一种MMC子模块加速寿命的试验电路及方法与流程

技术特征：

技术总结
本发明提供了一种MMC子模块加速寿命的试验电路及方法，该试验电路为H桥型结构，其包括：设于H桥连接处的电感、分别与桥臂的两端相连的PWM波控制单元和电容，直流电源与桥臂一侧的两端并联。本发明的试验方法充分利用了加速寿命原理，提高了试验效率，节省时间。

技术研发人员：查鲲鹏;曹均正;闻福岳;屈海涛;李兴哲
受保护的技术使用者：中电普瑞电力工程有限公司
技术研发日：2017.03.15
技术公布日：2018.10.09