技术特征：
技术总结
本申请涉及基于内插器的测试程序评估。一个示例包括测试系统(100)，该测试系统包含印刷电路板(102)和切换内插器板(104)。切换内插器板(104)包括探测点(108)、第一总线(112)、第二总线(114)和一组开关(106)。每个开关(106)包含第一端子(“1 COMM”)、第二端子(“2”)和第三端子(“4”)，第一端子(“1 COMM”)被耦合至集成电路器件(110)的相应引脚，第二端子(“2”)被耦合至第一总线(112)，第三端子(“4”)被耦合至第二总线(114)。该组开关(106)中的每一个具有第一状态和第二状态，该第一状态在短路测试期间通过第一总线(112)选择性地将集成电路器件(110)的一对引脚彼此耦合，并且该第二状态在电压电平尖峰测试期间通过第二总线(114)选择性地将集成电路器件(110)的至少一个引脚耦合至探测点(108)。
技术研发人员：C·P·昂;H·S·贾
受保护的技术使用者：德克萨斯仪器股份有限公司
技术研发日：2017.12.12
技术公布日：2018.07.06