技术特征：
技术总结
本发明涉及一种直接测定样品中痕量铝、硅、磷、硫、氯元素含量的分析装置及方法，该装置包括X射线荧光分析仪单元(200)、充气单元(100)、样品杯(300)以及控制单元；X射线荧光分析仪单元(200)包括能够进行气体填充的样品测试腔(203)；充气单元(100)能够可控制地向样品测试腔(203)内进行充气、排气；控制单元，对该分析装置进行控制，并将采集到的数据进行积分、统计、绘制工作曲线、标定等处理，一次性得到被测样品中铝、硅、磷、硫、氯每个元素的含量。本发明的优点在于样品无需前处理，适用于固体和液体样品，具有无损、直接、快速、灵敏度高、使用成本低、便于现场测量等特点。
技术研发人员：廖学亮;程大伟;刘明博;胡学强;杨博赞;倪子月;岳元博;周超;宋春苗;陈吉文
受保护的技术使用者：钢研纳克检测技术股份有限公司
技术研发日：2018.10.26
技术公布日：2019.01.18