一种新型滤波器校准匹配测试装置的制作方法

本发明涉及滤波器测试装置，尤其涉及一种新型滤波器校准匹配测试装置。

背景技术：

随着无线通信系统的快速发展，滤波器在微波集成电路中扮演着至关重要的角色，它对信号具有频率选择性，在通信系统中通过或阻断、分开或合成某些频率的信号。作为射频发射和接收系统必不可少的一部分，滤波器在无线通信领域面临着巨大的机遇和挑战。在实际应用中，对微波滤波器的性能、尺寸、可靠性和成本均提出了更高的要求。这就使微波滤波器的小型化和轻量化作为一个热点日益受到关注。

对于小型化滤波器的测试，通常采用直接将测试电缆焊在器件上或者测试探针搭接在器件上的方法。采用焊接的方法中破坏了器件本身的属性，且费时费力，测试过程容易出错，甚至需要测试夹具配合才能完成器件的测试，而且这些夹具往往不具备通用性。采用测试探针的测试，由于缺乏针对夹具参考面和测试探针通道的校准手段，校准只停留在对测试仪器端口的校准上，无法将测试通道和夹具参考面纳入校准范畴。

技术实现要素：

为了解决上述的技术问题，克服现有技术中的不足，提供一种新型滤波器校准匹配测试装置，其具有无损伤、接触良好、可匹配、可校准和测试数据精确等优点。

本发明解决上述问题所采用的技术方案是：该新型滤波器校准匹配测试装置，其特征在于：包括盖板、输入端、第一阻抗匹配节、载体、第二阻抗匹配节、输出端、直通校准槽以及延迟线校准槽；输入端包括连接器、50欧姆绝缘子和绝缘子固定接头，第一阻抗匹配节包括阻抗匹配腔和50欧姆绝缘子，载体包括一个矩形金属槽，第二阻抗匹配节包括阻抗匹配腔和50欧姆绝缘子，输出端包括连接器、50欧姆绝缘子和绝缘子固定接头；所述输入端与第一阻抗匹配节的左端连接，第一阻抗匹配节的右端与载体的左端连接，载体的右端与第二阻抗匹配节的左端连接，第二阻抗匹配节的右端和输出端连接。

进一步的，所述第一阻抗匹配节和所述第二阻抗匹配节的阻抗匹配腔中均粘接阻抗匹配支路或50欧姆阻抗线；所述第一阻抗匹配节和所述第二阻抗匹配节的50欧姆绝缘子均压接在阻抗匹配支路或50欧姆阻抗线上。

进一步的，所述输入端的连接器与输入端的50欧姆绝缘子的左端对插，输入端的50欧姆绝缘子烧接在输入端的绝缘子固定接头上，输入端的50欧姆绝缘子的右端压接在阻抗匹配支路或50欧姆阻抗线上；所述输出端的连接器与输出端的50欧姆绝缘子的右端对插，输出端的50欧姆绝缘子烧接在输出端的绝缘子固定接头上，输出端的50欧姆绝缘子的左端压接在阻抗匹配支路或50欧姆阻抗线上。

进一步的，所述载体上放置滤波器，第一阻抗匹配节和第二阻抗匹配节上的50欧姆绝缘子分别压接在滤波器的输入端口和输出端口上。信号从输入端输入，通过第一阻抗匹配节上的阻抗匹配支路进入载体上的滤波器，再经由第二阻抗匹配节上的阻抗匹配支路传输到输出端，实现滤波器的校准、匹配和测试。

进一步的，所述直通校准槽和所述延迟线校准槽均呈工字型且其中部均具有一贯通的矩形槽；所述第一阻抗匹配节和所述第二阻抗匹配节均呈工字型且其中部具有一非贯通的矩形的阻抗匹配腔。

进一步的，所述直通校准槽的两端分别与输入端和输出端连接而构成直通校准键。

进一步的，所述延迟线校准槽的两端分别与输入端和输出端连接而构成延迟线校准键。

进一步的，所述输入端与第一阻抗匹配节连接构成反射校准键。

进一步的，所述盖板、所述输入端、所述第一阻抗匹配节、所述载体、所述第二阻抗匹配节和所述输出端均通过螺钉固定。

进一步的，所述盖板、所述连接器、所述绝缘子固定接头、所述阻抗匹配腔、所述载体、所述直通校准槽以及所述延迟线校准槽采用金属材料，所述金属材料为表面镀金或银的铜或铝。

与现有技术相比，本发明具有以下有益效果：信号从输入端输入，通过第一阻抗匹配节上的阻抗匹配支路进入载体上的滤波器，再经由第二阻抗匹配节上的阻抗匹配支路传输到输出端，实现滤波器的校准、匹配和测试，通过更换载体和阻抗匹配节中匹配支路图形，确保该装置的测试的通用性，具有无损伤、接触良好、可匹配、可校准和测试数据精确等优点。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明的立体结构示意图。

图2是本发明的平面结构示意图。

图3是本发明中直通校准槽的立体结构示意图。

图4是本发明中延迟线校准槽的立体结构示意图。

图5是本发明中直通校准键的立体结构示意图。

图6是本发明中延迟线校准键的立体结构示意图。

图7是本发明中反射校准键的立体结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

参见图1至图7，一种新型滤波器校准匹配测试装置，包括滤波器、盖板8、输入端1、第一阻抗匹配节2、载体3、第二阻抗匹配节4、输出端5、直通校准槽6以及延迟线校准槽7；输入端1包括连接器、50欧姆绝缘子和绝缘子固定接头，第一阻抗匹配节2包括阻抗匹配腔21和50欧姆绝缘子，载体3包括一个矩形金属槽，第二阻抗匹配节4包括阻抗匹配腔21和50欧姆绝缘子，输出端5包括连接器、50欧姆绝缘子和绝缘子固定接头；所述输入端1与第一阻抗匹配节2的左端连接，第一阻抗匹配节2的右端与载体3的左端连接，载体3的右端与第二阻抗匹配节4的左端连接，第二阻抗匹配节4的右端和输出端5连接。

第一阻抗匹配节2和所述第二阻抗匹配节4的阻抗匹配腔21中均粘接阻抗匹配支路(图中未示出)或50欧姆阻抗线(图中未示出)；第一阻抗匹配节2和所述第二阻抗匹配节4的50欧姆绝缘子均压接在阻抗匹配支路或50欧姆阻抗线上。

输入端1的连接器与输入端1的50欧姆绝缘子的左端对插，输入端1的50欧姆绝缘子烧接在输入端1的绝缘子固定接头上，输入端1的50欧姆绝缘子的右端压接在阻抗匹配支路或50欧姆阻抗线上；输出端5的连接器与输出端5的50欧姆绝缘子的右端对插，输出端5的50欧姆绝缘子烧接在输出端5的绝缘子固定接头上，输出端5的50欧姆绝缘子的左端压接在阻抗匹配支路或50欧姆阻抗线上。

载体3上放置滤波器，第一阻抗匹配节2和第二阻抗匹配节4上的50欧姆绝缘子分别压接在滤波器的输入端1口和输出端5口上。信号从输入端1输入，通过第一阻抗匹配节2上的阻抗匹配支路进入载体3上的滤波器，再经由第二阻抗匹配节4上的阻抗匹配支路传输到输出端5，实现滤波器的校准、匹配和测试。

直通校准槽6和延迟线校准槽7均呈工字型且其中部均具有一贯通的矩形槽；第一阻抗匹配节2和所述第二阻抗匹配节4均呈工字型且其中部具有一非贯通的矩形的阻抗匹配腔21。

直通校准槽6的两端分别与输入端1和输出端5连接而构成直通校准键。

延迟线校准槽7的两端分别与输入端1和输出端5连接而构成延迟线校准键。

输入端1与第一阻抗匹配节2连接构成反射校准键。

盖板8、输入端1、第一阻抗匹配节2、载体3、第二阻抗匹配节4和输出端5均通过螺钉固定。

盖板8、连接器、绝缘子固定接头、阻抗匹配腔21、载体3、直通校准槽6以及延迟线校准槽7采用金属材料，金属材料为表面镀金或银的铜或铝。

实施例1

选用开槽尺寸为4*4mm的载体3放置滤波器，第一阻抗匹配节2和第二阻抗匹配节4的阻抗匹配腔21中均粘接长度为3mm长的50欧姆阻抗线，第一阻抗匹配节2和第二阻抗匹配节4的阻抗匹配腔21中的50欧姆绝缘子一端分别压接在阻抗匹配腔21中的50欧姆阻抗线上，另一端分别压接在载体3上的滤波器的输入端1口和输出端5口上，而输入端1和输出端5的50欧姆绝缘子分别压接在50欧姆阻抗线的另一端。

在测试前使用网络分析中trl校准功能和校准匹配测试装置的trl校准键对装置进行校准。输入端1的50欧姆绝缘子压接在第一阻抗匹配节2上长度为3mm的50欧姆阻抗线上构成反射校准键，对反射信号进行校准。输入端1的50欧姆绝缘子和输出端5的50欧姆绝缘子分别压接在直通校准槽6上长度为6mm的50欧姆阻抗线的两端构成直通校准键，对直通信号进行校准。输入端1的50欧姆绝缘子和输出端5的50欧姆绝缘子分别压接在延迟线校准槽7上长度为7.5mm的50欧姆阻抗线的两端构成延迟线校准键，对直通信号进行校准。

本发明实施例中的新型滤波器校准匹配测试装置采用上述校准测试方式，将测试通道和夹具参考面纳入校准范畴，能够快速精确测试滤波器的电性能。

实施例2

滤波器的实际输入输出阻抗不是50欧姆，其使用在50欧姆阻抗系统中则需要加入阻抗匹配。

选用开槽尺寸为4*4mm的载体3放置滤波器，第一阻抗匹配节2和第二阻抗匹配节4的阻抗匹配腔21中均粘接长度为3mm长的阻抗匹配线(图中未示出)，第一阻抗匹配节2和第二阻抗匹配节4的阻抗匹配腔21中的50欧姆绝缘子一端分别压接在阻抗匹配腔21中的阻抗匹配线上，另一端分别压接在载体3上的滤波器的输入端1口和输出端5口上，而输入端1和输出端5的50欧姆绝缘子分别压接在阻抗匹配线的另一端。

本发明实施例中的新型滤波器校准匹配测试装置采用上述匹配测试方式，有助于快速高效地将滤波器快速匹配到50欧姆系统中，以满足实际使用要求。

应当指出，以上借助优选实施例对本发明的技术方案进行的详细说明是示意性的而非限制性的。本领域的普通技术人员在阅读本发明说明书的基础上可以对实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明实施例技术方案的范围。