本实用新型涉及光学仪器技术领域，特别涉及红外分光光度计。
背景技术：
红外分光光度计：由光源发出的光，被分为能量均等对称的两束，一束为样品光通过样品，另一束为参考光作为基准。这两束光通过样品室进入光度计后，被扇形镜以一定的频率所调制，形成交变信号。
但是目前，如何调制能量均等对称的两束光成为棘手的问题。现有的红外分光光度计有使用两个规格相同的激光BAR条，但即使是这样，由两个激光BAR条发出去的光经后面的多种透镜之后，也难以保证最终通过样品室的是能量均等对称的两束光。
技术实现要素：
为解决上述的技术问题，本实用新型提出红外分光光度计，可以对一激光BAR条进行均匀地分光。
为实现上述目的，本实用新型提供了如下技术方案：
红外分光光度计，包括依次排列的BAR条、聚焦透镜组、波导片、以及校直透镜组；
所述BAR条用于提供平行光束；
所述聚焦透镜组用于对所述平行光束进行聚焦；
所述波导片位于所述聚焦透镜组聚焦的位置，并且用于对光束进行匀化后输出上下分层的上光束和下光束；
所述校直透镜组包括上下分布的上校直透镜和下校直透镜，所述上校直透镜和所述下校直透镜分别位于所述上光束和所述下光束的传输路径上，并且分别对所述上光束和所述下光束进行校直。
作为一种可实施方式，所述聚焦透镜组包括左右分布的左聚焦透镜和右聚焦透镜；所述左聚焦透镜和所述右聚焦透镜均为凸透镜；
所述左聚焦透镜背向所述BAR条所在的位置向外凸出；
所述右聚焦透镜面向所述BAR条所在的位置向外凸出。
作为一种可实施方式，所述左聚焦透镜向外凸出的表面抵靠所述右聚焦透镜向外凸出的表面。
作为一种可实施方式，所述上校直透镜和所述下校直透镜均为凸透镜；
所述上校直透镜背向所述波导片所在的位置向外凸出；
所述下校直透镜背向所述波导片所在的位置向外凸出。
本实用新型相比于现有技术的有益效果在于：
本实用新型提供了一种红外分光光度计，可以对一激光BAR条进行均匀地分光。具体是，通过依次排列的聚焦透镜组、波导片、以及校直透镜组，将激光BAR条提供的平行光束拆分成能量均等对称的两束光，然后提供给样品室。这里，BAR条用于提供平行光束；聚焦透镜组用于对平行光束进行聚焦；波导片用于对光束进行匀化后输出上下分层的上光束和下光束，并且是分光的主要部件；校直透镜组用于分别对上光束和下光束进行校直。
附图说明
图1为本实用新型实施例提供的红外分光光度计的部分光路图。
图中：1、BAR条；2、聚焦透镜组；21、左聚焦透镜；22、右聚焦透镜；3、波导片；4、校直透镜组；41、上校直透镜；42、下校直透镜。
具体实施方式
以下结合附图，对本实用新型上述的和另外的技术特征和优点进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的部分实施例，而不是全部实施例。
参照图1，本实施例提供了红外分光光度计，其包括沿着光路路径依次排列的BAR条1、聚焦透镜组2、波导片3、以及校直透镜组4。本实施例中，BAR条1用于提供平行光束；聚焦透镜组2用于对平行光束进行聚焦；波导片3位于聚焦透镜组2聚焦的位置，并且用于对光束进行匀化后输出上下分层的上光束和下光束；校直透镜组4包括上下分布的上校直透镜41和下校直透镜42，上校直透镜41和下校直透镜42分别位于上光束和下光束的传输路径上，并且分别对上光束和下光束进行校直。
通过采取上述的技术方案，可以对一激光BAR条1进行均匀地分光。具体是，通过依次排列的聚焦透镜组2、波导片3、以及校直透镜组4，将激光BAR条1提供的平行光束拆分成能量均等对称的两束光，然后提供给样品室。这里，BAR条1用于提供平行光束；聚焦透镜组2用于对平行光束进行聚焦；波导片3用于对光束进行匀化后输出上下分层的上光束和下光束，并且是分光的主要部件；校直透镜组4用于分别对上光束和下光束进行校直。
参照图1，在一个实施例中，聚焦透镜组2包括左右分布的左聚焦透镜21和右聚焦透镜22；左聚焦透镜21和右聚焦透镜22均为凸透镜；左聚焦透镜21背向BAR条1所在的位置向外凸出；右聚焦透镜22面向BAR条1所在的位置向外凸出。
本实施例中，通过由左聚焦透镜21和右聚焦透镜22组2成的聚焦透镜组2，主要是对平行光束进行聚焦。
参照图1，在一个优选的实施例中，左聚焦透镜21向外凸出的表面抵靠右聚焦透镜22向外凸出的表面。
本实施例中，可以缩减左聚焦透镜21到右聚焦透镜22的光路的路径长度。
参照图1，在一个实施例中，上校直透镜41和下校直透镜42均为凸透镜；其中上校直透镜41背向波导片3所在的位置向外凸出，其中下校直透镜42背向波导片3所在的位置向外凸出。
本实施例中，通过由上校直透镜41和下校直透镜42组4成的校直透镜组4，主要是对上光束和下光束进行校直。
以上所述的具体实施例，对本实用新型的目的、技术方案和有益效果进行了进一步的详细说明，应当理解，以上所述仅为本实用新型的具体实施例而已，并不用于限定本实用新型的保护范围。特别指出，对于本领域技术人员来说，凡在本实用新型的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。