特征：
技术总结
本发明涉及一种可精确测量易变形件尺寸的结构和方法及底座，所述结构用于对测量装置的两个测量端进行卡接定位；所述结构包括第一测量筋和第二测量筋，所述第一测量筋和第二测量筋固定在易变形件的被测量区域上，所述第一测量筋上设有用于卡接测量装置一个测量端的第一卡位部，所述第二测量筋上设有用于卡接测量装置另一个测量端的第二卡位部。本发明通过在易变形件的被测量区域上设置两个测量筋，且在测量筋上设置卡位部，在通过卡尺等测量工具测量时，方便测量工具的定位；且方便易变形件、形状不规则、被测量区域都是弧度或圆角或斜面等易变形件的尺寸测量，有利于生产控制。
技术研发人员：付正庭;朱传斌;陈显怀;黎国柱;陈伟;袁伟;吴育权;瞿月红
受保护的技术使用者：佛山市顺德区美的电热电器制造有限公司
技术研发日：2016.10.14
技术公布日：2018.04.24