带RJ45型输入和输出插座的测试块的制作方法

本发明涉及一种用于植入在连接待测试装置与电源的电路中的测试块，该待测试装置特别是电量计或保护继电器，该电源特别是给待测试装置供电的强度传感器和/或电压传感器，一方面，所述测试块包括具有多个内部电路的基座，所述内部电路能够允许将信息从所述电源传输到所述待测试装置，另一方面，测试块包括保护罩，所述保护罩用于与所述基座可拆卸地组装，以形成容纳所述内部电路的封闭外壳，所述基座和所述保护罩被配置成使得所述保护罩的移除允许接近由所述基座限定的接收区并且能够通过插入来接收独立于所述测试块的测试插头并且电连接连接至测试设备，所述测试设备特别是电压计和/或电流计和/或虚设电流源。

背景技术：

几十年来，已知在将待测试装置连接到给待测试装置供电的电源的电路中植入称为《测试块》或《测试连接器》的电气设备。作为实例，申请人以商品名《essailec》商业化这种性质的测试块。

通常，电源可以包含与电气网络的确定相位相关联的电压传感器和/或强度传感器，而待测试装置可以是用于控制至少一个断路器的电量计或保护继电器，其可能在由电源和保护继电器检测到过电压和/或过电流的情况下作用于所述相位。

常规上，测试块包含基座和保护罩，所述保护罩可移除地组装在基座上，以便当罩紧固在基座上时根据标准ip40限定闭合且密封的外壳。外壳封闭并且保护多个彼此独立的内部电路。

在基座的背面和/或侧面上，测试块包含允许将内部电路连接连接到电源的多个输入插座：每个输入插座连接连接到单个确定的内部电路，并且每个内部电路连接连接到单个输入插座。(译者注：inked应为linked，译文已修改，请确认)需要在输入插座中连接多个连接器，并且所述连接器自身通过包含多个独立导体股线的电缆连接到电源。

测试块还包含多个布置在基座的背面和/或侧面的输出插座。这些输出插座允许根据其中每个输出插座连接到单个内部电路并且每个内部电路连接到单个输出插座的布置将内部电路连接到待测试装置。需要在输出插座中连接多个连接器，并且所述连接器自身通过包含多个独立导体股线的电缆连接到待测试装置。

在基座的正面的侧面上移除保护罩允许接近由基座限定的接收区并且能够通过插入而接收独立于测试块的测试插头并且电连接到测试设备。通常，测试设备可包含电压计和/或安培计和/或虚设电流源。测试插头的插入具有直接取决于测试插头的设计而以预定方式临时地作用于所有或部分内部电路的状态和/或配置的效果，从而允许经由测试设备执行测量和/或相对于待测试装置的校准操作。测试插头包含致动元件，所述致动元件为此目的而被配置成能够取决于待执行的操作而适当地作用于全部或部分内部电路。

即使当前实施的解决方案在效率和稳健性方面令人满意，但是它们不能完全令人满意。

首先，需要将每个输入插座连接到电源并且将每个输出插座连接到待测试装置。这些操作在实践中并不理想，并且可能是错误的来源。

此外，多个输入和输出插座之间的连接构件和许多相关联的连接器的倍增使得组装在技术上是复杂的且在成本方面是可以改善的。这还导致可能的故障因素或直接由于所使用的零件数目的错误接触的增加。

技术实现要素：

本发明旨在解决以上列出的所有或部分缺点。

在这一背景下，需要提供一种简单、稳健、容易且方便使用并且具成本效益的测试块。

为此目的，提出一种用于植入于连接待测试装置与给所述待测试装置供电的电源的电路中的测试块，所述待测试设备诸如是电量计或保护继电器，所述电源诸如是强度传感器和/或电压传感器，所述测试块包含：

-包括多个内部电路的基座，所述多个内部电路能够允许将信息从所述电源传输到所述待测试装置，

-保护罩，用于以可拆卸方式与所述基座组装，以形成容纳所述内部电路的封闭外罩，

-所述基座和所述保护罩被配置成使得所述保护罩的移除允许进入由所述基座限定的接收区。并且所述接收区能够通过插入而接收独立于所述测试块的测试插头并且电连接到测试设备(特别是电压计和/或电流计和/或虚设电流源)，

所述基座包含：

-至少一个多触点型输入插座，其可从外罩的外部进入，并且其触点分别电连接到所述内部电路，使得所述输入插座同时连接到所有内部电路，所述输入插座被配置成能够连接到独立于所述测试块并且其触点特别是经由多芯电缆电连接到电源的第一多触点型连接器，

-以及至少一个多触点型输出插座，其可从外罩的外部进入，并且其触点分别电连接到所述内部电路，使得所述输出插座同时连接到所有内部电路，所述输出插座被配置成能够连接到独立于所述测试块并且其触点特别是经由多芯电缆电连接到所述待测试装置的第二多触点型连接器。

根据特定实施例，所述基座和所述保护罩包含连接在一起并且被配置成确保连续性的导电元件，以及磁性屏蔽封闭件，诸如由所述基座限定的外罩，并且所述保护罩是相对于由所述基座和所述保护罩限定的所述外罩外部的磁场保护所述内部电路的法拉第笼。

所述基座优选地包含可移除盖，其相对于所述基座的其余部分的移除允许进入所述内部电路，并且其性质和/或形状适合于所述输入和输出插座的性质。

还提出了一种包含这种测试块和测试插头的测试器具，所述测试插头能够在移除保护罩之后插入由基座限定的接收区中，所述测试块的内部电路和测试插头被配置成使得只要测试插头被插入，测试插头的插入就会造成临时动作于测试块的所有或部分内部电路，所述临时作用使得其允许由于测试设备而关于待测试装置执行测量和/或校准操作。

根据特定实施例，所述测试器具包含独立于测试块和测试插头的第一多触点型连接器，其与测试块的输入插座互补以便能够连接到测试块的输入插座，且其触点特别是经由多芯电缆电连接到电源，并且测试块的输入插座和第一连接器被配置成使得测试块的内部电路与电源之间的电连接是源于将所述第一连接器与所述测试块的所述输入插座连接的作用。

所述测试器具优选地包含独立于测试块和测试插头的第二多触点型连接器，其与测试块的输出插座互补以便能够连接到测试块的输出插座，且其触点特别是经由多芯电缆电连接到待测试装置，并且测试块的输出插座和第二连接器被配置成使得所述内部电路与所述待测试装置之间的电连接是源于将所述第二连接器与所述测试块的所述输出插座连接的作用。

优选地，测试插头一方面包含多个致动元件和多个电导体，所述多个电导体被配置成只要测试插头被插入到由基座限定的接收区中就以引起所述临时作用的方式作用于基座的内部电路，且另一方面包含多触点型输出插座，其触点分别连接到测试插头的全部或部分电导体，所述测试插头的输出插座被配置成使得能够连接到独立于测试块和测试插头并且其触点特别是经由多芯电缆电连接到测试设备的第三多触点型连接器。

所述测试器具可以被配置成使得当测试插头插入到由基座限定的接收区中时，连接到测试插头的输出插座的触点的电导体经由所有或部分内部电路电连接到测试块的基座的输出插座的全部或部分触点。

所述测试插头的输出插座特别是由rj45类型的公或母连接器形成，其包含具有8个触点位置的管脚，每个管脚对应于测试插头的输出插座的触点。

根据特定实施例，所述测试器具包含独立于测试块和测试插头的第三多触点型连接器，其与测试插头的输出插座互补以便能够连接到测试插头的输出插座，且其触点特别是经由多芯电缆电连接到测试设备，并且测试插头的输出插座和第三连接器被配置成使得测试插头的电导体到测试设备的电连接是源于将所述第三连接器与所述测试插头的所述输出插座连接的作用。

附图说明

使用通过非限制性实例给出并且在附图中表示的本发明的特定实施例的以下描述，将很好地理解本发明，其中：

图1到图3是根据本发明的测试器具的实例的立体图，分别大体上是顶视图、前视图和大体上是仰视图。

图4是图1到图3的测试块的基座的分解图。

图5是图1到图3的测试插头的分解图。

具体实施方式

参考如上所概述的附图1到5，本发明主要涉及用于植入于连接待测试装置(未示出)与给待测试装置供电的电源(未示出)的电路中的测试块。

所述电源可以包含与电网的所确定相位相关联的电压传感器和/或强度传感器，而待测试装置可以是用于控制至少一个断路器的电量计或保护继电器，其可能在由电源和保护继电器检测到过电压和/或过电流的情况下作用于所述相位。

所述测试块包含包括多个内部电路的基座10，所述多个内部电路彼此独立并且允许将信息从所述电源传输到所述待测试装置。

内部电路用于将不同于一个内部电路的信息传送到其它内部电路，并且在每个内部电路处表示来自电源的相应物理量值，并且当内部电路闭合时发射到待测试装置。内部电路的性质和布置可以是任意的，并且本身不是限制性的。下面将描述特定实施例，但决不是限制性的。

例如，有可能规定，当电源包含与电网的相位相关联的电压传感器时，两个内部电路允许将电压的测量值从所述相位传输到保护继电器(当待测试装置包含这样的保护继电器时)，可能在过电压的情况下致动放置在这一相位上的断路器。始终作为实例，有可能规定，当电源包含与电网的相位相关联的强度传感器时，两个内部电路允许将电强度的测量值从所述相位传输到保护继电器(当待测试装置包含这样的保护继电器时)，可能在过电流的情况下致动放置在这一相位上的断路器。

所述测试块还包含保护罩11，其用于以可拆卸方式与基座10组装，以形成容纳内部电路的封闭外罩，

为此目的，如图所示，基座10可以包含外壳15，其限定内部电路被植入其中的开放空腔，并且保护罩11在其安装在基座10(特别是外壳15)上时密封地封闭这一空腔。

可以有利地确保由基座10和保护罩11限定的外罩被密封。当罩11紧固在基座10上时，由基座10和保护盖11赋予的外罩的密封特别满足标准ip40。基座10和保护罩11包含确保这一功能所需的所有构件。

基座10和保护罩11被配置成使得保护罩11的移除允许进入由基座10限定的接收区12并且能够通过插入而接收独立于测试块的测试插头13并且电连接到测试设备(未示出)。根据待执行的测试的性质，测试设备可包含电压计和/或电流计和/或虚设电流源。

在图1到图3中，很好地理解，保护罩11紧固在基座10上，或者测试插头13紧固在基座10上，但是保护罩11不用于紧固在测试插头13上。

本发明还涉及一种包含这种测试块以及测试插头13的测试器具，所述测试插头能够在移除保护罩11之后插入到由基座10限定的接收区12中。

基座10意欲紧固在电柜上。当测试块安装在基座10上时，保护罩11限定测试块的正面，因为当测试块安装在电柜上时，所述保护罩可从电柜的外部进入。测试块的基座10包含允许将测试块紧固在金属柜上的安装元件14，例如，如图所示，多个保持接片，每个保持接片可以由专用于所述操作的螺钉夹持。

当移除保护罩11时，基座10的正面由具备多行通孔的前罩16构成。前罩16通过任何合适构件紧固在壳体15上，特别是卡扣配合类型的构件。

测试块的基座10包含至少一个多触点型输入插座17，其可从外罩的外部进入并且其触点分别电连接到内部电路，使得输入插座17同时连接到所有内部电路。输入插座17被配置成能够连接到第一多触点型连接器(未示出)，其独立于测试块并且其触点电连接到电源，特别是通过第一多芯电缆(未示出)。

测试块的基座10包含至少一个多触点型输出插座18，其可从外罩的外部进入并且其触点分别电连接到内部电路，使得输出插座18同时连接到所有内部电路。输出插座18被配置成能够连接到第二多触点型连接器(未示出)，其独立于测试块并且其触点电连接到待测试装置，特别是通过第二多芯电缆(未示出)。

对于输入插座17和输出插座18，所考虑的插座的每个触点连接到单个内部电路，并且每个内部电路连接到这一插座的单个触点。因此，测试块的每个内部电路(当所述内部电路闭合时)能够将输入插座17的单个触点电连接到输出插座18的单个触点。

输入插座17和输出插座18的触点与测试块的内部电路之间的电连接可以在印刷电路19处进行，印刷电路称为“印刷电路板”，缩写为“pcb”。印刷电路19的性质特别取决于插座17、18的性质以及内部电路的性质。

在本文档中，术语《多导体》特别是指所涉及的电缆包含多个单独绝缘的电导体，并且因此彼此绝缘。术语《多触点》意指插座17、18或与插座17、18协作的连接器包含多个单独绝缘的电触点，并且因此彼此绝缘。

根据完全令人满意的特定实施例，输入插座17和输出插座18各自由rj45类型的公或母连接器形成，其另一个通用名称是8p8c(8个位置和8个电触点)，包含具有8个触点位置的管脚，每个管脚对应于相关插座17、18的触点。

所述特征即使是有利和有效的，也不是限制性的。用于实现上文针对插座17、18提出的功能的构件可以是任意的。例如，有可能规定，输入插座17和输出插座18各自由用于《通用串行总线》的usb类型的公或母连接器形成。

基座10和保护罩11还包含连接在一起的导电元件并且被配置成确保连续性，以及磁性屏蔽封闭件，诸如由基座10限定的外罩，并且保护罩11是相对于由基座10和保护盖11限定的外罩外部的磁场保护内部电路的法拉第笼。

基座10包含可移除盖20，其相对于基座10的其余部分的移除允许进入所述内部电路，并且其性质和/或形状适合于输入插座17和输出插座18的性质。可移除盖20到外壳15的紧固可以例如通过螺钉21进行。另一个优点是能够根据输入插座17和输出插座18的性质以及印刷电路19，同时使用通过替换或替代可移除盖20和印刷电路19的输入插座17和输出插座18获得的基座10的不同变型所共有的外壳15而适配可移除盖20。

因此，可移除盖20包含构成法拉第笼的导电元件的一部分。这同样适用于外壳15和保护罩11。

可移除盖20紧固在外壳15上，以便限定基座10的背面，即，与接收保护罩11并且用于朝向电柜的内部的正面相对的面。可移除盖20包含允许输入插座17和输出插座18能够从基座10的背面侧上的测试块的外部进入的开口。然而，仍然有可能考虑，输入插座17和/或输出插座18可以在基座10的侧面(即外壳15的将可移除盖20接合到保护罩11的侧面)处从基座10向外打开。

此外，当基座10通过安装元件14安装在电柜上时，测试块包含将构成法拉第笼的导电元件连接到金属柜的导电元件(未示出)。因此，法拉第笼电连接到金属柜的金属。

根据特定实施例，在基座10的外壁的全部或部分表面上，这些外壁通过至少一个铝面板在内部和/或外部覆盖或构成。

作为实例，基座10的外壁被形成闭合连续面板的铝在外部覆盖或由其构成。例如，有可能规定，外壳15的6个壁中的5个由铝覆盖，使得盖封闭法拉第笼的铝平行六面体。

根据特定实施例，在可移除盖20的外壁的全部或部分表面上，这些外壁通过至少一个铝面板在内部和/或外部覆盖或构成。

作为实例，盖20的外壁被形成闭合连续面板的铝在外部覆盖或由其构成。特别是，已知切片的4个面也具有铝，可移除盖的主外壁的外面和/或内面覆盖有铝。

同时，在保护罩11的外壁的全部或部分表面上，这些外壁通过至少一个铝面板在内部和/或外部覆盖或构成。

作为实例，当保护罩11紧固在基座10上时，保护罩11的外壁由面向前盖16的一块铝面板39(图3所示)在内部覆盖。

应当理解，存在于基座10和保护罩11处的铝面板全部连接在一起，以形成法拉第笼。

测试块和测试插头13的内部电路被配置成使得只要测试插头13被插入，测试插头13的插入就导致对测试块的全部或部分内部电路的临时作用，这一临时作用使得其允许由于测试设备而对于待测试装置执行测量和/或校准操作。

根据如图4所示的实施例(其本身是有效的但不是限制性的)，测试块的每个内部电路包含电连接到输入插座17的触点和第一接触片23的第一电导体22。每个内部电路还包含电连接到输出插座18的触点和第二接触片25的第二电导体24。取决于由采用例如辊的形状并且通过压力弹簧27朝向关于两个片23、25之间的接触的位置偏置的可移动触点26占据的位置，两个接触片23、25可以电连接或断开。压力弹簧27与可移动触点26之间的界面由安装在压力弹簧27的可移动端处的小球28形成，所述压力弹簧的固定端与外壳15接触。

根据此安装，只要可移动触点26在弹簧27的作用下与两个片23、25接触，每个内部电路就闭合。只要测试插头13不插入到由基座10限定的接收区12，这就对应于自然占据的配置。相比之下，可移动触点26相对于弹簧27的作用的强制移位导致内部电路的断开，因为可移动触点26的这种移位诱使两个接触片23、25不再直接电接触。

第一接触片23包含测试焊点29，第二接触片25包含测试焊点30，其操作将在下面解释。每个测试焊点29、30包含接触弹簧31。

由此构成的所有内部电路被容纳在基座10的外壳15中，并且前罩16覆盖并保护内部电路的部件。

前罩16包含：

-第一行通孔，其中每个通孔的位置与第一接触片23垂直对准，

-第二行通孔，其中每个通孔的位置与测试焊点29中的一个垂直对准，

-第三行通孔，其中每个通孔的位置与可移动触点26中的一个垂直对准，

-第四行通孔，其中每个通孔的位置与测试焊点30中的一个垂直对准，

-以及第五行通孔，其中每个通孔的位置与第二接触片25中的一个垂直对准。

根据特定实施例并且现在参考图2和图5，测试插头13一方面包含多个致动元件32和多个电导体33，所述多个电导体被配置成只要测试插头13被插入到由基座10限定的接收区12中就以导致前面提到的临时作用的方式作用于基座10的内部电路。

另一方面，测试插头13包含多触点型输出插座34，其触点分别连接到所有或部分电导体33，测试插头13的输出插座34被配置成能够以连接到独立于测试块和测试插头13并且其触点特别是通过第三多芯电缆(未示出)电连接到测试设备的第三多触点型连接器(未示出)。

根据特定实施例，测试插头13包含通过接合限定空腔的支撑件35与封闭这一空腔的盖36而获得的外壳。测试插头13的输出插座34容纳在这一空腔中，并且通过形成在盖36中的开口42从壳体向外打开。盖36通过任何可能的机械构件紧固在支撑件35上，诸如(例如)通过多个螺钉37。盖36位于测试插头13的正面上，一旦移除了保护罩11，其背面38将抵靠基座10的正面(更准确地说，与前前16相对)。

这里指定的是，致动元件32可以由从测试插头13的背面38突出到支撑件35的外部的杆构成，并且能够各自插入到形成于前罩16中的第三行通孔的通孔中。它们的高度使得当测试插头13的背面38与基座10接触时所获得的这些杆的完全插入导致可移动触点26相对于压力弹簧27的作用而移位，并且引起可移动触点26已经移位的内部电路断开。

如图5所示，测试插头13的一些电导体33各自包含能够从背面38突出到支撑件35的外部的管脚40。每个管脚40能够插入形成于前罩16中的第四行通孔的通孔中，并且插入到测试焊点30中的一个中，并且经由导线41电连接到输出插座34的触点中的一个。

除了多触点型输出插座34之外，测试插头13还可以包含各自为单触点类型的多个输出插座44，测试插头13的其它电导体33中的每一个各自包含从背面38突出到支撑件35的外侧的管脚43。每个管脚43能够插入形成于前罩16中的第二行通孔的通孔中，并且插入到测试焊点29中的一个中，并且电连接到单触点输出插座44中的一个的单个触点。绝缘帽45围绕管脚43的一部分而定位。

当测试插头13插入到由基座10限定的接收区12中时，连接到测试插头13的输出插座34的触点的电导体33经由管脚40插入到测试焊点30中，然后通过全部或部分内部电路，特别是通过第二片25和电导体24而电连接到测试块的基座10的输出插座18的所有或部分触点。同时，连接到测试插头13的输出插座44的触点的电导体33经由管脚43插入到测试焊点29中，然后通过全部或部分内部电路，特别是通过第一片23和电导体22而电连接到测试块的基座10的输入插座17的所有或部分触点。

在所示的实例中，致动元件32、电导体33和基座10的内部电路的布置被布置为根据具有短路触点的测试原理而操作。因此，当测试插头13被插入时，内部电路自动短路。在正常操作中，只要保护罩11安装在基座10上，基座10就确保了电连续性。在测试的时刻，罩11被移除。当插入测试插头13时，测试插头13的管脚40、43首先与基座10的测试焊点29、30接触，以便经由电导体33建立测试电路。只有当测试插头13完全插入基座10中时，可移动触点26才断开接触片23、25之间的接触，以便通过电导体33完全旁通电流。在测试结束时返回使用的时刻，由于通过压力弹簧27偏置的可移动触点26，当测试插头13与基座10断开时，内部电路自动闭合。

然而，所述特征不是限制性的，并且有可能提供测试插头13和基座10的布置，使得它们根据具有断开触点的测试原理(当保护罩11被移除且由此不再给待测试装置供电时，内部电路断开)而操作或根据具有闭合触点的测试原理(电连接是永久的，内部电路在测试期间保持闭合)而操作。

测试插头13的输出插座由rj45类型的公或母连接器形成，其包含具有8个接触位置的管脚，每个管脚对应于测试插头的输出插座的触点。

测试器具包含上述第一连接器，其是独立于测试块和测试插头13的多触点型，与测试块的输入插座17互补，以便能够连接到测试块的输入插座17，并且其触点特别是通过第一多芯电缆电连接到电源。测试块的输入插座17和第一连接器被配置成使得测试块的内部电路与电源之间的电连接是源于将第一连接器与测试块的输入插座17连接的作用。第一连接器可以特别地是rj45类型，并且具有与输入插座17的性质互补的性质。

根据特定实施例，构成法拉第笼的导电元件连接到第一多芯电缆的屏蔽件。

测试器具还包含上述第二连接器，其是独立于测试块和测试插头13的多触点型，与测试块的输出插座18互补，以便能够连接到测试块的输出插座18，并且其触点特别是通过第二多芯电缆电连接到待测试装置。测试块的输出插座18和第二连接器被配置成使得内部电路与待测试装置之间的电连接是源于将第二连接器与测试块的输出插座18连接的作用。第二连接器可以特别地是rj45类型，并且具有与输出插座18的性质互补的性质。

有利地，构成法拉第笼的导电元件连接到第二多芯电缆的屏蔽件。

最后，测试器具包含上述第三多触点型连接器，其独立于测试块和测试插头，其与测试插头13的输出插座34互补，以便能够连接到测试插头13的输出插座34，并且其触点特别是通过第三多芯电缆电连接到测试设备。测试插头13的输出插座34和第三连接器被配置成使得测试插头13的电导体33到测试设备的电连接是源于将第三连接器连接到测试插头13的输出插座34的作用。第三连接器可以特别地是rj45类型，并且具有与输出插座34的性质互补的性质。

刚刚描述的测试块是简单、稳健、容易和方便使用的，并且具有成本效益。插座的数量小，并且必须操纵的电连接器很少，这通过提供有限数量的零件而增强了其可靠性。此外，测量和校准的可靠性和质量非常好，并且非常安全。