本实用新型涉及直插LED自动封胶生产线技术领域，尤其涉及一种发光二极管晶高检测机构。
背景技术：
众所周知，直插式发光二极管的自动封胶生产线包括以下生产流程：灌胶-插入支架-辅压-烘烤-离模，其中，在辅压处理过程中，发光二极管晶高检测机构会在同步调整多个晶片分别在相应的胶体内的高度同时，同步检测多个发光二级管的晶高(即晶片在胶体内的高度)是否符合一定的标准范围，由于其对多个晶片进行同步调整及同步检测，因而其对辅压机构主体的平衡度要求很高，需确保铝船及模条一定要与压板平行，并且相对距离一定。而现有的发光二极管晶高检测机构，其压板水平位置不可调整，同时铝船并不是机械加工成型，是挤出成型，本身就有尺寸误差，且在生产过程中底部会有杂物，导致两者位置不可时刻保持平行，而发光二极管产品的晶高要求是正负0.3mm，因而，现有的发光二极管晶高检测机构的检测功能误报率超过95％，严重影响生产效率。
技术实现要素：
本实用新型的目的在于提供了一种发光二极管晶高检测机构，其可准确完成发光二极管的晶高检测工作。
本实用新型是这样实现的：
一种发光二极管晶高检测机构，包括升降座体、驱动所述升降座体升降的辅压气缸、安设在所述升降座体上的辅压机构主体以及设于所述辅压机构主体正下方的铝船，所述辅压机构主体包括支架板体、两相对设于所述支架板体上的晶高调整检测结构以及两对称设于所述支架板体的两外侧上的基准导柱，所述支架板体的中心位置通过轴承与所述升降座体旋转连接，所述铝船的底部设有两与所述两基准导柱相对设置的水平基准面。
作为上述发光二极管晶高检测机构的改进，每一所述晶高调整检测结构包括光电感应器、感应器挡片、滑轨轴承、压板以及拉簧，所述压板上设有高度调节条形槽，所述压板通过所述高度调节条形槽与螺栓的配合与所述滑轨轴承的滑块一侧紧固连接，所述感应器挡片与所述滑轨轴承的滑块另一侧紧固连接，且所述感应器挡片通过所述拉簧连接所述支架板体的底侧。
作为上述发光二极管晶高检测机构的改进，还包括放置于所述铝船的底部上的模条，所述模条上设有若干放置支架的支架插槽。
作为上述发光二极管晶高检测机构的改进，每一所述晶高调整检测结构的压板到所述模条上放置的所述支架的距离小于每一所述基准导柱到相应的所述水平基准面的距离。
本实用新型的有益效果是：本实用新型提供的发光二极管晶高检测机构，其辅压机构主体的支架板体的中心位置通过轴承与升降座体旋转连接，而支架板体的两外侧分别对称设置一基准导柱，同时，铝船的底部设有两与两基准导柱相对设置的水平基准面，使得辅压机构主体可在两基准导柱与两水平基准面的配合调整下自旋以与铝船及铝船上的模条保持相对平行状态，以确保其晶高调整检测结构在完成多个晶片在胶体内的高度调整的同时，准确完成发光二极管的晶高检测工作。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型发光二极管晶高检测机构一种较佳实施例的整体结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
如图1所示，本实施例提供一种发光二极管晶高检测机构1，发光二极管晶高检测机构1包括升降座体11、驱动升降座体11升降的辅压气缸12、安设在升降座体11上的辅压机构主体13以及设于辅压机构主体13正下方的铝船14，辅压机构主体13包括支架板体131、两相对设于支架板体131上的晶高调整检测结构132以及两对称设于支架板体131的两外侧上的基准导柱133，支架板体131的中心位置通过轴承15与升降座体11旋转连接，铝船14的底部设有两与两基准导柱133相对设置的水平基准面(未图示)。
在本实施例中，如图1所示，每一晶高调整检测结构132包括光电感应器1321、感应器挡片1322、滑轨轴承1323、压板1324以及拉簧1325，压板1324上设有高度调节条形槽13241，压板1324通过高度调节条形槽13241与螺栓(未图示)的配合与滑轨轴承1323的滑块一侧紧固连接，感应器挡片1322与滑轨轴承1323的滑块另一侧紧固连接，且感应器挡片1322通过拉簧1325连接支架板体131的底侧。本发光二极管晶高检测机构1还包括放置于铝船14的底部上的模条16，模条16上设有若干放置支架2的支架插槽。每一晶高调整检测结构132的压板1324到模条16上放置的支架2的距离小于每一基准导柱133到相应的水平基准面的距离。
工作时，如图1所示，将带支架2的多个发光二极管模组对应插在模条16上的支架插槽，然后通过高度调节条形槽13241与螺栓的配合调整每一晶高调整检测结构132的压板1324的高度，确保每一晶高调整检测结构132的压板1324到支架2的距离相等，且每一晶高调整检测结构132的压板1324到支架2的距离小于每一基准导柱133到相应的水平基准面的距离，这样一来，当辅压气缸12驱动升降座体11带动辅压机构主体13下降时，每一晶高调整检测结构132的压板1324首先与支架2接触，接着，辅压机构主体13继续下降，两基准导柱133分别与相应的水平基准面水平接触，此时，辅压机构主体13停止下降，支架板体131通过轴承15的自旋微调作用来确保辅压机构主体13与铝船及铝船上的模条保持相对平行状态，与之同时，每一晶高调整检测结构132的压板1324在支架2的阻力下带动滑轨轴承1323的滑块及感应器挡片1322上移，此时，若模条16上的每一发光二极管模组的晶片在胶体内的高度符合要求，则感应器挡片1322上移的高度不会触发光电感应器1321，否则，感应器挡片1322上移的高度会触发光电感应器1321，停机报警，以便人工检查。
本实施例提供的发光二极管晶高检测机构，其辅压机构主体的支架板体的中心位置通过轴承与升降座体旋转连接，而支架板体的两外侧分别对称设置一基准导柱，同时，铝船的底部设有两与两基准导柱相对设置的水平基准面，使得辅压机构主体可在两基准导柱与两水平基准面的配合调整下自旋以与铝船及铝船上的模条保持相对平行状态，以确保其晶高调整检测结构在完成多个晶片在胶体内的高度调整的同时，准确完成发光二极管的晶高检测工作。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。