一种不拆接地排的GIS回路电阻测试装置及方法与流程

文档序号:15555090发布日期:2018-09-29 00:56阅读:411来源:国知局

本发明涉及gis开关回路电阻试验装置的技术领域,更具体地,涉及一种不拆接地排的gis回路电阻测试装置及方法。



背景技术:

gis开关回路电阻试验,是在开关两侧接地刀闸的接地铜排进行加压试验,一般是通过在被测回路两侧接地刀闸的外部接地排施加试验电流进行测量,但是两侧接地排会与接地网及gis外壳形成两条并联支路产生分流影响测量结果。目前的试验方法是需要拆除两侧接地排的其中一侧,在消除并联支路条件下才能准确测出gis开关的回路电阻。随着对供电可靠性要求的提高,被试设备一般都是处于单一间隔停电状态,也就是说工作地点周围的设备一般都是带电的,特别是在220kv及以上电压等级的gis设备,被试设备接地刀闸处在强电场中,当其在拆除接地排后感应电压非常高,在此状态下进行试验接线,严重威胁到作业人员的人身安全。另外,试验前后拆装接地排耗时费力,严重影响现场的工作效率。



技术实现要素:

本发明的目的在于克服现有技术的不足,提供一种不拆接地排的gis回路电阻测试装置及方法,将其反馈回仪器的运算模块,计算出被测gis回路电阻的实际值,可以实现无需拆除两侧接地排完成回路电阻试验,消除因拆装接地排造成感应电伤人的风险,提高现场的工作效率。

为解决上述技术问题,本发明采用的技术方案是:

提供一种不拆接地排的gis回路电阻测试装置,所述gis回路设于gis设备外壳内部,包括第一接地排、第二接地排、gis开关、第一刀闸以及第二刀闸,所述第一刀闸、gis开关、第二刀闸串联连接形成gis主回路,所述第一接地排并联连接于所述第一刀闸和gis开关之间,所述第二接地排并联连接于所述第二刀闸和gis开关之间;所述第一接地排、第二接地排与gis主回路之间分别连接有第一接地刀闸、第二接地刀闸,所述第一接地排、第二接地排与gis设备外壳间形成有并联分路;所述电阻测试装置包括回路电阻测试仪以及用于测试并联分路分流值的霍尔元件,所述回路电阻测试仪连接于第一接地排和第二接地排之间,所述霍尔元件设于并联分路上,所述霍尔元件的输出端与回路电阻测试仪的输入端连接。

本发明的不拆接地排的gis回路电阻测试装置,通过霍尔元件测试出gis主回路和gis设备外壳间并联分路的分流值,并将测得的分流值传输至回路电阻测试仪,回路电阻测试仪结合测试得到的仪器输入电压值v+、仪器输出电压值v-以及仪器电流输入值i+进行分析运算得到gis回路电阻的测量值。本发明在测量gis回路电阻的实际值时,无需拆除两侧的接地排,能够消除因拆装接地排造成感应电伤人的风险,简化gis回路电阻试验的操作流程,以及能够提高现场的工作效率。

进一步地,所述第一接地排、第二接地排均包括分别独自外部接地的a相接地排、b相接地排以及c相接地排。

进一步地,所述并联分路与gis设备外壳的连接处设有外壳接地点,所述霍尔元件设于所述第一接地排/第二接地排与外壳接地点之间。a相接地排、b相接地排以及c相接地排接地的方式不同,霍尔元件设置的位置不同;当a相接地排、b相接地排以及c相接地排单独接地时,只有一条并联分路产生分流影响,将霍尔元件连接在第一接地排/第二接地排与外壳接地点之间即可完成测试。

进一步地,所述第一接地排、第二接地排均包括a相接地排、b相接地排以及c相接地排,所述a相接地排、b相接地排以及c相接地排通过铜件串联连接,所述铜件接地设置。

进一步地,所述霍尔元件包括第一霍尔元件以及第二霍尔元件,所述第一霍尔元件设于a相接地排、b相接地排之间的铜件上,所述第二霍尔元件设于b相接地排、c相接地排之间的铜件上。当a相接地排、b相接地排以及c相接地排通过铜片连接在一起再接地时,b相接地排设于a相接地排及c相接地排中间,b相回路电阻测试时,b相接地排向a相接地排、c相接地排方向均形成有并联分路,且均产生分流影响,此时需将第一霍尔元件设于a相接地排、b相接地排之间的铜件上,第二霍尔元件设于b相接地排、c相接地排之间的铜件上完成并联分路分流值的测试。

进一步地,所述回路电阻测试仪包括若干输入端接线柱、输出端接线柱以及用于处理测试数据的中央处理器,所述输入端接线柱分别与第一接地排、霍尔元件通过导线连接,所述输出端接线柱与第二接地排连接。输入端接线柱、输出端接线柱的设置增加测试时接线的便捷性,提高现场的工作效率,且能够降低接线失误的概率。

进一步地,所述回路电阻测试仪还包括用于显示测试结果的显示模块,所述显示模块连接于所述中央处理器的输出端。显示模块的设置将测试得到的仪器输入电压值v+、仪器输出电压值v-、仪器电流输入值i+、并联分路电流值i分以及计算得到的gis回路电阻r开关直观地显示给运维人员。

进一步地,所述gis回路电阻的实际值为回路电阻测试仪的仪器输出电压值、仪器输入电压值之差与仪器输出电流值、并联分路分流值之差的比值。采用仪器输出电流值与并联分路分流值的差值来消除并联分路分流的影响代替拆除接地排的方式,消除因拆装接地排造成感应电伤人的风险,简化gis回路电阻试验的操作流程,提高现场的工作效率。

本发明还提供了一种不拆接地排的gis回路电阻测试方法,其特征在于,包括以下步骤:

s1.断开第一刀闸、第二刀闸、gis开关、第一接地刀闸以及第二接地刀闸,将回路电阻测试仪连接于第一接地排、第二接地排之间,将霍尔元件连接于并联分路上,并将霍尔元件的输出端连接至回路电阻测试仪的输入端;

s2.闭合第一接地刀闸、第二接地刀闸以及gis开关,回路电阻测试仪测试得到仪器输入电压值v+、仪器输出电压值v-、仪器电流输入值i+;霍尔元件测试得到并联分路电流值i分,并将测试结果传输至回路电阻测试仪;

s3.计算得到gis回路电阻r开关,其中r开关=(v+-v-)/(i+-i分);

s4.打开第一接地刀闸、第二接地刀闸以及gis开关,拆除回路电阻测试仪、霍尔元件与gis回路之间的连接线。

与现有技术相比,本发明的有益效果是:

(1)本发明的不拆接地排的gis回路电阻测试装置及方法,在测量gis回路电阻的实际值时,无需拆除两侧的接地排,能够消除因拆装接地排造成感应电伤人的风险,简化gis回路电阻试验的操作流程,以及能够提高现场的工作效率。

(2)本发明的不拆接地排的gis回路电阻测试装置,采用霍尔元件测试并联分路分流值的方式代替拆除接地排消除并联分路分流的影响,原料易得,装置简单,且具有很好的普适性。

附图说明

图1为实施例一的不拆接地排的gis回路电阻测试的原理图。

图2为实施例二的不拆接地排的gis回路电阻测试的原理图。

具体实施方式

下面结合具体实施方式对本发明作进一步的说明。其中,附图仅用于示例性说明,表示的仅是示意图,而非实物图,不能理解为对本专利的限制;为了更好地说明本发明的实施例,附图某些部件会有省略、放大或缩小,并不代表实际产品的尺寸;对本领域技术人员来说,附图中某些公知结构及其说明可能省略是可以理解的。

本发明实施例的附图中相同或相似的标号对应相同或相似的部件;在本发明的描述中,需要理解的是,若有术语“上”、“下”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此附图中描述位置关系的用语仅用于示例性说明,不能理解为对本专利的限制,对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。

实施例一

如图1所示为本发明的不拆接地排的gis回路电阻测试装置及方法的第一实施例,gis回路设于gis设备外壳内部,包括第一接地排1、第二接地排2、gis开关3、第一刀闸4以及第二刀闸5,所述第一刀闸4、gis开关3、第二刀闸5串联连接形成gis主回路,所述第一接地排1并联连接于所述第一刀闸4和gis开关3之间,所述第二接地排1并联连接于所述第二刀闸5和gis开关3之间;所述第一接地排1、第二接地排2与gis主回路之间分别连接有第一接地刀闸6、第二接地刀闸7,所述第一接地排1、第二接地排2与gis设备外壳间形成有并联分路;所述电阻测试装置包括回路电阻测试仪8以及用于测试并联分路分流值的霍尔元件9,所述回路电阻测试仪8连接于第一接地排1和第二接地排2之间,所述霍尔元件9设于并联分路上,所述霍尔元件9的输出端与回路电阻测试仪的输入端连接。本实施例中的所述第一接地排1、第二接地排2均包括分别独自外部接地的a相接地排、b相接地排以及c相接地排;所述并联分路与gis设备外壳的连接处设有外壳接地点,所述霍尔元件9设于所述第一接地排/第二接地排与外壳接地点之间。

本实施例在实施时,所述gis回路电阻的实际值为回路电阻测试仪的仪器输出电压值、仪器输入电压值之差与仪器输出电流值、并联分路分流值之差的比值。采用仪器输出电流值与并联分路分流值的差值来消除并联分路分流的影响代替拆除接地排的方式,消除因拆装接地排造成感应电伤人的风险,简化gis回路电阻试验的操作流程,提高现场的工作效率。

其中,所述回路电阻测试仪8包括若干输入端接线柱13、输出端接线柱14以及用于处理测试数据的中央处理器15,所述输入端接线柱13分别与第一接地排1、霍尔元件9通过导线连接,所述输出端接线柱14与第二接地排2连接。输入端接线柱13、输出端接线柱14的设置增加测试时接线的便捷性,提高现场的工作效率,且能够降低接线失误的概率;所述回路电阻测试仪8还包括用于显示测试结果的显示模块,所述显示模块连接于所述中央处理器15的输出端,将测试得到的仪器输入电压值v+、仪器输出电压值v-、仪器电流输入值i+、并联分路电流值i分以及计算得到的gis回路电阻r开关直观地显示给运维人员。

本实施例的具体实施方式如下:

s1.断开第一刀闸4、第二刀闸5、gis开关3、第一接地刀闸6以及第二接地刀闸7,将回路电阻测试仪8连接于第一接地排1、第二接地排2之间,将霍尔元件9连接于所述第一接地排/第二接地排与外壳接地点之间的并联分路上,并将霍尔元件7的输出端连接至回路电阻测试仪8的输入端;

s2.闭合第一接地刀闸6、第二接地刀闸7以及gis开关3,回路电阻测试仪8测试得到仪器输入电压值v+、仪器输出电压值v-、仪器电流输入值i+;霍尔元件测试得到并联分路电流值i分,并将测试结果传输至回路电阻测试仪8;

s3.计算得到gis回路电阻r开关,其中r开关=(v+-v-)/(i+-i分);

s4.打开第一接地刀闸6、第二接地刀闸7以及gis开关3,拆除回路电阻测试仪8、霍尔元件9与gis回路之间的连接线。

实施例二

如图2所示为本发明的的不拆接地排的gis回路电阻测试装置及方法的第二实施例,本实施例与实施例一类似,所不同之处在于,所述第一接地排1、第二接地排2均包括a相接地排、b相接地排以及c相接地排,所述a相接地排、b相接地排以及c相接地排通过铜件10串联连接,所述铜件10接地设置;所述霍尔元件9包括第一霍尔元件11以及第二霍尔元件12,所述第一霍尔元件11设于a相接地排、b相接地排之间的铜件10上,所述第二霍尔元件12设于b相接地排、c相接地排之间的铜件10上。

当测试b相回路电阻时,本实施例的具体实施方式如下:

s1.断开第一刀闸4、第二刀闸5、gis开关3、第一接地刀闸6以及第二接地刀闸7,将回路电阻测试仪8连接于第一接地排1、第二接地排2之间,将第一霍尔元件11连接于设于a相接地排、b相接地排之间的铜件10上,第二霍尔元件12设于b相接地排、c相接地排之间的铜件10上,并将第一霍尔元件11、第二霍尔元件12的输出端连接至回路电阻测试仪8的输入端;

s2.闭合第一接地刀闸6、第二接地刀闸7以及gis开关3,回路电阻测试仪8测试得到仪器输入电压值v+、仪器输出电压值v-、仪器电流输入值i+;第一霍尔元件11测试得到并联分路电流值i分1,第二霍尔元件12测试得到并联分路电流值i分2,并将测试结果传输至回路电阻测试仪8;

s3.计算得到gis回路电阻r开关,其中r开关=(v+-v-)/(i+-i分1-i分2);

s4.打开第一接地刀闸6、第二接地刀闸7以及gis开关3,拆除回路电阻测试仪8、霍尔元件9与gis回路之间的连接线。

显然,本发明的上述实施例仅仅是为清楚地说明本发明所作的举例,而并非是对本发明的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说,在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明权利要求的保护范围之内。

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