技术特征：
技术总结
本发明涉及，一种多波长与宽温度太赫兹激光功率计的校准装置及方法，该方法基于所述装置，该方法包括：(1)测试太赫兹激光功率计的输入功率与示值电压之间的线性关系；(2)根据步骤(1)中输入功率与示值电压之间的线性关系，设置一组太赫兹源的工作波长，测试太赫兹激光功率计在不同波长下的校正因子；(3)根据步骤(1)中输入功率与示值电压之间的线性关系，设置一组环境温度，测试太赫兹激光功率计在不同温度下的校正因子；计算得到温度校正因子β与环境温度T的线性关系；(4)校准太赫兹激光功率计在测试波长和环境温度时的测试功率。本发明提高了太赫兹激光功率计在不同环境温度的测试准确度，降低太赫兹激光功率计的波长校准误差，提高校准效率。
技术研发人员：张鹏;董杰;韩顺利;龚侃;吴寅初
受保护的技术使用者：中国电子科技集团公司第四十一研究所
技术研发日：2017.05.16
技术公布日：2017.09.08