荧光磁粉自动探伤检测彩色图像预处理方法与流程

文档序号:15213836发布日期:2018-08-21 16:34阅读:324来源:国知局

本发明涉及基于机器视觉对工件表面或近表面采用荧光磁粉方式进行自动探伤检测。



背景技术:

传统军工产品的无损检测,通常由人工来进行产品缺陷的判别。而航空叶片、常规的枪炮、轴承滚子等批产产品零部件的检测,常常需要多名检验员每天完成上千件零件的检测,实际检测中难免会出现因检验员用眼疲劳而导致的漏检、误判问题。而且,无损检测技术正向无损评价方向发展,自动化和智能化是大势所趋。产品缺陷图像自动识别技术是智能无损检测设备的关键所在,势必在无损检测行业得到广泛应用。



技术实现要素:

针对现有技术中的缺陷,本发明的目的是提供一种基于机器视觉的荧光磁粉自动探伤检测系统的荧光磁粉自动探伤检测彩色图像预处理方法。

为解决上述技术问题,本发明提供的一种荧光磁粉自动探伤检测彩色图像预处理方法,包括如下步骤:

步骤1,从彩色ccd相机中提取原始彩色图像;

步骤2,将原始彩色图像转换成波形图;

步骤3,将目标荧光色值转换成目标像素值;

步骤4,提取图像。

优选地,步骤2包括:

步骤2.1,提取彩色图像g像素矩阵;

步骤2.2,获取g像素分布直方图并将直方图转换成波形图。

优选地,步骤3包括:

步骤3.1,根据荧光磁悬液在紫外光照射下所反射出的光谱标定荧光磁粉图像;

步骤3.2,根据rgb色值表标定目标像素值。

优选地,步骤4包括:

步骤4.1,获取目标像素值在波形图中两侧的波谷值;

步骤4.2,提取区域图像;其中区域图像的上限及下限为波形图的波谷值。

与现有技术相比,本发明的有益效果如下:更好的对采集到的图像进行去噪、分割,有效抑制聚磁、外置光照、阴影等干扰,从而达到简化识别程序与处理时间的目的。

附图说明

通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述,本发明的其它特征目的和优点将会变得更明显。

图1为本发明荧光磁粉自动探伤检测彩色图像预处理方法流程图。

具体实施方式

下面结合具体实施例对本发明进行详细说明。以下实施例将有助于本领域的技术人员进一步理解本发明,但不以任何形式限制本发明。应当指出的是,对本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变化和改进。这些都属于本发明的保护范围。

本发明针对荧光磁粉自动探伤检测过程中提取的彩色图像进行预处理的一种方法,该方法依据彩色图像rgb像素分布特点,对彩色cdd相机所采集的彩色图像提取目标像素区域图像,这种方法更好的对采集到的图像进行去噪、分割,有效抑制聚磁、外置光照、阴影等干扰,从而达到简化识别程序与处理时间的目的。

具体的,如图1所示,根据本发明提供的一种荧光磁粉自动探伤检测彩色图像预处理方法,对于彩色ccd相机采集到的原始图像进行r、g、b三色分解,提取彩色图像g像素矩阵,将g像素矩阵所含各像素的数量制成直方图,根据荧光色光谱长度转换的灰度值在直方图中标定目标荧光色像素,并提取g像素矩阵中目标像素构成图像。包括以下步骤:

步骤一,彩色ccd相机提取原图像;

步骤二,提取彩色图像g像素矩阵;

步骤三,画出g像素分布直方图并转换成波形图;

步骤四,将目标荧光色值转换成目标像素值;

步骤五,寻找目标像素所在波形图中两侧波谷值;

步骤六,以波谷值为上下限提取区域图像。

在自动探伤检测的实际工作中,所采集到的ccd图像会出现聚磁、阴影、光照干扰等噪声,这对缺陷的智能检测判定存在较大干扰。故而,在这些干扰存在的情况下,直接利用灰度图像进行去噪、区域分割、特征提取则会误将干扰检测做成缺陷而出现误判,影响检测效率及正确率。为解决这个问题,根据荧光磁粉检测的颜色频谱特点,运用rgb色值,对原图像先进行有效图像提取,即提取原图像中黄绿色图像,再进行后续处理。

通过rgb色值表,通过荧光磁粉检测的工件缺陷所反应出的颜色,其rgb色值中,r、b值较小,g值较大,在提取图像时,r、g、b的阀值确定需根据具体检测工艺环境来确定。对原图分别通过r、g、b区域阀值进行色值提取,明显发现,通过对机器相机采集到的原图像进行rgb色值目标区域图像提取能够有效抑制聚磁、外置光照、阴影等干扰。

以上对本发明的具体实施例进行了描述。需要理解的是,本发明并不局限于上述特定实施方式,本领域技术人员可以在权利要求的范围内做出各种变化或修改,这并不影响本发明的实质内容。在不冲突的情况下,

本技术:
的实施例和实施例中的特征可以任意相互组合。



技术特征:

技术总结
本发明提供的一种荧光磁粉自动探伤检测彩色图像预处理方法,包括如下步骤:步骤1,从彩色CCD相机中提取原始彩色图像;步骤2,将原始彩色图像转换成波形图;步骤3,将目标荧光色值转换成目标像素值;步骤4,提取图像。与现有技术相比,本发明的有益效果如下:更好的对采集到的图像进行去噪、分割,有效抑制聚磁、外置光照、阴影等干扰,从而达到简化识别程序与处理时间的目的。

技术研发人员:吴远峰;金翠娥;刘颖卓;成群林;张小龙;危荃;何军;陈浩
受保护的技术使用者:上海航天精密机械研究所
技术研发日:2018.01.15
技术公布日:2018.08.17
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