光纤光栅测试系统及光纤光栅性能测试方法与流程

本发明涉及光纤光栅领域，具体涉及一种光纤光栅测试系统及光纤光栅性能测试方法。

背景技术：

光纤光栅是制作光纤激光器的核心器件，起到筛选波长、提供反馈的功能；所以光栅的好坏会直接影响光纤激光器的最终参数。

因此如何测试光纤光栅的性能，是目前亟待解决的。

技术实现要素：

本发明的目的是提供一种光纤光栅测试系统及光纤光栅性能测试方法。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种光纤光栅测试系统,包括：

ase光源、环形器、合束器、被测光纤光栅以及光谱仪；

所述ase光源产生的宽带光谱依次通过所述环形器、所述合束器传输到所述被测光纤光栅；

所述被测光纤光栅适于将满足布拉格条件的波长进行反射，且反射光通过合束器、环形器传输到光谱仪上；

所述光谱仪适于对反射光的数据进行测试，从而完成对光栅的性能测试。

进一步地，所述数据包括中心波长、3db带宽以及稳定性。

进一步地，所述光纤光栅测试系统还包括挡光板；

所述被测光纤还适于将不满足布拉格条件的波长透过所述被测光栅传输至遮光板。

进一步地，所述光纤光栅测试系统还包括泵浦源；

所述泵浦源适于产生泵浦光通过所述合束器传输到所述被测光纤光栅；

所述被测光纤光栅适于将满足布拉格条件的波长的泵浦光进行反射，且反射光通过合束器、环形器传输到光谱仪上。

进一步地，所述环形器、合束器、被测光纤光栅设置于一个散热片上。

本发明还提供了一种光纤光栅性能测试方法，所述光纤光栅性能测试方法通过将ase光源产生的宽带光谱传输至被测光纤光栅，并对被测光纤光栅的放射光通过光谱仪进行分析，从而完成对光栅的性能测试。

进一步地，所述通过将ase光源产生的宽带光谱传输至被测光纤光栅的方法为所述ase光源产生的宽带光谱依次通过环形器、合束器传输到所述被测光纤光栅。

进一步地，所述对被测光纤光栅的放射光通过光谱仪进行分析的方法为所述被测光纤光栅适于将满足布拉格条件的波长进行反射，且反射光通过合束器、环形器传输到光谱仪上，所述光谱仪适于对反射光的数据进行测试。

进一步地，所述光纤光栅性能测试方法还包括：

将泵浦光传输至被测光纤光栅，并对被测光纤光栅的放射光通过光谱仪进行分析，从而完成对光栅在泵浦光下的性能测试。

进一步地，所述将泵浦光传输至被测光纤光栅的方法为泵浦源适于产生泵浦光依次通过环形器、合束器传输到被测光纤光栅。

本发明的有益效果是，本发明提供了一种光纤光栅测试系统及光纤光栅性能测试方法，其中，光纤光栅测试系统包括：ase光源、环形器、合束器、被测光纤光栅以及光谱仪；所述ase光源产生的宽带光谱依次通过所述环形器、所述合束器传输到所述被测光纤光栅；所述被测光纤光栅适于将满足布拉格条件的波长进行反射，且反射光通过合束器、环形器传输到光谱仪上；所述光谱仪适于对反射光的数据进行测试，从而完成对光栅的性能测试。通过光纤光栅测试系统形成一个测试工位，对光纤光栅进行批量测试，结构简单，易于操作。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。

图1示出了本发明实施例所提供的光纤光栅测试系统的结构示意图。

图中：1-ase光源；2-环形器；3-合束器；4-被测光纤光栅；5、光谱仪；6-遮光板；7-散热片；8-泵浦源。

具体实施方式

现在结合附图对本发明作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本发明的基本结构，因此其仅显示与本发明有关的构成。

实施例

如图1所示，本发明实施例提供了一种光纤光栅测试系统。光纤光栅测试系统包括：ase光源1、环形器2、合束器3、被测光纤光栅4以及光谱仪5；所述ase光源1产生的宽带光谱依次通过所述环形器2、所述合束器3传输到所述被测光纤光栅4；所述被测光纤光栅4适于将满足布拉格条件的波长进行反射，且反射光通过合束器3、环形器2传输到光谱仪5上；所述光谱仪5适于对反射光的数据进行测试，从而完成对光栅的性能测试。通过光纤光栅测试系统形成一个测试工位，对光纤光栅进行批量测试，结构简单，易于操作。

其中，ase（放大自发辐射）光源是专为生产和实验室实验设计的。光源主体部分是增益介质掺铒光纤和高性能的泵浦激光器。独特的atc（自动温度控制）和apc（自动功率控制）电路通过控制泵浦激光器的输出保证了输出功率的稳定。通过调节apc，可在一定范围内调节输出功率。简便和智能的操作与远程控制。

在本实施例中，所述数据包括中心波长、3db带宽以及稳定性。

在本实施例中，所述光纤光栅测试系统还包括挡光板；所述被测光纤还适于将不满足布拉格条件的波长透过所述被测光栅传输至遮光板6。

在本实施例中，所述光纤光栅测试系统还包括泵浦源8；所述泵浦源8适于产生泵浦光通过所述合束器3传输到所述被测光纤光栅4；所述被测光纤光栅4适于将满足布拉格条件的波长的泵浦光进行反射，且反射光通过合束器3、环形器2传输到光谱仪5上。把泵浦光引入到光纤光栅，充分还原在整机中的工作情况，提高数据的可靠性。

其中，

在本实施例中，所述环形器2、合束器3、被测光纤光栅4设置于一个散热片7上。对每个光学器件进行散热，而且，每个光学器件都放在一个散热片7上，并适于更换被测光纤光栅4。

本发明实施例还提供了一种光纤光栅性能测试方法，所述光纤光栅性能测试方法通过将ase光源1产生的宽带光谱传输至被测光纤光栅4，并对被测光纤光栅4的放射光通过光谱仪5进行分析，从而完成对光栅的性能测试。

具体的，所述通过将ase光源1产生的宽带光谱传输至被测光纤光栅4的方法为所述ase光源1产生的宽带光谱依次通过环形器2、合束器3传输到所述被测光纤光栅4。

在本实施例中，所述对被测光纤光栅4的放射光通过光谱仪5进行分析的方法为所述被测光纤光栅4适于将满足布拉格条件的波长进行反射，且反射光通过合束器3、环形器2传输到光谱仪5上，所述光谱仪5适于对反射光的数据进行测试。

在本实施例中，所述光纤光栅性能测试方法还包括：将泵浦光传输至被测光纤光栅4，并对被测光纤光栅4的反射光通过光谱仪5进行分析，从而完成对光栅在泵浦光下的性能测试。通过调节泵浦光，获取光纤光栅的参数变化。在本实施例中，光纤光栅的参数变化，可以是，但不仅限于，中心波长的漂移情况。

具体的，所述将泵浦光传输至被测光纤光栅4的方法为泵浦源8适于产生泵浦光通过合束器3传输到被测光纤光栅4。

综上所述，本发明提供了一种光纤光栅测试系统,其特征在于,包括：ase光源、环形器、合束器、被测光纤光栅以及光谱仪；所述ase光源产生的宽带光谱依次通过所述环形器、所述合束器传输到所述被测光纤光栅；所述被测光纤光栅适于将满足布拉格条件的波长进行反射，且反射光通过合束器、环形器传输到光谱仪上；所述光谱仪适于对反射光的数据进行测试，从而完成对光栅的性能测试。通过光纤光栅测试系统形成一个测试工位，对光纤光栅进行批量测试，结构简单，易于操作。

以上述依据本发明的理想实施例为启示，通过上述的说明内容，相关工作人员完全可以在不偏离本项发明技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本项发明的技术性范围并不局限于说明书上的内容，必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。