本实用新型涉及电子元件技术领域，尤其是指封装检测定位座。
背景技术：
现有的封装检测机构内的各部件都是固定的，一种检测机构往往只能检测一个或二个内容，如此，生产企业就需要构成很多的检测仪进行各项检测，不检测时又要分开收集，占用空间大，设备购买成本高。
技术实现要素：
本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种结构合理、使用方便的封装检测定位座。
为实现上述目的，本实用新型所提供的技术方案为：封装检测定位座，它包括有长方形的座体，座体长度方向一端设有长方形的检测座，检测座为两个，分别位于座体同一端两侧，两上检测座之间预留有推料定位槽，检测座顶部设有下凹的沉槽，检测座长度方向另一端设有针脚槽，针脚槽由两条长方形的通槽构成，两条通槽沿长度方向分布在检测座同一端的两侧，针脚槽外侧的检测座边缘处向上延伸形成限位挡板，限位挡板一端设有阶梯状的导向台阶，限位挡板较高一端位于检测座一侧。
所述的限位挡板顶部高于检测座顶部。
所述的检测座长度方向与座体长度方向一致。
所述的每个检测座顶部的沉槽均为两上，分别位于检测座顶部两端。
所述的座体采用金属材料一体制作成形。
本实用新型在采用上述方案后，安装在检测定位座上的电子元件均为市面常规结构及常规安装方式，针脚槽用于电极脚向下穿过，限位挡板用于对封装主体进行限位，沉槽用于安装检测感应器，采用沉槽方式使检测感应器为嵌插式，方便更换不同功能的检测感应器；采用本方案后的结构合理，可根据检测内容插装检测机构。
附图说明
图1为本实用新型的整体结构示意图。
具体实施方式
下面结合所有附图对本实用新型作进一步说明，本实用新型的较佳实施例为：参见附图1，本实施例所述的封装检测定位座包括有长方形的座体1，座体1采用金属材料一体制作成形，座体1长度方向一端设有长方形的检测座3，检测座3为两个，分别位于座体1同一端两侧，两上检测座3之间预留有推料定位槽5，检测座3顶部设有下凹的沉槽4，检测座3长度方向另一端设有针脚槽6，针脚槽6由两条长方形的通槽构成，两条通槽沿长度方向分布在检测座3同一端的两侧，检测座3长度方向与座体1长度方向一致，针脚槽6外侧的检测座3边缘处向上延伸形成限位挡板2，限位挡板2一端设有阶梯状的导向台阶7，限位挡板2较高一端位于检测座3一侧，限位挡板2顶部高于检测座3顶部，所述的每个检测座3顶部的沉槽4均为两上，分别位于检测座3顶部两端。本实施例安装在检测定位座上的电子元件均为市面常规结构及常规安装方式，针脚槽用于电极脚向下穿过，限位挡板用于对封装主体进行限位，沉槽用于安装检测感应器，采用沉槽方式使检测感应器为嵌插式，方便更换不同功能的检测感应器；采用本实施例后的结构合理，可根据检测内容插装检测机构。
以上所述之实施例只为本实用新型之较佳实施例，并非以此限制本实用新型的实施范围，故凡依本实用新型之形状、原理所作的变化，均应涵盖在本实用新型的保护范围内。