一种变压器变比测试与直阻测试接线方法及接线盒与流程

本发明涉及一种变压器变比测试与直阻测试接线方法及接线盒，属于变压器试验设备技术领域。

背景技术：

为了保证变压器安全稳定的运行，需要定期对变压器进行变比测试与直阻测试。传统的测试方法需要将上述两种不同的测试分别接线，依次进行，增加了工作时间，且采用直阻测试仪测试变压器不同相间绕组时，需要多次变更变压器接线柱的试验接线，不仅降低了变压器试验的工作效率，而且会降低试验数据的精确度。

技术实现要素：

本发明目的是提供一种变压器变比测试与直阻测试接线方法及接线盒，包含开关和多个接线柱，对变压器进行试验时，只需进行一次接线，通过旋转开关控制试验电路，即可获得上述两种试验的试验数据，有效地解决了背景技术中存在的上述问题。

本发明的技术方案是：一种变压器变比测试与直阻测试接线盒，包含接线盒、直阻测试仪接线柱、变比测试仪接线柱、变比测试开关、直阻测试开关、低压侧旋转开关、高压侧旋转开关和变压器绕组接线柱，所述直阻测试仪接线柱、变比测试仪接线柱、变比测试开关、直阻测试开关、低压侧旋转开关、高压侧旋转开关设置在接线盒的前侧，直阻测试开关的一端与直阻测试仪接线柱互相连接，另一端分别与低压侧旋转开关、高压侧旋转开关互相连接，低压侧旋转开关、高压侧旋转开关分别与位于接线盒后侧的变压器绕组接线柱互相连接，变比测试开关的一端与变比测试仪接线柱互相连接，另一端与变压器绕组接线柱互相连接。

所述直阻测试仪接线柱包含m接线柱和n接线柱。

所述变比测试仪接线柱包含a1接线柱、b1接线柱、c1接线柱、a1接线柱、b1接线柱和c1接线柱。

所述变压器绕组接线柱包含a2接线柱、b2接线柱、c2接线柱、a2接线柱、b2接线柱和c2接线柱，低压侧旋转开关分别与a2接线柱、b2接线柱、c2接线柱互相连接，高压侧旋转开关分别与a2接线柱、b2接线柱、c2接线柱互相连接。

一种变压器变比测试与直阻测试接线方法，采用上述接线盒进行，包含如下步骤：

变压器试验前，接线盒的前侧为进线侧，直阻测试仪接线柱中的m接线柱和n接线柱，匹配连接变压器直流电阻测试仪对应的接线柱，变比测试仪接线柱中的a1接线柱、b1接线柱、c1接线柱、a1接线柱、b1接线柱、c1接线柱，匹配连接变压器变比测试仪对应的接线柱；接线盒的后侧为出线侧，变压器绕组接线柱中的a2接线柱、b2接线柱、c2接线柱，分别匹配连接变压器高压侧的a相绕组、b相绕组、c相绕组，a2接线柱、b2接线柱、c2接线柱，分别匹配连接变压器低压侧的a相绕组、b相绕组、c相绕组；o接线柱连接变压器的中性点；若要测试变压器变比数据，闭合变比测试开关，变比测试仪完成对变压器变比测试仪的测试；若要测试变压器高压侧a相绕组和b相绕组之间的直流电阻，闭合直阻测试开关，并通过高压侧旋转开关选择接通a、b档，分别与a相绕组和b相绕组连通，进行a相绕组和b相绕组之间的直流电阻测试，其它高压绕组相间直流电阻，通过改变高压侧旋转开关的接通挡位测得；若要测试变压器低压侧a相绕组和b相绕组之间的直流电阻，闭合直阻测试开关，并通过低压侧旋转开关选择接通a、b档，分别与a相绕组和b相绕组连通，进行a相绕组和b相绕组之间的直流电阻测试，其它低压绕组相间直流电阻，通过改变低压侧旋转开关的接通挡位测得；若要测试变压器低压侧a相绕组和中性点之间的直流电阻，闭合直阻测试开关，并通过低压侧旋转开关选择o、a档，分别与中性点o和a相绕组连通，进行a相绕组和中性点之间的直流电阻测试，其它低压绕组与中性点o之间的直流电阻，通过改变低压侧旋转开关挡位测得。

本发明的有益效果是：一次接线即可完成变比测试与直阻测试两个试验的全部试验项目，避免了试验期间在变压器abc三相不同绕组侧多次更换接线的步骤，大大提升了工作效率，提高了试验数据的准确度。

附图说明

图1是本发明的主视图；

图2是本发明的内部结构示意图；

图中：接线盒1、直阻测试仪接线柱2、变比测试仪接线柱3、变比测试开关4、直阻测试开关5、低压侧旋转开关6、高压侧旋转开关7、变压器绕组接线柱8。

具体实施方式

以下结合附图，通过实施例对本发明作进一步说明。

一种变压器变比测试与直阻测试接线盒，包含接线盒1、直阻测试仪接线柱2、变比测试仪接线柱3、变比测试开关4、直阻测试开关5、低压侧旋转开关6、高压侧旋转开关7和变压器绕组接线柱8，所述直阻测试仪接线柱2、变比测试仪接线柱3、变比测试开关4、直阻测试开关5、低压侧旋转开关6、高压侧旋转开关7设置在接线盒1的前侧，直阻测试开关5的一端与直阻测试仪接线柱2互相连接，另一端分别与低压侧旋转开关6、高压侧旋转开关7互相连接，低压侧旋转开关6、高压侧旋转开关7分别与位于接线盒1后侧的变压器绕组接线柱8互相连接，变比测试开关4的一端与变比测试仪接线柱3互相连接，另一端与变压器绕组接线柱8互相连接。

所述直阻测试仪接线柱2包含m接线柱和n接线柱。

所述变比测试仪接线柱3包含a1接线柱、b1接线柱、c1接线柱、a1接线柱、b1接线柱和c1接线柱。

所述变压器绕组接线柱8包含a2接线柱、b2接线柱、c2接线柱、a2接线柱、b2接线柱和c2接线柱，低压侧旋转开关6分别与a2接线柱、b2接线柱、c2接线柱互相连接，高压侧旋转开关7分别与a2接线柱、b2接线柱、c2接线柱互相连接。

一种变压器变比测试与直阻测试接线方法，采用上述接线盒进行，包含如下步骤：

变压器试验前，接线盒1的前侧为进线侧，直阻测试仪接线柱2中的m接线柱和n接线柱，匹配连接变压器直流电阻测试仪对应的接线柱，变比测试仪接线柱3中的a1接线柱、b1接线柱、c1接线柱、a1接线柱、b1接线柱、c1接线柱，匹配连接变压器变比测试仪对应的接线柱；接线盒1的后侧为出线侧，变压器绕组接线柱8中的a2接线柱、b2接线柱、c2接线柱，分别匹配连接变压器高压侧的a相绕组、b相绕组、c相绕组，a2接线柱、b2接线柱、c2接线柱，分别匹配连接变压器低压侧的a相绕组、b相绕组、c相绕组；o接线柱连接变压器的中性点；若要测试变压器变比数据，闭合变比测试开关4，变比测试仪完成对变压器变比测试仪的测试；若要测试变压器高压侧a相绕组和b相绕组之间的直流电阻，闭合直阻测试开关5，并通过高压侧旋转开关7选择接通a、b档，分别与a相绕组和b相绕组连通，进行a相绕组和b相绕组之间的直流电阻测试，其它高压绕组相间直流电阻，通过改变高压侧旋转开关7的接通挡位测得；若要测试变压器低压侧a相绕组和b相绕组之间的直流电阻，闭合直阻测试开关5，并通过低压侧旋转开关6选择接通a、b档，分别与a相绕组和b相绕组连通，进行a相绕组和b相绕组之间的直流电阻测试，其它低压绕组相间直流电阻，通过改变低压侧旋转开关6的接通挡位测得；若要测试变压器低压侧a相绕组和中性点之间的直流电阻，闭合直阻测试开关5，并通过低压侧旋转开关6选择o、a档，分别与中性点o和a相绕组连通，进行a相绕组和中性点之间的直流电阻测试，其它低压绕组与中性点o之间的直流电阻，通过改变低压侧旋转开关6挡位测得。

通常若要测试高压侧相间绕组ab、bc、ca，低压侧oa、ob、oc的直阻数据以及变压器的变比数据，需要进行七次接线。本发明采用直阻测试开关k1，变比测试开关k2，高压侧旋转开关g1以及低压侧旋转开关g2控制测试线路的导通与闭合，只需一次接线，即可获得试验数据。本发明适用于△/y接法的10千伏变压器。