技术特征：
技术总结
本发明公开了一种硬标签质量参数检测电路，包括主控模块、激励信号产生模块、DA模块、第一放大电路模块、传感器等效电路模块、跟随电路模块、二级积分电路模块、AC‑DC转换电路模块、第二放大电路模块、AD模块、液晶显示模块。它利用AT89C51为处理器设计了硬标签质量参数的检测电路，能够准确的测定硬标签质量参数，结构简单、运行稳定。
技术研发人员：盛庆元;汪镓威;蔡晓霞;徐煌俊;朱丹;李晨辉;王凌涛
受保护的技术使用者：绍兴职业技术学院
技术研发日：2017.03.22
技术公布日：2017.07.25