本发明涉及检测实验室的质量控制技术领域，尤其涉及能力验证机构（ptp）开展温度冲击试验的能力验证方法。
背景技术：
目前，温度类试验的质量控制方式主要是测试动作温度值，主要考察温度变化过程中的试验箱内温度和设置温度之间的一致性和试验箱的变温控制能力，针对温度冲击试验，检测能力往往体现在温度波动的控制和温度变化至恒定的时间的控制。
比如，温度冲击试验中，温度变化时间一边比较短，如小于3min，温度需要从高温（120℃）降低至低温（-40℃），或从低温（-40℃）升至高温（120℃），温度变化为160℃，其温度变化往往非线性变化，且一般检测方法中不规定其变化情况，仅规定了温度变化至温度恒定的时间要求；因此使用动作温度开展温度冲击试验质量控制会致使结果的可信度不高，有效性较差。
技术实现要素：
针对上述不足，本发明的目的是提供一种适合温度冲击试验的质量控制的方法，该方法可以确保温度冲击试验结果的有效性和可靠性，且具有成本低、操作简单、可重复利用、稳定性强、误判风险低的优点。
为解决上述技术问题，本发明的技术方案是：
一种温度冲击试验质量控制的方法，包含以下步骤：
s1、选用具有温度冲击功能的试验箱，将试验样品放置在所述试验箱的外侧，试验样品的温度测量部件放置在试验箱腔内；
s2、按照既定的方法设置所述试验箱的温度等参数；
s3、开启所述试验箱，所述试验箱按照既定程式运行，温度测量部件测量试验箱内的温度，记录测试过程中的“温度-时间”数据；
s4、记录每次温度冲击过程中的转移时间；
s5、分析测试所得数据，当数据符合目标要求时，给予某一特定信号（如声音、光等），否则不表现出该特定信号；
s6、对于给定信息的结果，表示满意，否则不满意。
优选方案为，所述步骤s1中试验样品的温度测量部件放置在试验箱腔内的中心位置。
优选方案为，所述步骤s2中应设置高温的温度和恒定时间t1和低温的温度和恒定时间t1，所述步骤s2具体为：开启所述试验箱，将样品周围的环境从常温状态快速转化为低温状态，然后从低温状态快速转化为高温状态，再从高温状态快速转化为低温状态，如此在高温状态和低温状态中存放和快速转化。
优选方案为，所述步骤s3中转移时间为t2。
优选方案为，所述步骤s4中“温度-时间”的记录时间间隔应不高于0.01t1。
优选方案为，所述步骤s5中分析的数据有恒定时间t1，稳定阶段高温过程中实测温度与设置温度的最大偏差温度t1，稳定阶段低温过程中实测温度与设置温度的最大偏差温度t2，温度变化至恒定的时间t3。
优选方案为，温度恒定时间t1的计算方法为连续2个记录时间间隔内温度变化值大于3℃，从此时间ts开始计算，向前推算至第一个达到温度允差要求范围内温度点的时间tr，这两个时间差即为t1，时间tr所在温度最近的一个常温或近常温温度的时刻为时间td，这两个时间差即为t3。
优选方案为，所述步骤s5中数据符合目标要求是指t1、t2、t3、t1和t2均满足要求
优选方案为，所述样品为温度测试装置，所述温度测试装置的温度测量部件为感温探头。
优选方案为，试验的结论为出现/未出现某一特定信号。
采用上诉技术方案后，本发明的有益效果是：
由于本发明的温度冲击试验质量控制的方法，包括以下步骤：先将质量控制用样品的温度测量部件放置在试验箱腔内的中心位置；按照既定要求的方法进行温度和参数设置，开启试验箱并按照设置的程式运行；温度测量部件测量试验箱内的温度，记录测试过程中的“温度-时间”数据；对数据进行分析，当数据符合目标要求时，给予某一特定信号（如声音、光等），表示满意；否则不表现出该特定信号，表示不满意。因此使用本方法开展温度冲击试验的质量控制时，在人员、设备、方法、样品布置、检测过程的监控等方面具有较高的可信度，也可确保检测结果的准确可靠，且具有成本低、操作简单、可重复利用、稳定性强、误判风险低的优点。
由于样品用于测量“温度-时间”数据，确保了试验样品用于测量温度的部件放置在温度冲击试验箱腔体中心位置，使得测量结果更加准确可靠。
由于试验的结论为出现/未出现某一特定信号，避免了使用统计计算结果导致的质量控制结果的误判。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下实施案例，对本发明进行了进一步详细说明。应当理解，此处说描述的具体实施案例仅仅用以解释本发明，并不用于限制本发明的范围。
一种温度冲击试验质量控制的方法，包含以下步骤：
s1、选用具有温度冲击功能的试验箱，将试验样品放置在所述试验箱的外侧，试验样品的pt100部件放置在试验箱腔内中心位置；
s2、按照既定的方法设置所述试验箱的温度等参数，设置高温的温度和恒定时间t1和低温的温度和恒定时间t1，开启所述试验箱，将样品周围的环境从常温状态快速转化为低温状态，然后从低温状态快速转化为高温状态，再从高温状态快速转化为低温状态，如此在高温状态和低温状态中存放和快速转化；
s3、开启所述试验箱，所述试验箱按照既定程式运行，pt100部件测量试验箱内的温度，记录测试过程中的“温度-时间”数据，“温度-时间”的记录时间间隔应不高于0.01t1；
s4、记录每次温度冲击过程中的转移时间t2；
s5、分析测试所得数据，分析的数据有恒定时间t1，稳定阶段高温过程中实测温度与设置温度的最大偏差温度t1，稳定阶段低温过程中实测温度与设置温度的最大偏差温度t2，温度变化至恒定的时间t3；温度恒定时间t1的计算方法为连续2个记录时间间隔内温度变化值大于3℃，从此时间ts开始计算，向前推算至第一个达到温度允差要求范围内温度点的时间tr，这两个时间差即为t1，时间tr所在温度最近的一个常温或近常温温度的时刻为时间td，这两个时间差即为t3。当数据t1、t3、t1和t2均满足给定要求时，样品盒上的指示灯一直点亮，否则不点亮；
s6、对于灯点亮的结果，表示满意，否则不满意。
本实施案例中，所述样品为温度测试装置，所述温度测试装置的温度测量部件为感温探头。但是不限于上诉实例中所列举的pt100部件。
综上所述，本发明的温度冲击试验质量控制的方法，解决了现有的温度冲击试验质量控制没有合适方法、合适的技术方式的问题，而本发明的方法简单，成本低，可重复使用和稳定性高的特性，用于温度冲击试验质量控制时，可以确保检测结果的准确性、适用性和可靠性。
以上所述本发明的较佳实施案例，并不用于限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所做的任何修改，等同一种温度冲击试验质量控制的方法的改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。