技术特征：
技术总结
本发明提供了一种击穿测试结构、显示面板和击穿测试方法。所述结构包括：基底；有源层，所述有源层设置在所述基底上；栅绝缘层，所述栅绝缘层设置在所述有源层上，所述栅绝缘层与所述有源层边沿对应的区域为爬坡区，位于所述爬坡区内部的区域为平面区；栅极层，所述栅极层设置在所述栅绝缘层上，包括相接的第一栅部和第二栅部，所述第一栅部覆盖所述平面区，所述第二栅部覆盖所述爬坡区，所述第一栅部和/或第二栅部为镂空图案以露出所述栅绝缘层。通过本发明实施例，在测试栅绝缘层的击穿电压时，可以根据击穿位置确定平面区和爬坡区哪一个被击穿，以及哪一个先被击穿，并且可以根据击穿现象准确得知栅绝缘层的膜层状况。
技术研发人员：刘振定;左博文;安亚斌;蔺聪
受保护的技术使用者：京东方科技集团股份有限公司;绵阳京东方光电科技有限公司
技术研发日：2018.08.29
技术公布日：2019.01.01