基于模块化激励模型的集成电路测试激励生成方法与流程

本发明属于集成电路测试技术领域，具体涉及一种基于模块化激励模型的集成电路测试激励生成方法。

背景技术

目前在开展集成电路测试时，首先由测试人员编写测试说明文档，该测试说明文档包含待测集成电路的全部测试用例。每一个测试用例描述了测试目的、测试输入数据、测试步骤及期望测试结果。以某fpga软件的测试用例为例，如图1所示。

fpga软件仿真测试，需要将上述测试用例转变为fpga仿真执行工具能够识别的语言以便载入仿真执行工具中执行仿真。目前测试用例的实现是在代码编辑环境中，通过人工编辑代码实现testbench文件，需消耗大量人力及时间。通过逐行编码完成的testbench文件，如图2所示。

上述测试用例的逐行编码方式难以体现全部测试用例与测试代码的对应关系，且难以对单个测试用例或多个测试用例的执行实施有效的控制。亦无法清晰显示测试用例时序性实现，既影响测试进度及质量，也难以实现fpga仿真测试的批量执行，对fpga仿真测试技术发展和人物质量水平的提升带来问题。

因此，建立一种满足系统性、时序性、可视化、批量执行的集成电路测试激励生成方法成为了亟待解决的技术问题。

技术实现要素：

(一)要解决的技术问题

本发明要解决的技术问题是：如何解决目前集成电路测试技术方面，人工成本大，调试复杂的矛盾，提升集成电路仿真测试环境的系统性、时序性、可视化、测试用例批处理功能。

(二)技术方案

为解决上述技术问题，本发明提供一种基于模块化激励模型的集成电路测试激励生成方法，所述方法基于集成电路测试激励生成系统来实施，所述集成电路测试激励生成系统包括：坐标系建立模块、任务点配置模块、任务点设置模块、序列生成模块、

所述方法包括以下步骤：

步骤s1：坐标系建立模块通过分析被测集成电路的系统架构，确定被测集成电路及其外围接口器件，被测集成电路及每一个外围接口器件均作为一个单独的模块，建立带有上述模块的二维坐标轴，获得横坐标为被测集成电路及其外围接口模块，纵坐标为对应时间或时序的二维坐标系；

步骤s2：基于坐标系建立模块获得二维坐标系的基础上，任务点配置模块进一步依据测试用例的要求在二维坐标轴上对任务点进行配置，将任务点名称设置为与测试用例的名称相关联；

步骤s3：基于任务点配置模块在每个模块的二维坐标轴上配置任务点的基础上，任务点设置模块进一步进行任务点的设置，依据测试用例的要求对每一个任务点进行设置，针对测试用例中描述的测试对象、关联对象、测试激励及时序、响应要求，确定任务点的触发时间、触发条件、测试输入数据，并将测试用例上述相关内容配置给二维坐标轴中的任务点，并通过任务点特性描述测试用例名称；

步骤s4：基于任务点设置模块根据测试用例设置任务点的基础上，序列生成模块进一步进行全部测试用例的任务点配置，每一个任务点对应一个测试用例描述说明和启用控制，形成任务点序列和测试用例序列；

步骤s5：基于序列生成模块完成任务点序列和测试用例序列的基础上，激励文件生成模块进一步进行仿真执行中的测试用例选择，依据选择的测试用例不同，形成可支撑三方仿真工具执行仿真的激励文件。

其中，所述步骤s2中，所配置的任务点设置为并发调度。

其中，所述步骤s2中，所配置的任务点设置为时序调度。

其中，所述步骤s5中，选择单个测试用例。

其中，所述步骤s5中，根据需要选择多个或全部测试用例。

(三)有益效果

与现有技术相比较，本发明采用模块化激励模型生成集成电路测试激励，实现了测试激励的自动生成，不仅解决了现有方案中人员资历、上市时间与测试激励有效性之间的矛盾，而且实现简单易于掌握，适用于各种集成电路的测试。

通过实施上述技术方案，较好的解决了集成电路建立仿真测试环境时逐行编辑测试代码，导致大量测试代码与测试用例难以有效对应的问题。通过设置任务点，每一个任务点均可以与测试用例对应，可以较好的体现任务调度与全部测试用例的对应关系，从而使任务点能够较好覆盖测试说明文档中的测试用例。

本发明较好的解决了集成电路测试用例序列的系统性、时序性的图形界面展示问题。通过坐标轴，对仿真系统模型上的每一个器件，依据其时序要求设置任务点，任务点的设置可与测试用例实现全面地对应和覆盖，使集成电路测试用例能够在任务调度界面中系统地展示。

本发明较好的解决了对单个测试用例或多个测试用例的执行实施有效控制的问题。可通过用户界面选择的方式，实现仿真过程中的测试用例组合选择，实现单个测试用例、多个测试用例和批量测试用例仿真执行，为实现集成电路自动化仿真提供了较好的方法。

附图说明

图1为fpga软件测试用例描述示意图。

图2为人工逐行编辑代码实现测试用例的硬件描述语言示意图。

图3为待测fpga及其外围接口器件测试用例二维坐标轴成果1示意图。

图4为时间轴配置调度任务点成果2示意图。

图5为调度任务点设置代码成果3示意图。

图6为任务点对应测试用例成果3示意图。

图7为任务点序列成果4示意图。

图8为测试用例序列成果4示意图。

图9为批量测试用例生成仿真工程文件成果5示意图。

图10为任务点示意图。

图11为任务点属性输入示意图。

图12为本发明技术方案流程图。

具体实施方式

为使本发明的目的、内容、和优点更加清楚，下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。

为解决现有技术的问题，本发明提供一种基于模块化激励模型的集成电路测试激励生成方法，如图1所示，所述方法基于集成电路测试激励生成系统来实施，所述集成电路测试激励生成系统包括：坐标系建立模块、任务点配置模块、任务点设置模块、序列生成模块、

如图12所示，所述方法包括以下步骤：

步骤s1：坐标系建立模块通过分析被测集成电路的系统架构，确定被测集成电路及其外围接口器件，被测集成电路及每一个外围接口器件均作为一个单独的模块，建立带有上述模块的二维坐标轴，获得横坐标为被测集成电路及其外围接口模块，纵坐标为对应时间或时序的二维坐标系；形成成果1；如图3所示。

步骤s2：基于坐标系建立模块获得二维坐标系的基础上，任务点配置模块进一步依据测试用例的要求在二维坐标轴上对任务点进行配置，将任务点名称设置为与测试用例的名称相关联；形成成果2；如图4所示。

步骤s3：基于任务点配置模块在每个模块的二维坐标轴上配置任务点的基础上，任务点设置模块进一步进行任务点的设置，依据测试用例的要求对每一个任务点进行设置，针对测试用例中描述的测试对象、关联对象、测试激励及时序、响应要求，确定任务点的触发时间、触发条件、测试输入数据，并将测试用例上述相关内容配置给二维坐标轴中的任务点，并通过任务点特性描述测试用例名称；形成成果3；如图5、图6所示。

步骤s4：基于任务点设置模块根据测试用例设置任务点的基础上，序列生成模块进一步进行全部测试用例的任务点配置，每一个任务点对应一个测试用例描述说明和启用控制，形成任务点序列和测试用例序列；形成成果4；如图7、图8所示。

步骤s5：基于序列生成模块完成任务点序列和测试用例序列的基础上，激励文件生成模块进一步进行仿真执行中的测试用例选择，依据选择的测试用例不同，形成可支撑三方仿真工具执行仿真的激励文件。形成成果5。如图9所示。

其中，所述步骤s2中，所配置的任务点设置为并发调度。

其中，所述步骤s2中，所配置的任务点设置为时序调度。

其中，所述步骤s5中，选择单个测试用例。

其中，所述步骤s5中，根据需要选择多个或全部测试用例。

实施例1

本实施例中，

1)该方法应用于集成电路某仿真支撑平台中。在该仿真平台中，分析集成电路及其外围系统架构，确定被测试集成电路及其外围接口模块。

2)分析测试用例，确定测试用例相关数据的输入输出对象、输出输出数据的特点、测试用例时序关系特点。

3)建立坐标轴，该坐标轴横坐标为被测试集成电路及其外围接口模块，纵坐标为时间。横坐标上的每一个器件均对应一个纵轴。

4)将被测集成电路、外围接口器件所在的时间轴，按照并行时序、串行时序的要求进行时序和数据的任务点设置。如图10所示。

5)将上述任务点依据测试用例要求进行设置，与测试用例具有较好的对应关系，如图11所示。

6)将坐标轴全部任务点的配置，自动生成集成电路仿真执行代码。

综上，本发明属于集成电路测试技术领域，具体涉及一种基于模块化激励模型的集成电路测试激励生成方法。解决了现有通过人工编辑代码逐行生成集成电路测试激励，缺乏从系统角度把握测试任务和时序，难以批量控制和执行测试用例的弊端。本发明适用于集成电路测试，按照系统时序要求将测试用例实现为批量任务调度的测试要求。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变形，这些改进和变形也应视为本发明的保护范围。