技术特征：
技术总结
本发明公开了一种用于介电响应测试的微电流测量电路，包括对数运算单元、线性光耦单元、指数运算单元、信号二次放大单元，所述对数运算单元、线性光耦单元、指数运算单元、信号二次放大单元依次相连，所述对数运算单元包括超低偏置电流的放大器和负反馈元件，所述线性光耦单元包括线性光耦芯片、负反馈电路，所述指数运算单元包括高速运放和光敏二极管，本发明的微电流测量电路由于没有采用反馈电阻，避免了电阻温度系数对测量结果的影响，可以具有较高的抑制温度漂移影响的能力，温度系数可达100ppm/C。
技术研发人员：郑含博;张大宁;寇晓适;李予全;邵颖彪;杨涛;钱诗林
受保护的技术使用者：国网河南省电力公司电力科学研究院;国家电网公司;西安交通大学
技术研发日：2017.06.14
技术公布日：2017.10.10