天线无源互调测试暗室的制作方法

文档序号:14525110阅读:2444来源:国知局

本实用新型属于天线测试技术领域,尤其涉及天线无源互调测试暗室。



背景技术:

无源互调(Passive Inter Modulation,PIM)效应是HPM效应的一种,在HPM条件下,HPM通过不同的耦合途径进入电子系统,由于其大功率特性,使传统的无源线性器件产生较强的非线性效应,部件和系统的非线性特性也会变得更加明显,导致更为严重的PIM问题,进而影响整个系统的性能。这使得对PIM效应的分析研究显得尤为重要。

PIM测量系统与频率和带宽的相关性很强,测量系统难以通用,一般需要根据测试目的进行专门的制作。同时,不仅要测量无源部件的PIM产物,还要能够对天线和整星进行测量。因此,如何设计一个低PIM的测量系统是进行PIM测量首先必须解决的问题。而测量系统的关键就在于PIM测试环境。



技术实现要素:

本实用新型实施例的目的在于提供天线无源互调测试暗室,能够准确测试天线性能。

本实用新型实施例是这样实现的:

天线无源互调测试暗室,包括多个暗室框架、一个暗室门、多块铝塑板、多根导波管和多个吸波角锥,暗室框架具有两个竖直支柱及连接两支柱的顶部拱形,暗室框架相互间平行设置,导波管相互间平行设置,导波管垂直固定在暗室框架上,导波管与暗室框架间形成多个容置铝塑板网格状空间,导波管、暗室框架和铝塑板连接为封闭的壳体,在所述壳体的侧面开设有暗室门,吸波角锥安装在所述壳体内部的侧壁、顶壁和底部。

本实用新型实施例通过将暗室做成拱形结构,并在内部设置有吸波角锥,从而使暗室内的环境利于无源互调测试,容易准确测试天线的性能,减少外部环境对暗室内的干扰,提高测试的准确度。

附图说明

图1是本实用新型天线无源互调测试暗室整体示意图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。

以下结合具体实施例对本实用新型的具体实现进行详细描述:

如图1所示,天线无源互调测试暗室,包括多个暗室框架1、一个暗室门2、多块铝塑板3、多根导波管4和多个吸波角锥5,暗室框架1具有两个竖直支柱及连接两支柱的顶部拱形,暗室框架1相互间平行设置,导波管4相互间平行设置,导波管4垂直固定在暗室框架1上,导波管4与暗室框架1间形成多个容置铝塑板3网格状空间,导波管4、暗室框架1和铝塑板3连接为封闭的壳体,在所述壳体的侧面开设有暗室门2,吸波角锥5安装在所述壳体内部的侧壁、顶壁和底部。通过将暗室做成拱形结构,室内安装吸波角锥,使得暗室内的测试环境不受外界干扰,在测试天线时,能够准确测出天线的性能。

PIM测试的准确性会受到测试系统外部或内部很多因素的影响。影响天线产品的PIM测试结果的因素包括以下几个方面:

a)暴露在AUT辐射场中的导电材料;

b)AUT的安装附件出现松动、损坏或腐蚀;

c)暴露在来自AUT辐射的射频场中的松动或腐蚀的附件;

d)测试系统外部的无线电射频信号;

e)性能很差的同轴接口电缆;

f)接口连接处存在肮脏、污染、磨损;

g)接口连接不当;

h)射频接口连接屏蔽不善;

i)来自于测试设备的未经过滤的有源互调。

在进行这种测试时,必须满足政府规章中允许的射频辐射电平要求,另外,来自于AUT的射频能量辐射,可能在周围物体上产生PIM,并反射到天线中,导致天线PIM测试结果存在误差,同时来自于外部的射频辐射也可能会干扰测试质量,因此为准确测量天线PIM电平,测试应当在一个低PIM测试环境的电波暗室里进行,这样可减少或消除很多影响因素。为准确测量天线PIM电平,暗室建造的关键是吸波海绵的选择以及暗室壳体的材料和施工方法,从而达到较为准确的PIM值。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用于限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

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