本发明总地涉及称量仪器领域，具体涉及一种β吸收测尘仪标准膜片的制作方法。
背景技术：
各类β吸收式测尘仪，从原理上讲是一种与称重法(经典方法)等效的仪器。它根据射线在物质中的吸收、衰减规律，对从大气中采集的样品进行称重测量，其输出单位为：毫克/立方米(mg/m3)或毫克/平方厘米(mg/cm2)。所以可以将此类仪器视为高精度的天平，即是一种计量仪器，则也就需要进行精密的刻度，要有自己特殊的砝码。在这类仪器中，这个砝码被称为“标准膜片”。但对各类β吸收式测尘仪来讲，目前的标准膜片并没有任何标准，仪器检测数据的正确性也很难保证。
技术实现要素：
本发明的目的在于提供一种β吸收测尘仪标准膜片的制作方法，采用该制作方法制备的标准膜片在溯源性、等效性上，均符合称重法原理，仪器输出数据可信。
本发明提供了一种β吸收测尘仪标准膜片的制作方法，其中，所述制作方法包括：
(1)选择3种不同厚度的膜片,所述膜片为聚酯薄膜或聚丙烯薄膜,所述厚度≤15μm；
(2)采用模具对所述膜片进行裁切以确定具体面积；
(3)采用感量精度为10万分之一的电子天平对裁切后的膜片进行称重以确定单位面积质量δm(mg/cm2)；
(4)将称重后的膜片用胶带粘贴固定在标准膜片支架的下方，并正对所述标准膜片支架的圆孔制成标准膜片器具；
(5)将制作好的标准膜片放入专用防尘盒中保存。
优选地，根据前述的制作方法，其中，步骤(2)为采用模具和刀具裁切，裁切时将所述膜片放置在垫片上进行。
更优选地，根据前述的制作方法，其中，所述刀具为手术刀，所述垫片为5层白纸。
优选地，根据前述的制作方法，其中，步骤(3)中，将所述膜片进行多张同时称量。
优选地，根据前述的制作方法，其中，步骤(4)中胶带为5×15mm。
优选地，根据前述的制作方法，其中，步骤(4)前还包括：对所述标准膜片支架进行去油清洗。
或优选地，根据前述的制作方法，其中，步骤(4)所述标准膜片支架的厚度不超过0.3mm。
再优选地，根据前述的制作方法，其中，所述方法还包括：
(5)对所述β吸收式测尘仪的β放射源穿过滤带的脉冲频率进行计数，计数总量为n1；
(6)将所述标准膜片器具放置在所述滤带上，对所述β吸收式测尘仪的β放射源穿过放置所述标准膜片器具的滤带的脉冲频率进行计数，计数总量为n2；
(7)通过δm＝1/klnn1/n2计算仪器工作系数k。
还优选地，根据前述的制作方法，其中，
重复步骤(5)-(6)获得多个计数总量n1和n2；
步骤(7)为通过公式δm＝1/kln(n1/n2)、n1和n2的平均数计算k值。
在本发明的β吸收测尘仪标准膜片的制作方法中，每一个步骤都有理论和实践的支持。采用该制作方法制备的标准膜片在溯源性、等效性上，均符合称重法原理，仪器输出数据可信。
具体实施方式
以下结合实施例，对本发明的具体实施方式进行更加详细的说明，以便能够更好地理解本发明的方案以及其各个方面的优点。然而，以下描述的具体实施方式和实施例仅是说明的目的，而不是对本发明的限制。
①标准膜片必须标出具体质量(mg/cm2),即必须经过面积计量和称重计量。
②标准膜片必须符合标准物质的要求：(1)具有特性量值的准确性、均匀性、稳定性；(2)量值具有传递性；(3)实物形式的计量标准。
各类β吸收式测尘仪的标准膜片如不符合上述两项要求，其定标结果无法确定有效。
本发明提供了一种符合上述两项要求的标准膜片的制备方法。具体如下所述：
(1)选择3种不同厚度的膜片,所述膜片为聚酯薄膜或聚丙烯薄膜,所述厚度≤15μm。该厚度符合仪器的实际工作情况，可对仪器进行线性校准。
(2)采用模具对所述膜片进行裁切以确定具体面积。步骤(2)优选为采用模具和刀具裁切，裁切时将所述膜片放置在垫片上进行。所述刀具具体为手术刀，所述垫片具体为5层白纸使其裁切边缘清晰。该具体面积为30×30mm。
(3)将所裁好的膜片放入无尘密封盒中密封保存。
(4)采用感量精度为10万分之一的电子天平对裁切后的膜片进行称重以确定单位面积质量δm(mg/cm2)。具体地，当称量的膜片厚度小于6μm时，应同时称量3张膜片，以减小天平的称量误差。
(5)将称重后的膜片用胶带，优选为5×15mm，粘贴固定在标准膜片支架的下方，并正对所述标准膜片支架的圆孔制成标准膜片器具。标准膜片支架厚度优选不超过0.3mm，材质不限。膜片一定要固定在支架的最下方，使其在使用时能和滤带紧贴在一起。
步骤(5)前还可包括：对所述标准膜片支架进行去油清洗。并确定所述标准膜片支架的使用方向。
该制作方法还可包括对仪器工作系数k值的计算。
具体如下：
(5)对所述β吸收式测尘仪的β放射源穿过滤带的脉冲频率进行计数，计数总量为n1。
(6)将所述标准膜片器具放置在所述滤带上，对所述β吸收式测尘仪的β放射源穿过放置所述标准膜片器具的滤带的脉冲频率进行计数，计数总量为n2。
(7)通过δm＝1/klnn1/n2计算仪器工作系数k。
一种优选实施方式为：重复步骤(5)-(6)获得多个计数总量n1和n2。步骤(7)为通过公式δm＝1/kln(n1/n2)、n1和n2的平均数计算k值。
此后，还可将δm和计算好的仪器工作系数k写在标签上，贴在所述标准膜片器具的框架上。
最后应说明的是：显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明本发明所作的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引申出的显而易见的变化或变动仍处于本发明的保护范围之中。