一种针对LM-80的积分球测试装置的制作方法

本实用新型涉及LED老化和老化后的测试技术领域，尤其涉及一种针对LM-80的积分球测试装置。

背景技术：

Led灯因具有环保、节能和寿命长的优点，在各领域得到迅速的推广和应用，有逐步取代传统照明成为主要光源的趋势。Led灯在认证时（如进行LM80标准认证）要进行严格的光衰和寿命测试。LM-80标准认证是关于LED光源流明维护率测量的认定方法，总共要进行3个温度的老化和测试，老化过程通常在老化箱中进行，测试过程通常在积分球中进行，每个温度都必须要有20-30个灯珠，而测试的过程需要将灯珠从老化箱中取出逐一放入积分球进行测试，效率很低，除初始值必须测试1次外，每1000小时均需要从老化设备里取出来测试，总测试时间为6000小时，因此在不死灯的情况下，至少需要测试的总量为：3（温度）*20个（灯珠）*7次=420次，这是一项繁重的工作，故此业内亟需开发一种可以高效测试LED灯珠光衰和寿命的积分球测试装置。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种针对LM-80的积分球测试装置，以解决现有技术中积分球测试装置需要逐一将LED试件装入积分球进行测试而造成的效率低下的问题。

本实用新型的目的是这样实现的，提供一种针对LM-80的积分球测试装置，包括：用于形成均匀照度的积分球、可拆卸地固定在所述积分球球壁上的测试基板、固定在测试基板朝向积分球球心一面上的多个LED试件、固定在与LED试件相对的另一侧球壁上的光谱仪探头、与所述光谱仪探头电连接的光谱仪、以及与所述测试基板顺次串联的第一开关和电源。

进一步，所述测试基板背离积分球球心的一侧设有一制冷模块，所述制冷模块与第二开关和电源顺次连接。

进一步，所述第一开关为一组与LED试件数量相同的开关，一个开关控制一个LED试件。

进一步，所述第一开关为可编程逻辑控制器。

进一步，所述测试基板上设有至少与LED试件数量相等的多个焊接位置，每个焊接位置包括一正极端和一负极端，LED试件的正极与测试基板的正极端焊接，LED试件的负极与测试基板的负极端焊接。

进一步，所述测试基板为铝基板。

进一步，所述制冷模块为半导体制冷片。

本实用新型提出的针对LM-80的积分球测试装置将多个LED试件集成起来，全部焊接在测试基板上，同一温度下的老化完成后，将测试基板整板置入积分球中，即可通过一次装载测试基板同时安装多个LED试件，此时打开第一开关，逐一点亮LED试件，即可测试LED试件的光通量，本实用新型避免了现有技术中测试一个LED试件就需要打开积分球安装一次LED试件的问题，直接将多个LED试件焊接在测试基板上，大大方便了LED试件的老化和测试，提高了测试LED试件光通量的效率。此外，本实用新型在测试基板背离球心的一侧设有一制冷模块，制冷模块可以将LED试件和测试基板维持在设定的温度，保证测出的LED试件的流明维护率更加准确。

附图说明

图1为本实用新型一实施例的结构示意图；

图2为测试基板的接线图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本实用新型进一步进行说明。

如图1所示，本实用新型一实施例提出的针对LM-80的积分球测试装置包括：积分球1，光谱仪2，测试基板3和制冷模块4，测试基板3可拆卸固定在积分球球壁上，测试基板3朝向球心的一侧固定多个LED试件5，光谱仪2的探头6安装在与LED试件相对的另一侧球壁的中心，测试基板与电源7之间设有控制LED试件打开与关闭的第一开关8。制冷模块4安装在测试基板3背离球心的一侧，制冷模块与第二开关9和电源顺次连接。具体测试LED试件光通量的步骤为：打开积分球门10，将焊接好LED试件的测试基板装入积分球，按下第一开关，LED试件逐一点亮，光谱仪对LED试件的光通量进行测试。按下第二开关，制冷模块开始工作，将温度自动维持在设定的温度，本实施例中制冷模块为半导体制冷片，半导体制冷片将积分球内部因LED试件发光产生的热量从积分球内沿散热片11转移至积分球外部。积分球的作用是将LED试件发出的光均匀化，使得球内表面各处的光一致，这样，测量单位面积上的照度值，乘以内表面积，就得到光源的光通量。

现结合图2对本实用新型的工作原理进行说明。本实施例中测试基板为铝基板，LED试件为LED灯珠。LM80标准要求三个测试温度下，6000小时后仍要有20颗老化灯珠，因此，开始时每个温度老化的LED灯珠应为25-30颗，以防止老化过程中出现死灯。首先，将这25-30颗LED灯珠焊接在测试使用的铝基板上，将整板LED灯珠放置在老化设备中老化，老化到1000小时的时候从老化设备中整板取出，并在本实用新型的积分球里安装好，打开第一开关，光谱仪开始对LED灯珠的光通量进行测试。本实施例中铝基板上有30个焊接位，分别编号为01-30号，每一个焊接位包括一正极端和一负极端，LED灯珠的正极与测试基板的正极端焊接，LED灯珠的负极与测试基板的负极端焊接。+1，+2，+3，+4……分别代表LED灯珠1,2,3,4……的正极，-1，-2，-3，-4……分别代表LED灯珠1,2,3,4……的负极，本实施例中的第一开关是由30个分别控制01-30号焊接位的开关组成，当按下某一序号的开关时，相应序号的焊接位与电源接通，相应焊接位上的LED灯珠点亮，开始进行测试。当此序号的LED灯珠测试完毕后，不需要打开积分球更换LED灯珠，关闭此焊接位的开关，开启下一序号的开关即可继续进行测试。此外，LED灯珠测试的顺序可以按照1、2、3、4序号递增的顺序进行，也可以按照某种规律进行，如先按照1、3、5……递增奇数顺序进行；30、28、26……递减偶数列进行；或者无序进行等等，但基本的要求是测试时，有且仅有一个焊接位上的LED灯珠在发光。第一开关还可以为PLC（可编程逻辑控制器），预先设好LED灯珠的数量和每个LED灯珠的点亮时间，启动PLC后，LED灯珠测试进入自动模式，所有LED灯珠逐个点亮，如果需要循环点亮，将PLC设为循环启动即可。

当按下第二开关时，铝基板后方设置的制冷模块开始工作，可以将铝基板和LED灯珠的温度维持在设定的温度，保证测试结果的准确。

以前同一温度下每测试一个LED灯珠的光通量就要打开一次积分球，拆下已测的LED灯珠，换接上另一个LED灯珠，至少20颗的LED灯珠，和7次的检测（测试的总时间为6000小时，每1000小时测一次，初始状态测一次，共计7次），合计不少于140次的装卸，将会带来繁琐的工作，也可能给LED灯珠带来污染，影响光通量。使用本专利将只有7次的装卸，大大节约时间，减少劳动强度和对LED灯珠的污染，真实地反映LED试件光通量的变化。

以上结合具体实施例描述了本实用新型的技术原理。这些描述只是为了解释本实用新型的原理，而不能以任何方式解释为对本实用新型保护范围的限制。基于此处的解释，本领域的技术人员不需要付出创造性的劳动即可联想到本实用新型的其它具体实施方式，这些方式都将落入本实用新型的保护范围之内。