一种基于TOF技术的声速剖面仪的制作方法

文档序号:11985841阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种基于TOF技术的声速剖面仪,其特征在于:所述声速剖面仪包括以TDC_GP22芯片(1)为核心的时间、温度测量模块,外接换能器(2)、温度传感器(3),TDC_GP22芯片(1)发射脉冲信号至换能器(2),换能器(2)发射出超声波并接收回波信号,返回给TDC_GP22芯片(1),通过TDC_GP22芯片(1)的第一波检测功能检测到所需的回波信号,得出回波的往返时间,完成时间测量;TDC_GP22芯片(1)通过放电时间测量得出温度传感器(3)的电阻变化量,完成温度测量。

2.根据权利要求1所述的基于TOF技术的声速剖面仪,其特征在于:所述声速剖面仪还包括以单片机为核心的数据处理模块,用于控制TDC_GP22芯片(1)工作,将时间测量结果传回给单片机进行声速值的精确计算。

3.根据权利要求1所述的基于TOF技术的声速剖面仪,其特征在于:所述时间测量过程中超声波的发射和接收采用共用一个换能器(2)。

4.根据权利要求1所述的基于TOF技术的声速剖面仪,其特征在于:所述TDC_GP22芯片(1)有一个PICOSTRAIN基础的温度测量单元。

5.根据权利要求1所述的基于TOF技术的声速剖面仪,其特征在于:所述温度值的计算公式如下:

<mrow> <mi>T</mi> <mo>=</mo> <mfrac> <mrow> <mo>-</mo> <msub> <mi>R</mi> <mn>0</mn> </msub> <mo>*</mo> <mi>A</mi> <mo>+</mo> <msqrt> <mrow> <msup> <mrow> <mo>(</mo> <msub> <mi>R</mi> <mn>0</mn> </msub> <mo>*</mo> <mi>A</mi> <mo>)</mo> </mrow> <mn>2</mn> </msup> <mo>-</mo> <mn>4</mn> <mo>*</mo> <msub> <mi>R</mi> <mn>0</mn> </msub> <mo>*</mo> <mi>B</mi> <mo>*</mo> <mrow> <mo>(</mo> <msub> <mi>R</mi> <mn>0</mn> </msub> <mo>-</mo> <msub> <mi>R</mi> <mrow> <mi>R</mi> <mi>T</mi> <mi>D</mi> </mrow> </msub> <mo>)</mo> </mrow> </mrow> </msqrt> </mrow> <mrow> <mn>2</mn> <mo>*</mo> <msub> <mi>R</mi> <mn>0</mn> </msub> <mo>*</mo> <mi>B</mi> </mrow> </mfrac> </mrow>

其中,A和B是铂电阻的已知参数,其量级分别为10-3和10-7,R0是0℃时铂电阻的阻抗值,RRTD是当前温度下铂电阻的阻抗值,T是要测的温度。

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