技术特征：
技术总结
本发明提供了一种基于光学频率梳的微波频率测量方法及装置，属于微波频率测量方法及装置技术领域。本发明的方法，由激光器产生频率为fc的激光信号分为两部分，其中一部分由频率为fRF的未知RF信号对其进行载波抑制双边带调制；载波抑制双边带调制信号与失谐光频梳在一个窄带光电探测器上进行拍频；对拍频信号的频谱进行分析，获取这两个拍品信号的频率信息及功率信息；根据已确定的i，f1，f2，及式(7)即可确定入射RF信号的频率。本发明的装置包括激光器、第一耦合器、强度调制器、可编程滤波器、掺铒光纤放大器、双平行调制器、信号发生器、电学耦合器、相移器、光电探测器、频谱仪、第二耦合器、第三耦合器和第四耦合器。
技术研发人员：沈志强;张勇;曹力;赵远;吴昊;贺群淞
受保护的技术使用者：哈尔滨工业大学
技术研发日：2017.03.21
技术公布日：2017.07.18