显示面板及其裂纹检测方法、显示装置与流程

本发明涉及显示技术领域，更具体地，涉及一种显示面板及其裂纹检测方法、显示装置。

背景技术：

在显示设备的生产过程中，为了达到较高的透光率，通常采用玻璃基板或塑胶基板等轻薄的基板制作显示屏。显示屏在模组工艺的前段，需要通过切割工艺裁切成要求尺寸，受切割工艺的影响，显示屏的边缘区域极易形成一些裂纹，在进行后续工艺以及最终产品的使用过程中，裂纹很有可能向显示屏的内部扩展，影响显示屏的正常显示。

现有的裂纹观测方法主要是依靠现场观测人员肉眼观察，对于小尺寸的裂纹，还需要配合显微镜进行观察，但这些方法相当费时费力，而且检出率也比较低。

经模组工艺后的显示屏，显微镜无法对其边缘区域的裂纹进行观测，这就使得裂纹观测必须在模组工艺的前段进行，难以确定后续工艺以及最终产品的使用过程中显示屏的边缘区域是否形成裂纹及裂纹的延伸情况。

技术实现要素：

有鉴于此，本发明提供了一种显示面板及其裂纹检测方法、显示装置。

本发明提供了一种显示面板，包括：显示区以及围绕显示区设置的非显示区；显示区包括多条沿第一方向延伸的扫描线；非显示区包括栅极驱动电路和裂纹检测电路；其中，栅极驱动电路包括多个级联的移位寄存器，移位寄存器的输出端和一条扫描线电连接；裂纹检测电路包括至少一个检测单元；

检测单元包括输入信号线、输出信号线、多条沿第三方向延伸的控制信号线以及多个沿第二方向排布的检测子单元，检测子单元包括控制端、输入端和输出端；一条控制信号线和一个移位寄存器的输出端电连接；检测子单元的控制端和一条控制信号线电连接，检测子单元的输入端和输入信号线电连接，检测子单元的输出端和输出信号线电连接；第一方向和第二方向相交。

本发明提供了一种显示装置，包括本发明提供的显示面板。

本发明还提供了一种裂纹检测方法，应用于本发明提供的显示面板，包括至少一个检测阶段，每个检测阶段包括：

控制移位寄存器逐级为检测子单元的控制端提供控制信号，以逐级导通检测子单元；

通过输入信号线为检测子单元的输入端提供输入信号；

通过输出信号线逐级获取检测子单元输出端的输出信号；

判断逐级获取的检测子单元的输出信号与输入信号是否相同，若是，则检测子单元所在线路为正常线路；若否，则检测子单元所在线路为异常线路；

根据正常线路和异常线路确定显示面板的裂纹位置。

与现有技术相比，本发明提供的显示面板及其裂纹检测方法、显示装置，至少实现了如下的有益效果：

在显示面板的非显示区设置了裂纹检测电路，裂纹检测电路中各检测子单元的控制端由控制信号线提供控制信号，由于控制信号线与移位寄存器的输出端电连接，从而可以通过移位寄存器逐级控制检测子单元导通与否。在为检测子单元提供输入信号时，通过获取输出信号线的输出信号即可判定位于非显示区裂纹的位置，提高了检测效率以及裂纹的检出率，并且还能不受模组工艺限制实时地检测裂纹的延伸情况，有利于进一步提高产品的良率，确保显示面板的正常显示。裂纹检测电路中检测单元的数量可以根据实际情况设置，有利于实现显示面板的窄边框化。

当然，实施本发明的任一产品必不特定需要同时达到以上所述的所有技术效果。

通过以下参照附图对本发明的示例性实施例的详细描述，本发明的其它特征及其优点将会变得清楚。

附图说明

被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本发明的实施例，并且连同其说明一起用于解释本发明的原理。

图1是本发明实施例提供的一种显示面板的平面结构示意图；

图2是图1中m区域的一种放大结构示意图；

图3是图2中检测单元的放大结构示意图；

图4是本发明实施例提供的一种栅极驱动电路的连接示意图；

图5是图1中m区域的另一种放大结构示意图；

图6是图5中检测单元的一种剖面结构示意图；

图7是本发明实施例提供的另一种显示面板的平面结构示意图；

图8是图7所示的显示面板的一种局部剖面结构示意图；

图9是本发明实施例提供的又一种显示面板的平面结构示意图；

图10是本发明实施例提供的又一种显示面板的平面结构示意图；

图11是本发明实施例提供的又一种显示面板的平面结构示意图；

图12是本发明实施例提供的又一种显示面板的平面结构示意图；

图13是本发明实施例提供的又一种显示面板的平面结构示意图；

图14是本发明实施例提供的一种裂纹检测方法的流程图；

图15是本发明实施例提供的一种输入信号与输出信号对比时序图；

图16是本发明实施例提供的另一种输入信号与输出信号对比时序图；

图17是图1中m区域的又一种放大结构示意图；

图18是图1中m区域的又一种放大结构示意图；

图19是图1中m区域的又一种放大结构示意图；

图20是本发明实施例提供的另一种裂纹检测方法的流程图；

图21是本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。

具体实施方式

现在将参照附图来详细描述本发明的各种示例性实施例。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本发明的范围。

以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本发明及其应用或使用的任何限制。

对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。

在这里示出和讨论的所有例子中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。

请参考图1、图2和图3所示，本发明提供了一种显示面板，包括：显示区aa以及围绕显示区设置的非显示区bb；显示区aa包括多条沿第一方向x延伸的扫描线gl；非显示区bb包括栅极驱动电路10和裂纹检测电路20；其中，栅极驱动电路10包括多个级联的移位寄存器11，移位寄存器11的输出端和一条扫描线gl电连接；裂纹检测电路20包括至少一个检测单元21；

检测单元21包括输入信号线22、输出信号线23、多条沿第三方向z延伸的控制信号线24以及多个沿第二方向y排布的检测子单元25，检测子单元25包括控制端c、输入端i和输出端o；一条控制信号线24和一个移位寄存器11的输出端电连接；检测子单元25的控制端c和一条控制信号线24电连接，检测子单元25的输入端i和输入信号线22电连接，检测子单元25的输出端o和输出信号线23电连接；第一方向x和第二方向y相交。

需要说明的是，多条控制信号线24沿第三方向z延伸，其中，第三方向z可以与第一方向x、第二方向y中的至少一者相交，本发明对此并不作具体限制，但为了便于描述，本发明仅以第三方向z与第一方向x为同一方向为例进行说明，后续不再赘述。

检测子单元25的控制端c、输入端i和输出端o分别与控制信号线24、输入信号线22和输出信号线23电连接，但输入信号线22与控制信号线24之间、输出信号线23与控制信号线24之间应绝缘。

多个移位寄存器11级联，移位寄存器11输出端和一条扫描线gl电连接，实现对显示区aa的扫描功能。具体的，请参考图4所示，第一级移位寄存器11的触发信号输入端用于接收起始信号stv，从第二级移位寄存器11开始，后一级移位寄存器11的触发信号输入端与前一级移位寄存器11的输出端电连接，以逐级对扫描线gl输出扫描信号，驱动显示区aa显示图像，所说的扫描信号可以是正向扫描信号，也可以是反向扫描信号，本发明对此并不做具体限制。

由于位于非显示区bb的裂纹检测电路20中，一条控制信号线24也与相应的一个移位寄存器11的输出端电连接，从而移位寄存器11在逐级对扫描线gl输出扫描信号的同时，还会逐级对控制信号线24输出控制信号，以逐级导通检测子单元25。

检测子单元25的输入端i和输出端o分别与输入信号线22和输出信号线23电连接，其中，输入信号线22可以为检测子单元25提供输入信号，检测子单元25逐级导通过程中，每个检测子单元25都可以通过输出信号线23输出相应的输出信号，通过输出信号即可判断每个检测子单元25所在线路是否为正常线路，若为正常线路，则该线路处于无裂纹区域；若为异常线路，则该线路处于裂纹区域。从而通过分析裂纹检测电路20全部检测子单元25所在线路的正常与否即可判定位于非显示区bb裂纹的位置。

本实施例提供的显示面板，在显示面板的非显示区设置了裂纹检测电路，裂纹检测电路中各检测子单元的控制端由控制信号线提供控制信号，由于控制信号线与移位寄存器的输出端电连接，从而可以通过移位寄存器逐级控制检测子单元导通与否。在为检测子单元提供输入信号时，通过获取输出信号线的输出信号即可判定位于非显示区裂纹的位置，提高了检测效率以及裂纹的检出率，并且还能不受模组工艺限制实时地检测裂纹的延伸情况，有利于进一步提高产品的良率，确保显示面板的正常显示。裂纹检测电路中检测单元的数量可以根据实际情况设置，有利于实现显示面板的窄边框化。

在一些可选的实施例中，请继续参考图2所示，扫描线gl延伸至非显示区bb，形成延伸部g1，延伸部g1复用为控制信号线24。此时控制信号线24和扫描线gl位于同一膜层，从而控制信号线24可以与扫描线gl一同图案化形成，无需另外增加膜层，有利于降低工艺难度，并实现显示面板的轻薄化。

当然，在不考虑工艺难度和显示面板尺寸等情况下，控制信号线24也可以和扫描线gl位于不同膜层。

在一些可选的实施例中，请参考图5和图6所示，检测子单元25包括设置于衬底基板40上的薄膜晶体管t，薄膜晶体管t的栅极t3和一条控制信号线24电连接，薄膜晶体管t的第一极t1和输入信号线22电连接，薄膜晶体管t的第二极t2和输出信号线23电连接。

本实施例中，仅以一个检测子单元25包括一个薄膜晶体管t为例进行说明，通过该薄膜晶体管t可以使检测子单元25具有开关特性。请结合参考图3所示，薄膜晶体管t的栅极t3即作为检测子单元25的控制端c，薄膜晶体管t的第一极t1即作为检测子单元25的输入端i或输出端o。其中，第一极t1作为输入端i时，第二极t2则作为输出端o；或者，第一极t1作为输出端o时，第二极t2则作为输入端i。

薄膜晶体管t的第一极t1和第二极t2均和有源层t4电连接，从而使其能够表现出较好的开关特性。当薄膜晶体管t所在线路处于无裂纹区域时，输出信号线23的输出信号与输入信号线22提供的输入信号相同；当薄膜晶体管t所在线路处于裂纹区域时，输出信号线23的输出信号就会与输入信号线22提供的输入信号存在差别，根据该差别即可判断出裂纹的存在甚至是裂纹的大致位置，有利于提高检测效率，确保产品的良率。

可选的，检测子单元25也可以是多个薄膜晶体管t的组合、薄膜晶体管t与其他元件的组合等等，本实施例对此并不作具体限制。

需要说明的是，薄膜晶体管t通常分为n型晶体管和p型晶体管，n型晶体管在高电平信号的控制下导通，在低电平信号的控制下截止；p型晶体管则在低电平信号的控制下导通，在高电平信号的控制下截止，本发明对此也不作具体限制，仅以各薄膜晶体管t为n型晶体管为例进行说明，后续不再赘述。

根据薄膜晶体管t的类型及其栅极t3的信号，可以将第一极t1作为其源极、第二极t2作为其漏极；或者，可以将第一极t1作为其漏极、第二极t2作为其源极，本实施例对此并不作具体限制。

可选的，请继续参考图5所示，薄膜晶体管t之间的间距为50-100μm。本实施例中，薄膜晶体管t之间的间距是指在第一方向x和/或第二方向y上，相邻两个薄膜晶体管t之间的距离，在该距离为50-100μm的情况下，根据输入信号与输出信号能够进一步提高判断裂纹形状和位置的精度，以提高检测效率。

薄膜晶体管t的数量可以根据实际检测情况设置，本实施例对此并不作具体限制。

在一些可选的实施例中，请参考图7和图8所示，显示区aa还包括多条沿第二方向y延伸的数据线dl；输入信号线22和输出信号线23与数据线dl位于同一膜层。需要说明的是，为了更加直观地示意本实施例的技术方案，图7所示的平面结构中仅示意了一个检测单元21，当然，在非显示区bb的宽度较大的情况下，检测单元21的数量可以是如图5所示的多个，本实施例对此并不作具体限制。

通常，在显示区aa内，数据线dl与扫描线gl的交叉处设置有开关元件，开关元件的控制端和输入端分别连接至扫描线gl和数据线dl，该开关元件可以是薄膜晶体管t’，数据线dl与薄膜晶体管t’的源漏极位于同一膜层。本实施例中，输入信号线22和输出信号线23与数据线dl同膜层设置，由于薄膜晶体管t与薄膜晶体管t’的构造相同，故输入信号线22和输出信号线23可以与数据线dl、第一极t1、第二极t2一同图案化，无需另外增加膜层，有利于降低工艺难度，并实现显示面板的轻薄化。

当然，在显示面板膜层数较多的情况下，输入信号线22、输出信号线23中的至少一者也可以与第一极t1(或第二极t2)位于不同膜层，以便根据实际情况灵活调整信号线的排布，提高显示面板其他膜层的利用率。比如，请参考图6所示，输入信号线22和输出信号线23都与第一极t1(或第二极t2)位于不同膜层，此时输入信号线22可以通过过孔50和第一极t1电连接，输出信号线23可以通过过孔50和第二极t2电连接。

在一些可选的实施例中，请参考图9所示，裂纹检测电路20为两个，且两个裂纹检测电路20位于显示区aa相对的两侧，从而可以实时检测位于显示区aa两侧的非显示区域是否存在裂纹以及裂纹的延伸情况，提高产品的良率，确保显示面板的正常显示。每侧裂纹检测电路20中检测单元21的数量可以相同，或者也可以不同；栅极驱动电路10可以是一个，也可以是多个，本实施例对此都不作具体限制。

可选的，裂纹检测电路20为两个，且两个裂纹检测电路20位于显示区aa相对的两侧，栅极驱动电路10也为两个，每个栅极驱动电路10位于裂纹检测电路20与显示区aa之间，栅极驱动电路10一方面为扫描线gl的两端同时提供扫描信号，另一方面还会为控制信号线24提供控制信号，以导通裂纹检测电路20中的检测子单元25。栅极驱动电路10中移位寄存器11与扫描线gl之间的连接方式可以有多种，从而能够适应显示面板的多种驱动要求，确保检测效率以及裂纹的检出率，比如图9所示，每条扫描线gl的两端均与移位寄存器11电连接；再比如图10所示，位于显示区aa其中一侧的移位寄存器11与第m条扫描线gl的一端电连接，位于显示区aa另一侧的移位寄存器11与第n条扫描线gl的一端电连接，其中，m为奇数，n为偶数。

可选的，请参考图11所示，裂纹检测电路20为两个，且两个裂纹检测电路20位于显示区aa相对的两侧，栅极驱动电路10仅为一个，该栅极驱动电路10位于其中一个裂纹检测电路20与显示区aa之间，栅极驱动电路10中的移位寄存器11一方面为扫描线gl提供单向的扫描信号，另一方面仍然为控制信号线24提供，以导通裂纹检测电路20中的检测子单元25。

在一些可选的实施例中，请参考图12所示，显示面板还包括弯折区z，裂纹检测电路20位于弯折区z。显示面板通过弯折区z实现弯折，一旦位于弯折区z的非显示区域出现裂纹，随着弯折操作次数的增加，裂纹会有朝某一方向延伸的趋势，通过将裂纹检测电路20设置在弯折区z，可以实时检测裂纹的位置和延伸情况，有利于找出预防裂纹产生或者及时调整显示面板设计方案和工艺条件，以延缓裂纹扩散，提高产品的良率。

本实施例中，弯折区z的数量可以是一个，也可以根据实际需要设置多个，本实施例对此并不作具体限制，仅以设置一个弯折区z为例进行说明。

在一些可选的实施例中，请参考图13所示，非显示区bb还包括绑定区30，绑定区30包括多个导电焊盘31，输入信号线22、输出信号线23分别和导电焊盘31电连接。从而可以通过绑定区30的驱动芯片为检测子单元25提供输入信号，并接收检测子单元25的输出信号，检测子单元25在移位寄存器11的作用下逐级导通时，可以根据获得的输出信号判定非显示区bb裂纹的位置，有效提高了检测效率以及裂纹的检出率。

当然，输入信号线22和输出信号线23也可以与显示面板外部的信号收发器电连接，直接通过分析信号收发器的收发信号来判定非显示区bb裂纹的位置，无需更改绑定区30的设置，有利于简化显示面板的制作工艺，但本实施例对此并不做具体限制。

请结合参考图1-3和图14所示，本发明提供了一种裂纹检测方法，应用于本发明提供的显示面板，包括至少一个检测阶段，每个检测阶段包括：

s141、控制移位寄存器11逐级为检测子单元25的控制端c提供控制信号，以逐级导通检测子单元25；

s142、通过输入信号线22为检测子单元25的输入端i提供输入信号；

s143、通过输出信号线23逐级获取检测子单元25输出端o的输出信号；

s144、判断逐级获取的检测子单元25的输出信号与输入信号是否相同，若是，则检测子单元25所在线路为正常线路；若否，则检测子单元25所在线路为异常线路；

s145、根据正常线路和异常线路确定显示面板的裂纹位置。

本实施例提供的裂纹检测方法中，检测阶段可以根据实际需要设置至少一个，本实施例对此并不作具体限制，仅以设置一个检测阶段为例进行说明。

具体的，移位寄存器11在逐级对扫描线gl输出扫描信号的同时，也会逐级对控制信号线24输出控制信号，以逐级导通检测子单元25。在检测子单元25逐级导通的过程中，输入信号线22为检测子单元25提供输入信号，通过获取输出信号线23的输出信号即可判断每个检测子单元25所在线路是否为正常线路，若为正常线路，则该线路处于无裂纹区域；若为异常线路，则该线路处于裂纹区域。从而通过分析裂纹检测电路20全部检测子单元25所在线路的正常与否即可判定位于非显示区bb裂纹的位置，提高了检测效率以及裂纹的检出率，并且还能不受模组工艺限制实时地检测裂纹的延伸情况，有利于进一步提高产品的良率，确保显示面板的正常显示。

在一些可选的实施例中，输入信号为方波、简谐波、锯齿波中的一者。本实施例中，以一个检测子单元包括一个薄膜晶体管，且输入信号为方波为例进行说明：请结合参考图5和图15所示，移位寄存器11对第一条扫描线gl输出扫描信号时，检测单元21内第一个薄膜晶体管t的导通时间为t1，移位寄存器11对第二条扫描线gl输出扫描信号时，检测单元21内第二个薄膜晶体管t的导通时间为t2…以此类推，当检测单元21内每个薄膜晶体管t所在线路均为正常线路时，输出信号out为与输入信号in相同的方波。

当检测单元21内存在薄膜晶体管t所在路线为异常线路时，请参考图16所示，在该薄膜晶体管t的导通时间内，输出信号out为低电位信号。

请参考图17所示，控制信号线24处于裂纹l所在区域，此时所在线路经过裂纹l的薄膜晶体管t无法导通，输出信号线23输出低电位信号。

请参考图18所示，输入信号线22处于裂纹l所在区域，此时所在线路经过裂纹l的薄膜晶体管t无法接收信号，输出信号线23输出低电位信号。

请参考图19所示，输出信号线23处于裂纹l所在区域，此时所在线路经过裂纹l的薄膜晶体管t无法输出信号，输出信号线23输出低电位信号。

当然，薄膜晶体管t所在线路为异常线路的情况还可以是其他，本实施例仅以上述三种情况为例进行说明。

在一些可选的实施例中，请结合参考图5和图20所示，本发明提供的裂纹检测方法包括至少两个检测阶段，且相邻两个检测阶段之间设置有清零阶段，清零阶段包括：

通过输入信号线22为检测子单元25的输入端提供第一恒压信号，通过输出信号线23为检测子单元25的输出端提供第二恒压信号。

本实施例中，仍然以一个检测子单元25包括一个薄膜晶体管t，且输入信号为方波为例进行说明：在检测阶段，输出信号线23的信号输出情况如上所述；在清零阶段，分别为输入信号线22和输出信号线23提供第一恒压信号和第二恒压信号，以防止前一检测阶段的输入信号和输出信号影响后一检测阶段的输入信号和输出信号，有利于提高检测精度。

裂纹检测电路仅在需要检测裂纹时工作，相邻两个检测阶段之间的时间间隔可以根据实际检测需要设置，本实施例对此并不作具体限制。

可选的，第一恒压信号和第二恒压信号的电压幅值相同。比如，第一恒压信号和第二恒压信号都为零电位信号，也即后一检测阶段初始的输入输出信号为零电位信号，从而可以更加直观地将从输出信号线23获取的输出信号与输入信号进行比对，以判断检测子单元25所在线路是否为正常线路，有利于提高检测效率。

本发明还提供了一种显示装置，包括本发明提供的显示面板。

请参考图21所示，本实施例的显示装置200包括本发明上述任一实施例提供的显示面板100。图21仅以手机为例，对显示装置200进行了说明。可以理解的是，本发明实施例提供的显示装置200还可以是平板、电脑、电视、车载显示等其他具有显示功能的显示装置，本发明对此并不作具体限制。本发明实施例提供的显示装置，具有本发明实施例提供的显示面板的有益效果，具体可以参考上述各实施例对于显示面板的具体说明，本实施例在此不再赘述。

通过上述实施例可知，本发明提供的显示面板及其裂纹检测方法、显示装置，至少实现了如下的有益效果：

在显示面板的非显示区设置了裂纹检测电路，裂纹检测电路中各检测子单元的控制端由控制信号线提供控制信号，由于控制信号线与移位寄存器的输出端电连接，从而可以通过移位寄存器逐级控制检测子单元导通与否。在为检测子单元提供输入信号时，通过获取输出信号线的输出信号即可判定位于非显示区裂纹的位置，提高了检测效率以及裂纹的检出率，并且还能不受模组工艺限制实时地检测裂纹的延伸情况，有利于进一步提高产品的良率，确保显示面板的正常显示。裂纹检测电路中检测单元的数量可以根据实际情况设置，有利于实现显示面板的窄边框化。

虽然已经通过例子对本发明的一些特定实施例进行了详细说明，但是本领域的技术人员应该理解，以上例子仅是为了进行说明，而不是为了限制本发明的范围。本领域的技术人员应该理解，可在不脱离本发明的范围和精神的情况下，对以上实施例进行修改。本发明的范围由所附权利要求来限定。