本实用新型涉及一种晶振片检测机，特别是一种晶振片检测机电极检测机构。
背景技术：
晶振片主要应用在膜厚控制仪器领域，薄薄圆圆的晶振片来源于多面体石英棒，先被切成六面体棒，再经过反复的切割和研磨，石英棒最终被做成一堆薄薄的石英片，每个石英片经切边、抛光和清洗，最后镀上金属电极成为晶振片，适用于不同应力膜料的镀膜控制。
目前的加工工艺不能保证所有的晶振片都是合格的，因而难免会出现少部分有瑕疵的晶振片，为了将这些有瑕疵的晶振片挑出就必须通过检测，以前都是通过人工将晶振片取出然后放入一个带圆形槽的铜座中固定，铜座中具有三个凸起的触点，触点与晶振片接触，且该触点与导体检测设备连接，检测设备加载检测电流于晶振片上，然后通过收集加载了检测电流的晶振片上所产生的负载阻抗及电容等各项参数与预定的参数进行对比，从而判定晶振片是否合格。上述过程比较耗费时间，因而单位时间检测的晶振片数量少；而且在检测拿取过程中，容易造成晶振片划伤而导致晶振片无法使用。
综上所述，以前的检测工艺耗费了大量人力及时间，也相应大大增加了企业的成本。因而有必要设计一款能够自动检测晶振片的晶振片检测机来解决上述问题，而本申请是针对晶振片检测机电极检测机构提出，从而在晶振片的检测步骤中实现自动化。
技术实现要素：
为了克服现有技术的不足，本实用新型提供一种晶振片检测机电极检测机构。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：
晶振片检测机电极检测机构，其特征在于：包括设置于机台上的电机座，电机座上设有轴孔及安装有驱动电机，所述驱动电机的电机轴一端穿过轴孔与位于轴孔另一侧的偏心块偏心连接，该偏心块上偏心设有偏心轴，所述电机座上还设有通过滑动机构与电机座连接的升降滑板，该升降滑板上设有导孔，所述偏心轴的一端位于导孔中，且升降滑板上设有电路板，电路板上设有探测晶振片的检测针及连接有导线，且检测针通过导线与检测设备电连接，所述驱动电机通过驱动偏心块转动而带动偏心轴转动，而偏心轴通过与导孔的配合而带动升降滑板升降，从而带动电路板及检测针升降。
所述电机座及升降滑板间设有拉簧，该拉簧的一端与电机座固定，且拉簧的另一端与升降滑板固定。
所述滑动机构包括安装于电机座上的导轨及设置于升降滑板上的滑槽，所述滑槽与导轨滑动配合。
所述导孔为长条形孔。
所述偏心轴的端部安装有滚轮。
本实用新型的有益效果是：本实用新型通过驱动电机带动偏心块及偏心轴转动, 偏心轴在转动时会带动升降滑板移动,且通过偏心轴与升降滑板上的导孔的配合能够使偏心轴的旋转运动分解为升降滑板的升降运动,从而实现在有晶振片的时候升降滑板能够带动电路板及检测针下降检测，同时并通过导线将数据传送于检测设备；而检测完成后驱动电机反转,从而带动电路板及检测针上升复位,上述不仅能够自动完成晶振片的检测步骤，而且结构简单可靠、易加工装配及维护、并且成本低廉,避免了采用一些复杂精密的传动结构所带来的装配工艺高及成本高的缺点。
附图说明
下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
图1是本实用新型的剖面示意图。
具体实施方式
参照图1，本实用新型公开了一种晶振片检测机电极检测机构，包括设置于机台1上的电机座，电机座3上有安装板，安装板上设有轴孔，且安装板的一侧固定安装有驱动电机2，驱动电机2的电机轴4一端穿过轴孔与位于轴孔另一侧的矩形偏心块5偏心连接，该偏心块5上偏心设有偏心轴6，所述电机座3上还设有通过滑动机构与电机座3连接的升降滑板7，该升降滑板7上设有导孔，该导孔为一长条形孔，所述偏心轴6的一端位于导孔中，且升降滑板7上设有电路板8，电路板8上设有探测晶振片的两根检测针9及连接有导线，且检测针9通过导线与检测设备电连接，所述驱动电机2通过驱动偏心块5转动而带动偏心轴6转动，而偏心轴6通过与导孔的配合而带动升降滑板7升降，从而带动电路板8及检测针9升降。
滑动机构的具体结构在于：滑动机构包括安装于电机座3上的导轨及设置于升降滑板7上的滑槽，所述滑槽与导轨滑动配合，当然上述只是一种具体结构，滑动机构还可以是直线导轨与滑块。
作为本结构的优选，偏心轴6的端部安装有滚轮，该滚轮也可为一轴承，这样在偏心轴6转动时为滚动摩擦而不会与导孔内壁产生滑动摩擦，从而避免两者间有大的磨损，从而延长了部件的使用寿命。
作为本结构的优选，所述电机座3及升降滑板7间设有拉簧，该拉簧的一端与电机座3固定，且拉簧的另一端与升降滑板7固定，因电机在转动时很难控制检测针9与晶振片接触时的压力，压力过大晶振片易碎，压力过小又会造成接触不良，而且更重要的是电机在转动过程中突然收到反向阻力使其停止的话容易烧毁电机，因而我们设计电机只旋转到一定角度使检测针9移动到与晶振片接近的位置，余下的行程通过拉簧拉动升降滑板7下移而使检测针9下移与晶振片接触，而接触的压力我们可以通过选择弹簧的长度及线径来控制，从而调节方便，不会造成晶振片易碎或接触不良的缺陷。
本结构的工作原理简述如下：本实用新型通过驱动电机2带动偏心块5及偏心轴6转动, 偏心轴6位于升降滑板7上的导孔内其移动受导孔的限制相对于导孔的运动只能是横移，因而其到完成转动就必须要通过导孔的上下移动配合才能实现，因而偏心轴6在转动时会通过导孔带动升降滑板7上下移动, 从而实现在有晶振片的时候通过偏心轴6与导孔的配合而使升降滑板7下降，从而能够带动电路板8及检测针9下降检测，同时并通过导线将数据传送于检测设备；而检测完成后驱动电机2反转,从而带动电路板8及检测针9上升复位,上述不仅能够自动完成晶振片的检测步骤，而且结构简单可靠、易加工装配及维护、并且成本低廉,避免了采用一些复杂精密的传动结构所带来的装配工艺高及成本高的缺点。
以上对本实用新型实施例所提供的一种晶振片检测机电极检测机构，进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本实用新型的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。