一种高精度测长装置及使用方法与流程

文档序号:15437839发布日期:2018-09-14 22:25阅读:454来源:国知局

本发明涉及一种量具,特别涉及一种高精度测长装置及使用方法。



背景技术:

在加工制造领域,量具的精确度在很大程度上直接影响了所加工零件的精确度,同样在计量检定领域,测长装置的精度,对位移传感器、变形传感器的检定及校准准确度起到决定性作用。目前用于零部件测量的量具主要是游标卡尺或螺旋测微仪,这两种量具的测量精度分别仅能达到“丝”级和“微米”级,这两种量具在加工精密零部件时已不能满足需求,而目前高精密量具有三维数字投影设备,该设备结构较为复杂,设备成本也较高。



技术实现要素:

本发明的目的在于,提供一种高精度测长装置及使用方法。本发明具有结构简单,测量灵活、测量精度高和成本低的特点。

本发明的技术方案:一种高精度测长装置,包括固定壳,固定壳的内筒与转轴基台活动连接,转轴基台一端面同轴设有主刻度盘,主刻度盘上在圆周上分布有主刻度,相邻两主刻度间为1个主分度单位;所述的转轴基台另一端面依次同轴设有转轴ⅰ和转轴ⅱ;所述的转轴ⅰ与套筒ⅰ的内筒螺纹连接,套筒ⅰ的外筒壁上设有肋ⅰ,肋ⅰ与设于固定壳内筒壁的凹槽ⅰ滑动连接;所述的转轴ⅱ与套筒ⅱ的内筒螺纹连接,套筒ⅱ的外筒壁上设有肋ⅱ,肋ⅱ与设于套筒ⅰ内筒壁的凹槽ⅱ滑动连接;所述的转轴ⅰ与套筒ⅰ连接的螺纹的螺距小于转轴ⅱ与套筒ⅱ连接螺纹的螺距。

前述的高精度测长装置中,所述的转轴ⅰ与套筒ⅰ连接的螺纹的螺距为0.9mm,转轴ⅱ与套筒ⅱ连接螺纹的螺距为1.0mm。

前述的高精度测长装置中,所述的固定壳的一端面设有副刻度盘,副刻度盘在周向上分布有11个副刻度,相邻两副刻度间为1个副分度单位,共10个副分度单位;副刻度盘与主刻度盘的端面相吻合;所述的10个副分度单位的弧度等于9个主分度单位的弧度。

前述的高精度测长装置中,所述的主刻度盘在圆周上分布有500个主刻度将主刻度盘的圆周分为500个主分度单位。

前述的高精度测长装置的使用方法:旋动主刻度盘,经转轴基台带动转轴ⅰ和转轴ⅱ旋转,进而使套筒ⅰ和套筒ⅱ伸出,通过套筒ⅰ和套筒ⅱ端面的距离,实现测量。

前述的高精度测长装置的使用方法:旋动主刻度盘,经转轴基台带动转轴ⅰ和转轴ⅱ旋转,进而使套筒ⅰ和套筒ⅱ伸出,通过套筒ⅱ端面与固定壳端面间的距离,实现测量。

与现有技术相比,本发明在转轴基台的一端面同轴设置主刻度盘,另一端面依次同轴转轴ⅰ和转轴ⅱ,转轴基台与固定壳内筒活动连接,转轴ⅰ和转轴ⅱ分别经不同螺距的螺纹与套筒ⅰ和套筒ⅱ的内筒壁连接,且转轴ⅰ与套筒ⅰ连接螺纹的螺距小于转轴ⅱ与套筒ⅱ连接螺纹的螺距;测量时,通过旋动主刻度盘,使套筒ⅰ和套筒ⅱ伸出不同的长度,即能根据套筒ⅰ和套筒ⅱ的端面间距或套筒ⅱ与固定壳端面间距进行测量;主刻度盘旋动一圈,套筒ⅰ平移一个“转轴ⅰ与套筒ⅰ连接的螺纹螺距(以下简称套筒ⅰ螺距)”,同时套筒ⅱ平移一个“转轴ⅱ与套筒ⅱ连接的螺纹螺距(以下简称套筒ⅱ螺距)”,此时套筒ⅰ和套筒ⅱ的螺距差即是套筒ⅰ和套筒ⅱ的端面间距;通过该结构,即能将套筒ⅰ、ⅱ的端面间距的尺寸平均分到主刻度盘周向上,即可以在主刻度盘周向上读取测量值,该结构能够实现高精度测量;由上述可知,本发明不仅结构简单,而且能够实现双量程测量(一个是套筒ⅰ和套筒ⅱ的端面间距测量,一个是套筒ⅱ与固定壳的端面间距测量),且能够通过套筒ⅰ和套筒ⅱ的端面间距测量实现高精度测量,使得测量能够按需选择量程,测量灵活性更高。

本发明所述的转轴ⅰ和转轴ⅱ分别经螺距为0.9mm的螺纹和螺距为1.0mm的螺纹与套筒ⅰ和套筒ⅱ的内筒壁连接;通过该结构,主刻度盘旋动一圈,套筒ⅰ和套筒ⅱ的端面间距为0.1mm;也即是说,本发明将能够将0.1mm的长度转化在主刻度盘的周向上,实现了更高精度的测量。

本发明还在固定壳的一端面上设有与主刻度盘拟合的副刻度盘,副刻度盘在周向上分布有10个副分度单位,10个副分度单位的弧度等于9个主分度单位的弧度;该结构结合了游标卡尺的原理,利用主副刻度差,进一步实现高精度测长。

本发明的主刻度盘的圆周由主刻度均分为500个主分度单位;通过该结构,再结合游标卡尺的原理,能让本发明的理论测量精度能达到0.00002mm,比现有的游标卡尺高500倍,比现有的螺旋测微计高50倍。由此可知发明的测量精度高,且本发明仅通过固定壳,转轴ⅰ、ⅱ和套筒ⅰ、ⅱ等零部件的组装配合即实现了0.00002mm的理论测量精度,相对于传统的精密测量设备而言,结构简单,成本低。

图1是本发明的结构示意图;

图2是图1的仰视图;

图3是图2的b-b处的结构示意图;

图4是本发明的爆炸图。

附图中的标记为:1-固定壳,2-转轴基台,3-主刻度盘,4-转轴ⅰ,5-转轴ⅱ,6-副刻度盘,7-套筒ⅰ,8-肋ⅰ,9-凹槽ⅰ,10-套筒ⅱ,11-肋ⅱ,12-凹槽ⅱ,13-主刻度,14-副刻度。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的说明,但并不作为对本发明限制的依据。

实施例。一种高精度测长装置,构成如图1-4所示,包括固定壳1,固定壳1的内筒与转轴基台2活动连接,转轴基台2一端面设有主刻度盘3,转轴基台2另一端面依次设有转轴ⅰ4和转轴ⅱ5,转轴基台2、主刻度盘3、转轴ⅰ4和转轴ⅱ5同轴设置;固定壳1的一端面设有副刻度盘6,副刻度盘6与主刻度盘3的端面向拟合;所述的转轴ⅰ4与套筒ⅰ7的内筒螺纹连接,套筒ⅰ7的外筒壁上设有肋ⅰ8,肋ⅰ8与设于固定壳1内筒壁的凹槽ⅰ9滑动连接;所述的转轴ⅱ5与套筒ⅱ10的内筒螺纹连接,套筒ⅱ10的外筒壁上设有肋ⅱ11,肋ⅱ11与设于套筒ⅰ7内筒壁的凹槽ⅱ12滑动连接;转轴ⅰ4与套筒ⅰ7连接的螺纹的螺距为0.9mm,转轴ⅱ5与套筒ⅱ10连接螺纹的螺距为1.0mm;所述的主刻度盘3在圆周上分布有500个主刻度13将主刻度盘3的圆周分为500个主分度单位,副刻度盘6在周向上分布有11个副刻度14,相邻两副刻度14间为1个副分度单位,共10个副分度单位;所述的10个副分度单位的弧度等于9个主分度单位的弧度。

前述的高精度测长装置的使用方法:旋动主刻度盘3,经转轴基台2带动转轴ⅰ4和转轴ⅱ5旋转,进而使套筒ⅰ7和套筒ⅱ10伸出,通过套筒ⅰ7和套筒ⅱ10端面的距离,实现测量;或通过套筒ⅱ10端面与固定壳1端面间的距离,实现测量。

主刻度盘3每旋转一周,则套筒ⅰ7沿轴向移动0.9mm,而套筒ⅱ10沿轴向移动1mm,因此,把套筒ⅰ7端面当作基准面,主刻度盘3每转一周套筒ⅱ10端面相对套筒ⅰ7端面前进0.1mm,则主刻度盘上31个主分度单位代表0.1mm/500=0.0002mm。再有,10个副分度单位等于一个主分度单位(与游标卡尺原理相同),则一个副分度单位的值为0.0002mm/10=0.00002mm。



技术特征:

技术总结
本发明公开了一种高精度测长装置及使用方法。包括固定壳,固定壳的内筒与转轴基台活动连接,转轴基台一端面同轴设有主刻度盘,主刻度盘上在圆周上分布有主刻度,相邻两主刻度间为1个主分度单位;所述的转轴基台另一端面依次同轴设有转轴Ⅰ和转轴Ⅱ;所述的转轴Ⅰ与套筒Ⅰ的内筒螺纹连接,套筒Ⅰ的外筒壁上设有肋Ⅰ,肋Ⅰ与设于固定壳内筒壁的凹槽Ⅰ滑动连接;所述的转轴Ⅱ与套筒Ⅱ的内筒螺纹连接,套筒Ⅱ的外筒壁上设有肋Ⅱ,肋Ⅱ与设于套筒Ⅰ内筒壁的凹槽Ⅱ滑动连接;所述的转轴Ⅰ与套筒Ⅰ连接的螺纹的螺距小于转轴Ⅱ与套筒Ⅱ连接螺纹的螺距。本发明具有结构简单,测量精度高和成本低的特点。

技术研发人员:王安礼;黄启舒;孟庆生;谭捍华;彭夔;唐斌;李斌;韩振中;梅本荣;杨成铭;王啸林;黄有明;袁维;刘学浩;满银;刘克;唐旭;谢勇;周磊;赵剑;苏成湘;雷珍珍;邰正辉
受保护的技术使用者:贵州省质安交通工程监控检测中心有限责任公司
技术研发日:2018.06.19
技术公布日:2018.09.14
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