一种象限类光电探测器通电振动试验工装的制作方法

文档序号:17433466发布日期:2019-04-17 03:48阅读:265来源:国知局
一种象限类光电探测器通电振动试验工装的制作方法

本发明属于光电探测器测试技术领域,具体涉及一种象限类光电探测器通电振动试验工装。



背景技术:

象限类光电探测器一般指四象限或双四象限pin型光电二极管配以放大电路的结构,用于激光制导、激光准直等领域。通常象限类探测器随整机进行通电振动试验,单独测试时通常采用的是不可通电振动试验工装。



技术实现要素:

(一)要解决的技术问题

本发明提出一种象限类光电探测器通电振动试验工装,以解决如何单独进行通电振动试验的技术问题。

(二)技术方案

为了解决上述技术问题,本发明提出一种象限类光电探测器通电振动试验工装,该工装包括器件工装座、器件连接器和器件压环;其中,器件工装座的表面开设有用于放置器件的台阶孔;器件采用管帽朝下、引脚朝上的方式放置;台阶孔的最深部分具有最小孔径,用于放置器件的管帽部分,器件外径的最大处大于台阶孔的最小孔径;台阶孔最深部分的孔深大于器件管帽的高度;台阶孔的中间部分为圆形切掉部分弧,用于放置器件连接器;台阶孔的最上部具有内螺纹,用于安装器件压环;器件连接器采用两层圆形薄片;其中,第一圆形薄片和第二圆形薄片的中心均具有安装孔,通过螺丝螺母在两个薄片的中心将第一圆形薄片和第二圆形薄片连接;第一圆形薄片和第二圆形薄片的周向均开设有台阶通孔,用于在两层薄片之间夹持固定具有台阶形状的插针;插针的一端卡在位于下部的第二圆形薄片的台阶通孔上,与置于器件工装座台阶孔上的器件的引脚连接,插针的另一端由第一圆形薄片上表面通过引线引出通电;

器件压环,外侧具有与器件工装座的台阶孔的最上部内螺纹对应的外螺纹,用于与器件工装座螺纹连接,并将器件和器件连接器固定在器件工装座上。

进一步地,器件工装座为硬铝制长方体。

进一步地,螺纹为m36-0.75螺纹。

进一步地,器件压环为铝制环形圆片。

进一步地,在器件压环的圆环直径两侧开设有两个圆形通孔,用于通过专用夹具夹持。

进一步地,器件工装座的表面开设有用于放置多个器件的多个台阶孔。

进一步地,第一圆形薄片和第二圆形薄片的周向均开设有多个台阶通孔,对应于器件的多个引脚。

(三)有益效果

本发明提出的象限类光电探测器通电振动试验工装,包括器件工装座、器件连接器和器件压环。本发明在原有不可通电振动试验工装的基础上进行改进,加入器件连接器装置,并用导线将各插针引出。将器件光窗朝下放入工装孔中,器件背面引脚插入连接装置,并用压环固定在器件工装座上,使其实现通电振动试验的功能。器件压环为中空结构,可将引线由压环中心引出,并不影响压环的压接使用。

附图说明

图1为本发明实施例通电振动试验工装连接示意图;

图2为本发明实施例中器件工装座结构示意图(包括主视剖视图2a、俯视图2b和侧视剖视图2c);

图3为本发明实施例中器件连接器中第一圆形薄片结构示意图(包括主视剖视图3a和俯视图3b);

图4为本发明实施例中器件连接器中第二圆形薄片结构示意图(包括主视剖视图4a和俯视图4b);

图5为本发明实施例中器件连接器使用方法半剖示意图;

图6为本发明实施例中器件压环结构示意图(包括主视剖视图6a和俯视图6b)。

具体实施方式

为使本发明的目的、内容和优点更加清楚,下面结合附图和实施例,对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。

本实施例提出一种象限类光电探测器通电振动试验工装,其连接关系如图1所示。该工装由器件工装座、器件连接器、器件压环三部分组成。其中,器件工装座为硬铝制长方体,如图2所示。在器件工装座的表面开设有十个用于放置器件的台阶孔。每个器件均采用管帽朝下、引脚朝上的方式放置。台阶孔的最深部分具有最小孔径,用于放置多个器件的管帽部分。器件外径的最大处大于台阶孔的最小孔径,能够利用台阶孔的台阶部分卡住器件。台阶孔最深部分的孔深大于器件管帽的高度,使得器件的光窗不会接触到台阶孔的底部。台阶孔的中间部分为圆形切掉部分弧,用于放置器件连接器,可以防止器件在安装到工装上时,在扭动压紧器件压环过程中导致的转动,进而造成对器件外壁的磨损。每个台阶孔的最上部具有m36-0.75的内螺纹,用于安装器件压环。

器件连接器采用两层圆形薄片,第一圆形薄片(如图3所示)和第二圆形薄片(如图4所示)的中心均具有安装孔,通过螺丝螺母在两个薄片的中心将第一圆形薄片和第二圆形薄片连接(如图5所示)。第一圆形薄片和第二圆形薄片的周向均开设有多个台阶通孔,用于在两层薄片之间夹持固定具有台阶形状的插针。插针的一端卡在第二圆形薄片的台阶孔上,与置于器件工装座台阶孔上的器件的引脚连接,插针的另一端由第一圆形薄片的上表面通过引线引出通电。器件连接器中台阶通孔的数量与器件引脚数量相匹配。

器件压环为一铝制环形圆片,如图6所示。在圆环直径两侧开设有两个圆形通孔,用于通过专用夹具夹持。圆环中部用于容纳器件连接器的螺丝螺母和多个插针,并可将引线由压环中心引出,而且不影响压环的压接使用。圆环的外侧为m36-0.75的外螺纹,用于与器件工装座螺纹连接,并将器件和器件连接器固定在器件工装座上。

以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明技术原理的前提下,还可以做出若干改进和变形,这些改进和变形也应视为本发明的保护范围。



技术特征:

技术总结
本发明属于光电探测器测试技术领域,具体涉及一种象限类光电探测器通电振动试验工装。该工装包括器件工装座、器件连接器和器件压环。本发明在原有不可通电振动试验工装的基础上进行改进,加入器件连接器装置,并用导线将各插针引出。将器件光窗朝下放入工装孔中,器件背面引脚插入连接装置,并用压环固定在器件工装座上,使其实现通电振动试验的功能。器件压环为中空结构,可将引线由压环中心引出,并不影响压环的压接使用。

技术研发人员:钱煜;蒲勋;周小燕;柯尊贵;袁鎏;孔繁林;刘从吉
受保护的技术使用者:西南技术物理研究所
技术研发日:2018.12.25
技术公布日:2019.04.16
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