本发明涉及一种强制老化的方法，属于led灯具的老化测试技术领域。
背景技术：
老化测试项目是指模拟产品在现实使用条件中涉及到的各种因素对产品产生老化的情况进行相应条件加强实验的过程，通过用测试其功能的方式来考验产品的稳定性，因系统长时间的处于工作状态，在其工作时对各器件进行负荷运转，这样其性能就能得到保证。老化还有一种情况就是让设备处在超常规的特殊的环境中运作，或者让此设备超指标的运行，只要在这些条件下能保证设备的性能稳定，那么在正常环境下工作就正常了。
在这之前，产品一出世，对电子产品进行老化测试也是必不可少的，但是不一定对每一个产品都做了老化，所以强制老化也是必要的一步。
电子产品，不管是原件、部件、整机、设备都要进行先老化后测试。如对led灯的老化方案，现有技术大多只是对led灯灯具本身进行老化测试，但缺少芯片、电源的老化方案，电子产品通过生产制造后，形成了完整的产品，已经可以发挥使用价值了，但使用以后会发现会有这样或那样的毛病，又发现这些毛病绝大多数就发生在刚开始的几小时和几十个小时之内，后来规定电子产品需要老化和测试，仿照或者等效产品的使用状况，这个过程由产品的制造者来完成，通过测试把有问题的产品留在工厂，没有问题的产品给用户，以保证卖给用户的产品是可靠的趋于稳定的。
技术实现要素：
本发明要解决的技术问题是提供一种强制老化的方法，能保证我们产品的可靠性以及稳定性，可以克服现有技术的不足。
本发明的技术方案是：一种强制老化的方法，它包括设备灯，设备灯与测试系统相连接，其特征在于：所述的测试系统包括老化模式与用户模式，该方法是设备灯第一次开机时强制进入老化模式,只能老化完成才能退出，否则无法正常进入用户模式，则设备灯无法使用，所述的老化模式包括电源老化模块、设备灯强制老化模块和芯片强制老化模块；
电源老化模块是让电源长时间在恶劣环境下处于工作状态，包括在高温、高恶劣条件下的测试环境对高性能电子产品进行长时间烧机，看其是否损坏；
设备灯强制老化模块是根据灯开关时闪现的特性来进行老化，通过对一个以上的设备灯同时进行每一秒闪一次的老化测试，在老化测试中若出现差错则设备灯熄灭，若通过老化设置，设备灯长亮；
芯片强制老化模块针对芯片的特性，让其不断处于忙碌的状态，看其能否正常进行工作。
上述的通过和不通过老化测试的产品分别做老化合格和老化不合格标记。
上述的芯片强制老化模块中的忙碌的状态包括让芯片持续播放视频或持续视频解码。
现有技术比较，本发明强制老化的方法，所述的测试系统包括老化模式与用户模式，该方法是设备灯第一次开机时强制进入老化模式,只能老化完成才能退出，否则无法正常进入用户模式，则设备灯无法使用，所述的老化模式包括电源老化模块、设备灯强制老化模块和芯片强制老化模块；从三个灯具的主要内容对产品进行老化测试，以此来保证我们产品的可靠性以及稳定性；
电源老化模块是让电源长时间在恶劣环境下处于工作状态，包括在高温、高恶劣条件下的测试环境对高性能电子产品进行长时间烧机，看其是否损坏；
设备灯强制老化模块是根据灯开关时闪现的特性来进行老化，通过对一个以上的设备灯同时进行每一秒闪一次的老化测试，在老化测试中若出现差错则设备灯熄灭，若通过老化设置，设备灯长亮；同时，这有利于在老化过程中对大量产品的实时观测，不用走近到每台设备前查看是否已完成老化，有效减轻测试员的负担；
上述的通过和不通过老化测试的产品分别做老化合格和老化不合格标记，这样标记后的产品，今后不再进入老化模式，直接进入用户模式，同时，这也有利于严格生产，确保产品质量；
芯片强制老化模块中的忙碌的状态包括让芯片持续播放视频或持续视频解码，这样的老化方案，让设备处在超常规的特殊的环境中运作，或者让此设备超指标的运行，只要在这些条件下能保证设备的性能稳定，那么在正常环境下工作就正常了，这样能有效的对产品性能进行测试；
产品设测试包括使用老化过后的产品进行性能测定，测试其经过老化后是否能使用，从而能对其性能的把握；
对老化和测试后的产品，需要退出老化模式并给系统做一个标记，这样标记后的产品，今后不再进入老化模式，直接进入用户模式。
附图说明
图1是本发明的连接结构示意图。
具体实施方式
实施例1.如图1所示，一种强制老化的方法，它包括设备灯，设备灯与测试系统相连接，所述的测试系统包括老化模式与用户模式，该方法是设备灯第一次开机时强制进入老化模式,只能老化完成才能退出，否则无法正常进入用户模式，则设备灯无法使用，所述的老化模式包括电源老化模块、设备灯强制老化模块和芯片强制老化模块；电源老化模块是让电源长时间在恶劣环境下处于工作状态，包括在高温、高恶劣条件下的测试环境对高性能电子产品进行长时间烧机，看其是否损坏；设备灯强制老化模块是根据灯开关时闪现的特性来进行老化，通过对一个以上的设备灯同时进行每一秒闪一次的老化测试，在老化测试中若出现差错则设备灯熄灭，若通过老化设置，设备灯长亮；芯片强制老化模块针对芯片的特性，让其不断处于忙碌的状态，看其能否正常进行工作，所述的忙碌的状态包括让芯片持续播放视频或持续视频解码，对通过和不通过老化测试的产品分别做老化合格和老化不合格标记。