三态门控制端测试电路的制作方法

本

技术实现要素：
涉及电路测试技术，具体涉及三态门电路中使能控制端的故障测试技术，更具体地说，涉及一种可提高测试故障覆盖率的三态门控制端测试方法和电路。

背景技术：

在集成电路的可测性设计中，芯片内部的三态总线、芯片管脚的双向输出及高阻都离不开三态门，而采用d算法对电路的故障建模，当遇到三态门时，会影响故障覆盖率的提高。其原因是三态使能控制端将三态门关断后，其输出为高阻，而不是确定的“0”或“1”状态，所以三态门的使能端的故障不可测。现有技术的解决方式是在三态门的输出端加一上拉或下拉电阻，这样当三态门关断时，其输出为确定状态，可测。解决方法来自synopsys公司电子文档《testtools》中的《scansynthesisuserguide》中appendixa第a-9面。在上述现有技术中，如果被测电路因节能而不用上、下拉电阻，或三态门出现在集成电路内部，输出端不能接上、下拉电阻时，如图1所示，这时电路中的时序电路0的输出、直接输入端1、组合电路2、3、4的输入和输出都不可测。

发明内容

本发明内容一种三态门控制端测试电路，可对被测试电路中的多个三态门进行控制端测试，其特征在于，包括一个多路器，其多个输入端分别连接各个三态门的使能控制端，还包括控制信号发生电路，所述控制信号发生电路的输出端连接到所述多路器的各个控制信号端使得该多路器输入端口连接各个三态门电路的使能控制信号可分别从所述多路器的输出接口输出并可测，所述控制信号发生电路包括两个或两个以上的触发器，所述触发器的输出端分别连接到所述多路器的控制信号端，所述控制信号发生电路可以包含在所述被测电路的内部组合电路，所述控制信号发生电路可以是所述被测电路的内部组合电路与两个或两个以上的触发器的组合。

本发明内容通过将三态门的使能控制端与多路器相连接，并将控制信号加到多路器控制端使得控制三态门使能端的时序电路和组合电路可测，控制信号可由被测电路内部组合电路提供或多个触发器提供，或组合电路与触发器组合提供或由被测电路外部提供，从而实现在被测三态门电路的输出端不能加上、下拉电阻时，如为了节能或内部有多驱动总线情况下，可有效提高三态门控制端的测试故障覆盖率，是一种性能更好的三态门控制端测试方法及电路，还具有结构简单、容易实现等优点。

附图说明

图1是按照本发明内容的三态门测试电路图；

如图1所示，本发明内容是在图1的基础上加上提高故障测试覆盖率的电路而成，图1中，时序电路10和外部端口输入11、组合电路12-14、三态门18-20都不变。将控制三态门使能的信号15、16、17引出与一多路器24(图中只画出3路)相连接，多路器24由两个d触发器22、23的输出控制，或根据情况灵活控制，根据控制信号的不同，选择不同输出，若控制信号为“00”，多路器输出为17，为“01”输出为信号16，为“10”输出为信号15。d触发器22的输入可以是外部端口的输入或其它时序的输出。多路器24选通其中一路并通过输出端22引出到外部端口，或与其它信号端口并用。

技术特征：

技术总结
一种三态门控制端测试电路，可对被测试电路中的多个三态门进行控制端测试，其特征在于，包括一个多路器，其多个输入端分别连接各个三态门的使能控制端，还包括控制信号发生电路，所述控制信号发生电路的输出端连接到所述多路器的各个控制信号端使得该多路器输入端口连接各个三态门电路的使能控制信号可分别从所述多路器的输出接口输出并可测。本发明有效提高三态门控制端的测试故障覆盖率，是一种性能更好的三态门控制端测试方法及电路，还具有结构简单、容易实现等优点。

技术研发人员：范奇
受保护的技术使用者：范奇
技术研发日：2017.12.07
技术公布日：2019.06.18