比色皿承载件的制作方法

本发明涉及一种用于保持样本比色皿(cuvette)的承载件，尤其涉及一种具有光学偏振部件的比色皿承载件。

背景技术：

动态光散射(DLS)是一种用于测量颗粒例如纳米材料和纳米颗粒的大小的强大技术。通常，将含有颗粒的悬浮液或溶液置于透明的样本比色皿中，并用竖向偏振的激光束照射。从颗粒沿着特定方向散射的光在与入射光的偏振正交的平面中被检测到，并且使用大众熟知的方法来分析该散射的光以确定颗粒的性质。从颗粒沿任何方向散射的光——诸如前向散射光、后向散射光和/或侧向散射光(例如与入射光成90°的散射光)——都可以被检测。

动态光散射进一步发展为去偏振式动态光散射(DDLS)，这种去偏振式动态光散射试图量化来自偏离均匀折射率范围的颗粒——诸如棒状颗粒、椭球颗粒、盘形或球形Janus颗粒——的散射的各向异性。在DDLS中，检测散射光的特定偏振。例如，可以用竖向偏振光照射样本，并且在每个散射偏振中沿着检测路径单独地检测散射光的相关函数。

有许多实验室仪器可以执行动态光散射，诸如Malvern系列。然而，这些仪器可能无法测量散射光的不同偏振状态，因此不能执行去偏振式动态光散射测量。升级系统硬件或完全更换系统以执行DDLS可能是不令人期望地昂贵的。

技术实现要素：

根据本发明的第一方面，提供了一种比色皿承载件，该比色皿承载件包括：限定用于比色皿的容纳空间(holding volume，保持容积、保持空间)的多个壁；包含在该多个壁中的第一透射区域和第二透射区域；以及被布置成使穿过第一透射区域的光偏振的第一光学偏振器。

本文使用的术语“偏振器”是指使光的具有特定偏振的分量通过并且(至少部分地)阻挡光的具有其他偏振的分量的滤光器。术语“偏振”是指用偏振器对光进行过滤，以便使光的具有特定偏振的分量优先通过，同时至少部分地阻挡光的具有其他偏振的分量。

第二透射区域可以用于照射容纳空间内的区域，并且第一透射区域可以用于检测来自所述区域的散射光。

可以使用这样的比色皿承载件来改进现有的仪器，以允许使用光学偏振器检测散射光的偏振来执行DDLS测量。特别地，该比色皿承载件可以装配到现有DLS测量系统的比色皿保持器中。然后可以将容纳有样本的比色皿放入比色皿承载件中。

在一些实施方式中，比色皿承载件可以另外包括第二光学偏振器，该第二光学偏振器被布置为使穿过第二透射区域的光偏振。第一光学偏振器的偏振轴线可以正交于第二光学偏振器的偏振轴线，或者可以平行于第二光学偏振器的偏振轴线。

第二光学偏振器可用于例如使进入比色皿承载件中的比色皿的光在被比色皿中的样本散射之前偏振。可替代地，第二光学偏振器可与第一偏振器结合使用以检测被样本散射的光的偏振。

第一透射区域和第二透射区域可以位于多个壁中的第一壁中。当第一偏振器被用于检测来自样本的后向散射光的偏振，并且第二偏振器被用于使进入样本的光束偏振时，这可能是特别有益的。

在一些实施方式中，比色皿承载件可以进一步包括：位于多个壁中的第二壁中的第三透射区域；以及被布置为使穿过第三透射区域的光偏振的第三光学偏振器。在一些实施方式中，第三光学偏振器的偏振轴线可以正交于第一光学偏振器的偏振轴线，或者可以平行于第一光学偏振器的偏振轴线。第三光学偏振器可以用于例如使侧向散射光偏振，该侧向散射光由已经被通过第二透射区域照射的样本散射。检测器例如DLS仪器中的检测器然后可以检测到作为DDLS实验的一部分的经偏振的侧向散射光。

另外，比色皿承载件可以包括第四透射区域，并且可选地包括第四光学偏振器，该第四光学偏振器被布置为使穿过第四透射区域的光偏振。例如，第四透射区域可以提供用于照射容纳空间内的区域的装置，并且第三透射区域用于检测来自容纳空间内的被照射区域的散射光。

在一些这样的实施方式中，第四光学偏振器的偏振轴线可以平行于第二光学偏振器的偏振轴线。

第四透射区域可以位于第二壁中。在根据该实施方式的使用比色皿承载件的一个示例中，第二透射区域和第四透射区域可以被用作用于使光进入比色皿的窗口。第一偏振器和第三偏振器可以用于使由光束——该光束已分别通过第二透射区域和第四透射区域进入比色皿承载件——与比色皿承载件中的样本的相互作用产生的后向散射光偏振。特别地，第一偏振器和第三偏振器的偏振轴线可以被调准成彼此正交，使得例如该比色皿承载件的一个偏振器仅可以透射散射光的横向分量，并且另一个偏振器仅可以透射散射光的竖向分量。经由第二透射区域和第四透射区域进入比色皿承载件的光的偏振可以通过包括第二光学偏振器和第四光学偏振器来控制，第二光学偏振器和第四光学偏振器被调准为具有平行的偏振轴线，使得总是用具有相同偏振的光照射样本。

通过旋转比色皿承载件，可以检测该散射光的两个分量，并因此可以在改进的系统中执行完整的DDLS测量。

在一些实施方式中，第一壁可以与第二壁相邻。例如，当后向散射光如上所述待测量时，可能是这种情况。可替代地，第一壁可以与第二壁相对。该设置可以用于例如检测前向散射光的偏振：穿过第二透射区域且由样本前向散射的光可以穿过第三光学偏振器并被第三光学偏振器偏振，并且穿过第四透射区域且由样本前向散射的光可以穿过第一光学偏振器并被第一光学偏振器偏振。然后该偏振光可以由检测器例如DLS仪器中的检测器检测到。

在一些实施方式中，第四透射区域可以位于第三壁中，其中第三壁与第二壁相对。这种设置可以用于例如检测侧向散射光的偏振。例如，穿过该第二透射区域且被样本侧向散射的光可以穿过该第三光学偏振器并且被该第三光学偏振器偏振，以及穿过该第四透射区域且被样本侧向散射的光可以穿过第一光学偏振器并被该第一光学偏振器偏振。然后该偏振光可以由检测器例如DLS仪器中的检测器检测到。

在一些实施方式中，各个透射区域可以位于多个壁中的不同壁中。例如，第一透射区域可以与第三透射区域相对，并且第二透射区域与第四透射区域相对。

在一些实施方式中，第一透射区域、第二透射区域、第三透射区域或第四透射区域中的至少一个可以包括壁中的孔。可替代地，任何透射区域都可以包括光学部件，例如窗口或透镜。第一光学偏振器、第二光学偏振器、第三光学偏振器或第四光学偏振器中的至少一个可以被布置为使分别穿过第一透射区域、第二透射区域、第三透射区域或第四透射区域的光全部偏振。

第一透射区域和第二透射区域可以彼此相邻，以便形成连续的透射区域。例如，第一透射区域和第二透射区域可以包括第一壁中的单个孔的单独部分。类似地，第三透射区域和第四透射区域可以彼此相邻，以便形成连续的透射区域。

一个或多个光学偏振器可以被配置为使来自电磁光谱的紫外区域、可见区域或近红外区域的光——例如波长在280nm至2000nm的范围内的光——透射。

在一些实施方式中，多个壁可以限定基本上立方形的容纳空间。容纳空间可以适于接收标准大小的比色皿，例如10mm×10mm的样本比色皿。比色皿承载件可以进一步包括适于可拆卸地装配到容纳空间中的插入件，该插入件包括限定内部空间的多个壁，该内部空间比容纳空间小。例如，插入件的内部空间的内部尺寸可以是大约3mm×3mm。该插入件可以允许比色皿承载件与不同大小的比色皿或较小的玻璃毛细管适配。例如，大型比色皿可以在没有将插入件插入容纳空间中的情况下装配到容纳空间中，而较小的比色皿可能需要将插入件插入容纳空间中，该较小的比色皿由插入件保持。

比色皿承载件的外部形状可以是基本上立方形的。比色皿承载件的外部水平横向(cross，横跨)区域可具有大约12.5mm×12.5mm的尺寸。这些尺寸与标准大型比色皿的尺寸相匹配，因此这些尺寸的比色皿承载件可以装配到现有DLS系统的比色皿保持器中，以允许容易地对DLS系统进行改进。

多个壁可以包括金属，例如铝或不锈钢。多个壁可以被保护涂层基本上覆盖。例如，如果多个壁包括铝，保护涂层可以是阳极氧化层。金属结构有助于与现有DLS系统的单元区域(cell area)热接触。

在一些实施方式中，比色皿承载件可以进一步包括窄带滤光器，该窄带滤光器被布置为对穿过第一透射区域和/或第三透射区域的光进行过滤。特别地，该窄带滤光器可以适于允许使与用于DLS测量的照射光源波长相同的光透射。该窄带滤光器可以例如允许使波长在照射光源的波长±1nm的范围内的光透射。这对于排除荧光是有益的，否则荧光会将噪声引入DLS测量。

在一些实施方式中，光学偏振器中的至少一个可以被配置为可由用户移除。例如，用户可以用一不同的光学偏振器来代替该光学偏振器，或者可以旋转光学偏振器以使偏振器的偏振轴线旋转。

根据本发明的第二方面，提供了一种用于通过光散射测量样本的粒度(partical size，粒径)分布的装置，包括：用于产生光束的光源；根据本发明的第一方面的任何实施方式的比色皿；以及用于检测散射光的检测器。

根据本发明的第三方面，提供了一种测试液体样本的光学性质的方法，该方法包括：将样本置于比色皿中；将该比色皿置于比色皿承载件中，该比色皿承载件包括限定用于比色皿的容纳空间的多个壁、包含在多个壁中的第一透射区域和第二透射区域、以及被布置为使穿过第一透射区域的光偏振的第一光学偏振器；用来自光源的测试光束照射样本，该测试光束穿过比色皿承载件的第二透射区域；以及检测从样本散射的穿过第一光学偏振器的光。

在一些实施方式中，可以检测从样本后向散射、侧向散射或前向散射的光。

该方法可以进一步包括用替代(replacement，替补)光学偏振器来替换第一光学偏振器，该替代光学偏振器的偏振轴线正交于第一光学偏振器的偏振轴线；以及检测从样本散射的穿过该替代光学偏振器的光。

可替代地，比色皿承载件可以进一步包括第三透射区域、第四透射区域和第三光学偏振器，该第三光学偏振器被布置为使穿过该第三透射区域的光偏振，该方法进一步包括：旋转该比色皿承载件，使得测试光束穿过比色皿承载件的第四透射区域；并检测从样本散射的穿过第三光学偏振器的光。以这种方式可以检测散射光的横向分量和竖向分量二者，并将该二者用于去偏振式动态光散射分析。

具体实施方式

以下通过示例并参照附图来更详细地描述本发明，在附图中：

图1是根据本发明的第一方面的比色皿承载件的示意图，其中带有用于置于该比色皿承载件中的比色皿；

图2a是比色皿承载件的实施方式的示意图；

图2b是比色皿承载件的与图2a中相同的实施方式的示意图，其中与图2a相比被旋转了90°。

图3是可替代比色皿承载件的示意图；

图4是用于测量侧向散射光的比色皿承载件的实施方式的俯视图；以及

图5是用于测量侧向散射光的比色皿承载件的可替代实施方式的俯视图。

图1示出了根据本发明的第一方面的比色皿承载件100的示例性实施方式。比色皿承载件100包括限定容纳空间102的多个壁101a至101d。在所示的实施方式中，比色皿承载件100包括四个等宽的壁，该四个等宽的壁被布置为形成具有方形截面的容纳空间102。然而，在其他实施方式中，其他数量的壁是可能的，以形成另外形状的容纳空间。例如，比色皿承载件100可以包括1、2、3、5或6个壁。壁101可以是等宽的，或者可以是不等宽的。

多个壁中的第一壁101a包括第一透射区域103(由图1中的虚线示出)和第二透射区域104。第一偏振滤光器105完全覆盖该第一透射区域103，使得穿过第一透射区域103的任何光都穿过第一偏振滤光器105。在该实施方式中，第二透射区域104是壁101a中的孔，以允许光穿入容纳空间102。在所示实施方式中，第一透射区域103和该第二透射区域104形成穿过第一壁101a的单个孔，但是在其他实施方式中，这些区域可以是分开的。

多个壁中的第二壁101b包括第三透射区域106(由图1中的虚线示出)和第四透射区域107。第三偏振滤光器108完全覆盖该第三透射区域106，使得穿过第三透射区域106的任何光都穿过该第三偏振滤光器108。在所示出的实施方式中，类似于第一壁101a中的第一透射区域103和第二透射区域104，该第三透射区域106和第四透射区域107在第二壁101b中形成单个孔。

多个壁中的第三壁101c可以包括第五透射区域111(在图1中未示出，但在图2B中可见)，以用于允许通过第二透射区域104进入比色皿承载件100的光束离开比色皿承载件100(例如，为了在散射光的测量中避免光束反射造成的光噪声)。类似地，多个壁中的第四壁101d可以包括第六透射区域(未示出)，以用于允许通过第四透射区域107进入比色皿承载件100的光束离开比色皿承载件100。

将第五透射区域111设置成与第二透射区域104相对或者将第六透射区域设置成与第四透射区域相对不是必要的。在可替代的布置中，可以在比色皿承载件100内代替地设置反射器元件，该反射器元件被布置成使得经由第二透射区域进入比色皿承载件100的光束经由第二透射区域(或第四透射区域，或任何其他合适的透射区域)离开该比色皿承载件，并且可以设置类似的反射器，该类似的反射器被布置成使得经由第四透射区域进入比色皿承载件100的光束经由第四透射区域(或第二透射区域，或者任何其他合适的透射区域)离开比色皿承载件。其他实施方式可以被布置成使得经由第二透射区域或第四透射区域进入的光束可以分别经由第四透射区域或第二透射区域离开比色皿承载件。

比色皿承载件100可以用于研究比色皿109中的样本的去偏振式动态光散射(DDLS)性质。比色皿109可以置于容纳空间102中。然后可以将该比色皿承载件100置于DLS仪器中，使得来自光源的光束照射比色皿109中的样本。例如，比色皿承载件100可以置于现有DLS系统的比色皿承载件中，以改进用于DDLS测量的DLS系统。

图2A和图2B示出了图1所示的比色皿承载件可以用于DDLS测量的一种方式。在该实施方式中，第一偏振滤光器105被调准(align，调整、对准)成使得该第一偏振滤光器使光正交于下述方向偏振，这样的方向为穿过第三偏振滤光器108的光的偏振方向。例如，该第一偏振滤光器105可以使光竖向地偏振，并且该第三偏振滤光器108可以使光横向地偏振。在图2A和图2B中，这些方向由散射光束202上的箭头表示。

图2A示出了测量的第一步。来自外部光源的入射光201被用于照射比色皿承载件中的样本。该光源可以是例如激光，例如作为现有DLS实验系统的一部分的激光。该光源可以提供波长在280nm至2000nm的范围内的光。

入射光201穿过第二透射区域104，并进入容纳空间102。保持在容纳空间102中的样本内的颗粒可以使光散射。光可以在任何方向上散射，然而在所示的具体实施方式中仅测量后向散射光——例如散射在距入射光201的方向160°至200°的范围内的光。该后向散射光202穿过第一透射区域103，并被第一光学偏振器105偏振。基本上仅散射光202的被偏振在与第一光学偏振器105的偏振轴线同一方向上的分量会穿过光学偏振器105。在图示的实施方式中，仅后向散射光202的竖向偏振分量穿过偏振器105，并且可以被检测器检测到。该检测器可以例如是光电二极管，并且可以是现有DLS仪器的检测器。

穿过第二透射区域104的入射光201可以经由第五透射区域111离开容纳空间102。

可以测量散射光的横向偏振分量。这在图2B中示出。比色皿承载件100可以旋转90°，使得第二壁101b面向照射光201。这可以手动实现，例如通过以下过程来实现：从DLS系统的比色皿保持器中移除比色皿承载件100，将比色皿承载件100旋转90°，并且将比色皿承载件100放回到比色皿保持器中。可替代地，可以使用马达来自动旋转比色皿承载件100。可替代地，可以使比色皿承载件100保持固定，但是使入射光201的方向旋转90°，使得第二壁101b被照射。

在图2B中，入射光201穿过第四透射区域107，并在容纳空间104中被样本散射。再者，在所示实施方式中，仅测量后向散射光。后向散射光202穿过第三透射区域106，并且被第三光学偏振器108偏振，使得仅后向散射光202的横向偏振分量穿过偏振器108。然后该光可以由检测器检测到。

穿过第四透射区域107的入射光201可以经由第六透射区域(未示出)离开容纳空间102。

以这种方式，散射光的竖向分量和横向分量都可以被测量。结合这些测量，可以计算后向散射光的偏振，并将其用于DDLS计算。

在一些情况下，确保照射光具有已获知的偏振状态可能是重要的。如果光源不是激光，则情况尤其如此。图3示出了可以在这种情况下使用的比色皿承载件300的可替代的实施方式。

比色皿承载件300包括比色皿承载件100的全部特征。另外，第二光学偏振器301覆盖第二透射区域104，并且第四光学偏振器302覆盖第四透射区域107。该第二光学偏振器301和该第四光学偏振器302可以特别地被调准成使得它们使光沿着相同的轴线偏振——例如，两个偏振器301、302均可以使光横向偏振，或者两个偏振器301、302均可以使光竖向偏振。

比色皿承载件300可以与针对比色皿承载件100所描述的相同的方式用于后向散射光的DDLS测量。在这种情况下，进入第二透射区域104或第四透射区域107的入射光201在进入样本之前，将分别穿过第二光学偏振器301和第四光学偏振器302。该入射光因此将沿已获知的方向偏振。

上面的示例仅描述了后向散射光的测量。然而，本领域技术人员将容易理解，使用类似于上述测量的方法，比色皿承载件可以适于检测以任何角度散射的光。例如，第一透射区域、第二透射区域、第三透射区域和第四透射区域中的任何一个以及它们相应的光学偏振器可以位于比色皿承载件的多个壁中的任何一个中，以便检测任何方向的散射光。特别地，在第一透射区域的第一光学偏振器可以用于使由穿过第二透射区域的光束与样本的相互作用产生的散射光偏振，并且在第三透射区域的第三光学偏振器可以用于使由穿过第四透射区域的光束与样本的相互作用产生的散射光偏振。在任何实施方式中，如上所述，第二透射区域和第四透射区域可以由第二光学偏振器和第四光学偏振器覆盖，以确保进入样本的光具有已获知的且普通的偏振。

例如，图4示出了比色皿承载件400的实施方式，其可用于测量侧向散射光，即从入射光的方向散射大致70°至110°的光。在比色皿承载件400中，各个透射部分401至404位于多个壁405a至405d中的不同壁中。第一透射部分401位于第一壁405a中。第二透射部分402位于与第一壁405a相邻的第二壁405b中。第三透射部分403位于与第一壁405a相对的第三壁405c中。第四透射部分位于与第二壁405b相对的第四壁405d中。第二透射部分402和第四透射部分404可以被或者可以不被第二光学偏振器和第四光学偏振器覆盖。

使用比色皿承载件400的DDLS测量可以与用于比色皿承载件100的方法类似的方式进行。第一光学偏振器406的偏振轴线和第三光学偏振器407的偏振轴线被调准成彼此正交，例如该第一光学偏振器406可以被调准为仅透射竖向偏振光，而该第三光学偏振器可以被调准为仅透射横向偏振光(在图中由散射光束409a和409b上的V和H分别指示)。

在第一步中，测量竖向偏振的侧向散射光。入射光束408穿过第二透射区域402，并被比色皿承载件400中的样本散射。侧向散射光线409a穿过第一透射区域401。该侧向散射光线409a的竖向偏振分量穿过第一光学偏振器406，并由检测器检测到。穿过第二透射区域402的入射光束408可以经由第四透射区域404离开比色皿承载件100。

在第二步中，测量横向偏振的侧向散射光。比色皿承载件旋转180°，使得入射光束408穿过第四透射区域404，并被比色皿承载件400中的样本散射。侧向散射光409b穿过第三透射区域403。穿过第四透射区域404的入射光束408可以经由第二透射区域402离开比色皿承载件100。侧向散射光409b的横向偏振分量穿过第三光学偏振器407，并由检测器检测到。因此，可以测量侧向散射光的竖向分量和横向分量二者，并将该二者用于DDLS分析。

图5示出了使用比色皿承载件500来测量侧向散射光的替代方法。比色皿承载件500包括分别位于多个壁中的第一壁504a、第二壁504b、第三壁505c和第四壁505d的第一透射区域501、第二透射区域502、第三透射区域503和第四透射区域504。在该用于测量侧向散射光的实施方式中，第一壁504a与第二壁504b相邻，第三壁504c与第二壁504b相邻并且与第一壁504a相对。第四壁505d与第二壁504b相对。

各个透射部分501、502、503被相应的光学偏振器505、506、507覆盖。第四透射区域504没有被光学偏振器覆盖。第一光学偏振器505和第二光学偏振器506被调准成使光沿着相同的轴线偏振——例如竖向地偏振。第三光学偏振器507被调准成使光沿着与第一偏振器505和第二偏振器506的轴线正交的轴线偏振——例如横向地偏振。

在该示例中，为了DDLS测量，首先将比色皿承载件500布置为使得入射光508穿过第一光学偏振器505和第一透射区域501，以确保进入样本的光被竖向地偏振。然后，光被样本中的颗粒侧向散射。经由第一透射区域501进入比色皿的且未被样本散射的入射光508经由第三透射区域503离开比色皿承载件500。侧向散射光509a穿过第二透射区域502，并被第二偏振器506偏振，使得仅竖向偏振的侧向散射光509a穿过第二偏振器并由检测器检测到。

为了测量侧向散射光的横向分量，可以将比色皿承载件500旋转90°，使得入射光508现通过第二透射区域502进入样本。第二光学偏振器502将确保仅竖向偏振的入射光508被透射到样本中。经由第二透射区域502进入比色皿的且未被样本散射的入射光508经由第四透射区域504离开比色皿承载件500。被样本侧向散射的光然后穿过第三透射区域503。第三光学偏振器507仅允许侧向散射光509b的横向分量被透射，然后该横向分量由检测器检测到。因此，可以使用仅三个透射区域来测量侧向散射光的竖向分量和横向分量。

应当理解，上述实施方式仅是根据本发明的比色皿承载件的示例，并且在本发明的范围内，比色皿承载件以及将它们用于DDLS测量的方法的许多其他实施方式都是可能的。特别地，可以选择透射区域的布置以测量以任何角度散射的光，包括后向散射光、侧向散射光和前向散射光。比色皿承载件可以包括四个以上的透射区域和相应的光学偏振器，以使单个比色皿承载件能够用于测量散射光的不同方向。该光学偏振器可以是可由用户移除或更换的。例如，第二偏振器和第四偏振器可以是可移除的，或者可以改变任何偏振器的任何方向来使它们的偏振轴线旋转。

另外，任何实施方式都可以进一步包括至少一个窄带滤光器，该至少一个滤光器覆盖至少一个透射区域，并且特别地覆盖在待检测的散射光的路径上的透射区域。窄带滤光器可以允许波长在照射光源的波长±1nm的范围内的光透射。在样本在光源照射下发荧光的情况下可能需要窄带滤光器。荧光是不相关的，并由此劣化了DLS测量。该窄带滤光器可以从散射光束中基本上去除荧光。该窄带滤光器可以由用户移除，使得当样本在照射波长下不发荧光时避免由于滤光器造成的不必要的损失。

其他实施方式有意地位于由所附权利要求限定的本发明的范围内。

权利要求书(按照条约第19条的修改)

1.一种使用去偏振式动态光散射来测量样本的粒度分布的装置，包括：

用于产生光束的光源；

比色皿承载件，所述比色皿承载件包括：

限定用于比色皿的容纳空间的多个壁；

包含在所述多个壁中的第一透射区域和第二透射区域，所述第一透射区域位于所述多个壁中的第一壁中；以及

被布置为使穿过所述第一透射区域的光偏振的第一光学偏振器；

置于所述比色皿承载件的所述容纳空间中的比色皿；以及

用于检测穿过所述第一光学偏振器的散射光的检测器。

2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述第一透射区域和第二透射区域位于所述多个壁中的所述第一壁中。

3.一种装置，包括：

比色皿承载件，所述比色皿承载件包括：

限定用于比色皿的容纳空间的多个壁；

包含在所述多个壁中的第一透射区域和第二透射区域；以及

被布置为使穿过所述第一透射区域的光偏振的第一光学偏振器；

其中，所述第一透射区域和第二透射区域位于所述多个壁中的第一壁中，并且所述比色皿承载件用于以下述方式对位于所述比色皿承载件内的比色皿中的样本执行去偏振式动态光散射测量，所述方式为通过所述第二透射区域照射所述样本并且通过所述第一透射区域检测散射光。

4.根据任一项前述权利要求所述的装置，还包括第二光学偏振器，所述第二光学偏振器被布置为使穿过所述第二透射区域的光偏振，所述第一光学偏振器的偏振轴线可选地正交于所述第二光学偏振器的偏振轴线。

5.根据任一项前述权利要求所述的装置，还包括：

位于所述多个壁中的第二壁中的第三透射区域；以及

被布置为使穿过所述第三透射区域的光偏振的第三光学偏振器。

6.根据权利要求5所述的装置，其中，所述第三光学偏振器的偏振轴线正交于所述第一光学偏振器的偏振轴线。

7.根据权利要求5或权利要求6所述的装置，还包括第四透射区域。

8.根据权利要求7所述的装置，其中，所述装置被配置为执行：

第一测量，在所述第一测量中，来自所述光源的光束穿过所述第二透射区域，并且所述检测器检测穿过所述第一光学偏振器的散射光；以及

第二测量，在所述第二测量中，所述比色皿承载件被旋转，使得所述光束穿过所述第四透射区域，并且所述检测器检测穿过所述第三光学偏振器的散射光。

9.根据权利要求7或8所述的装置，还包括第四光学偏振器，所述第四光学偏振器被布置为使穿过所述第四透射区域的光偏振。

10.根据权利要求7至9中的任一项所述的装置，其中，所述第四透射区域位于所述第二壁中。

11.根据权利要求5至10中的任一项所述的装置，其中，所述第一壁与所述第二壁相邻。

12.根据任一项前述权利要求所述的装置，其中，所述第一透射区域、第二透射区域、第三透射区域或第四透射区域中的至少一个包括壁中的孔。

13.根据任一项前述权利要求所述的装置，其中，所述第一透射区域和第二透射区域彼此相邻，以便形成连续的透射区域。

14.根据权利要求7至13中的任一项所述的装置，其中，所述第三透射区域和第四透射区域彼此相邻，以便形成连续的透射区域。

15.根据任一项前述权利要求所述的装置，还包括适于装配到所述容纳空间中的插入件，所述插入件包括限定比所述容纳空间小的内部空间的多个壁。

16.一种使用去偏振式动态光散射来表征分散在样本中的颗粒的方法，所述方法包括：

将所述样本置于比色皿中；

将所述比色皿置于比色皿承载件中，所述比色皿承载件包括：

限定用于比色皿的容纳空间的多个壁；

包含在所述多个壁中的第一透射区域和第二透射区域，所述第一透射区域位于所述多个壁中的第一壁中；以及

被布置为使穿过所述第一透射区域的光偏振的第一光学偏振器；

用来自光源的光束照射所述样本，所述光束穿过所述比色皿承载件的所述第二透射区域；以及

检测来自所述样本的、由所述光束与所述颗粒的相互作用产生的散射光，所述散射光穿过所述第一光学偏振器。

17.根据权利要求16所述的方法，其中，检测后向散射光、侧向散射光或前向散射光。

18.根据权利要求16或17所述的方法，其中，所述方法还包括：

用替代光学偏振器替换所述第一光学偏振器，所述替代光学偏振器的偏振轴线正交于所述第一光学偏振器的偏振轴线；以及

检测从所述样本散射的穿过所述替代光学偏振器的光。

19.根据权利要求16或17所述的方法，其中，所述比色皿承载件还包括第三透射区域、第四透射区域和第二光学偏振器，所述第二光学偏振器被布置为使穿过所述第三透射区域的光偏振，所述方法还包括：

旋转所述比色皿承载件，使得光束穿过所述比色皿承载件的所述第四透射区域；以及

检测从所述样本散射的穿过所述第三光学偏振器的光。

20.根据权利要求16至19中的任一项所述的方法，包括使用根据权利要求1至15中的任一项所述的装置。