本发明属于三维测量技术领域，涉及一种三维测量仪用结构光投影方法。
背景技术：
结构光法三维测量技术采用特定投射装置向被测物体投射带有一定结构的光线,并拍摄经被测物体表面调制而发生变形的结构光图像,然后从携带有被测物体表面三维形貌信息的图像中计算出被测物体的三维形貌数据。结构光法非接触、分辨率高、提供全场信息、无破坏、无人工干预测量、数据获取速度快、应用范围广、便于实现自动化等优点，而被公认为在实际的科研及生产实践中最有前景的三维轮廓测量方法。目前主流的投影方式可分为计算机投影方式，但是商用的投影仪动辄几十万，价格昂贵，不利于大范围推广。
技术实现要素：
本发明的目的是针对现有技术的不足，提供一种三维测量仪用结构光投影方法，包括：
步骤1.通过绘图软件生成结构光图案并打印；
步骤2.用胶片照相机拍摄所述结构光图案；
步骤3.冲洗所述胶片；
步骤4.搭建三维测量平台，包括，设置投影屏，在所述投影屏的一侧设置光源，在所述投影屏和所述光源之间设置光学透镜，调整所述光学透镜位置，使得所述光源位于所述光学透镜的焦点处，在所述光学透镜与所述投影屏之间设置胶片，并调整所述胶片的位置，使得所述光源发出的光线通过所述光学透镜和所述胶片后，在所述投影屏上形成清晰的图像；
步骤5.将被测量物放置于所述胶片和所述投影屏之间，并且置于所述平台的光学通路中，在所述投影屏上形成清晰的图像。
进一步的，所述步骤1的绘图软件为Matlab。
进一步的，所述步骤1的所述结构光图案为正弦结构光图案。
进一步的，所述步骤2和所述步骤3的所述胶片为彩色胶片。
进一步的，所述步骤2和所述步骤3的所述胶片为黑白胶片。
进一步的，所述步骤4的所述光源为单色LED光源。
进一步的，所述步骤4还包括在所述光源附近设置散热器。
进一步的，所述步骤4的所述投影屏与电脑连接，通过电脑接收投影图像，并通过软件对所述图像进行测量。
本发明的有益效果为：
采用胶片配合平行光路能够实现结构光的投影，降低了基于结构光方式的三维测量仪的成本，定型生产后有利于未来产品的成本控制，有利于市场竞争。
附图说明
图1为所述投影方法的示意图。
图中：1-光源，2-光学透镜，3-胶片，4-被测量物，5-投影屏。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式，对本发明作进一步的说明。
实施例一
所述投影方法，如图1所示，包括，
步骤1.通过绘图软件生成结构光图案并打印；
步骤2.用胶片照相机拍摄所述结构光图案；
步骤3.冲洗所述胶片3；
步骤4.搭建三维测量平台，包括，设置投影屏5，在所述投影屏5的一侧设置光源1，在所述投影屏5和所述光源1之间设置光学透镜2，调整所述光学透镜2位置，使得所述光源1位于所述光学透镜2的焦点处，在所述光学透镜2与所述投影屏5之间设置胶片3，并调整所述胶片3的位置，使得所述光源1发出的光线通过所述光学透镜2和所述胶片3后，在所述投影屏5上形成清晰的图像；
步骤5.将被测量物4放置于所述胶片3和所述投影屏5之间，并且置于所述平台的光学通路中，在所述投影屏5上形成清晰的图像。
进一步的，所述步骤1的绘图软件为Matlab。
进一步的，所述步骤1的所述结构光图案为正弦结构光图案。
进一步的，所述步骤2和所述步骤3的所述胶片3为彩色胶片。
进一步的，所述步骤2和所述步骤3的所述胶片3为黑白胶片。
进一步的，所述步骤4的所述光源1为单色LED光源。
进一步的，所述步骤4还包括在所述光源1附近设置散热器。
进一步的，所述步骤4的所述投影屏5与电脑连接，通过电脑接收投影图像，并通过软件对所述图像进行测量。
本发明并不限于上述实施方式，在不背离本发明实质内容的情况下，本领域技术人员可以想到的任何变形、改进、替换均落入本发明的保护范围。