一种荧光光谱的测试装置及测试方法与流程

文档序号:17154205发布日期:2019-03-19 23:47阅读:297来源:国知局
一种荧光光谱的测试装置及测试方法与流程

本申请实施例属于荧光测量技术领域,尤其涉及一种荧光光谱的测试装置及测试方法。



背景技术:

有机发光二极管(organiclight-emittingdiode,oled)又称为有机电激光显示、有机发光半导体,具有结构轻薄、低功耗、高效率、制造工艺简单等诸多优良特性,特别是掺杂的小分子oled材料在光致发光领域有较大的潜在应用,通过研究具有水平方向的传输偶极矩分子材料,可以实现oled材料的进一步改进。

然而,现有的技术中,通常通过边带辐射测量,表面等离子体耦合测量以及在微腔结构中染色分子进行对oled材料的偶极矩取向测量,具有测量步骤复杂的问题,因此,亟待一种简单的方法对led材料分子的特性进行测量。



技术实现要素:

本申请实施例提供一种荧光光谱的测试装置及测试方法,通过获取待测材料在不同旋转角度下的荧光光谱,从而对待测材料的角度依赖特性进行分析,解决了现有的技术中,通常通过边带辐射测量,表面等离子体耦合测量以及在微腔结构中染色分子进行对oled材料的偶极矩取向测量,导致测量步骤复杂的问题。

本申请实施例提供了一种荧光光谱的测试装置,包括:

激发光源,用于生成紫外光束,并将所述紫外光束照射在待测材料表面;

旋转模块,用于固定所述待测材料,并根据用户输入的控制指令对所述待测材料和所述激发光源进行旋转;以及

检测模块,用于接收所述待测材料生成的受激荧光光束,并根据所述受激荧光光束得到对应的荧光光谱;

其中,所述激发光源与所述旋转模块通过连接板进行固定连接。

可选的,所述旋转模块包括:

柱面镜,用于固定所述待测材料;以及

旋转台,用于对所述连接板进行旋转;

其中,所述旋转台与所述柱面镜固定连接。

可选的,所述待测材料贴覆在所述柱面镜的表面。

可选的,所述旋转模块还包括:

电机,用于接收用户输入的控制指令,并根据所述控制指令对所述旋转台进行旋转。

可选的,所述检测模块包括:

光学收集单元,用于接收所述待测材料生成的受激荧光光束;以及

光学探测单元,用于根据所述受激荧光光束得到对应的荧光光谱,其中,所述光学探测单元与所述光学收集单元连接。

可选的,所述光学收集单元包括至少一个光学棱镜和至少一个滤光片。

可选的,所述紫外光束与所述待测材料之间的角度为45度。

本申请还提出了一种荧光光谱的测试方法,所述测试方法包括:

通过激发光源生成紫外光束,并将所述紫外光束照射在待测材料表面;

采用旋转模块固定所述待测材料,并根据用户输入的控制指令对所述待测材料和所述激发光源进行旋转,其中,所述激发光源与所述旋转模块通过连接板进行固定连接;

接收所述待测材料生成的受激荧光光束,并根据所述受激荧光光束得到对应的荧光光谱。

可选的,所述旋转模块包括:

柱面镜,用于固定所述待测材料;

旋转台,用于对所述连接板进行旋转;

其中,所述旋转台与所述柱面镜固定连接。

可选的,所述通过激发光源生成紫外光束,并将所述紫外光束照射在待测材料表面,包括:

将所述紫外光束与所述待测材料之间的角度设置为45度,以使所述紫外光束以45度的角度照射在所述待测材料表面。

本申请实施例提供了一种荧光光谱的测试装置及测试方法,所述测试装置包括:激发光源,用于生成紫外光束,并将所述紫外光束照射在待测材料表面;旋转模块,用于固定所述待测材料,并根据用户输入的控制指令对所述待测材料和所述激发光源进行旋转;以及检测模块,用于接收所述待测材料生成的受激荧光光束,并根据所述受激荧光光束得到对应的荧光光谱;其中,所述激发光源与所述旋转模块通过连接板进行固定连接。通过获取待测材料在不同旋转角度下的荧光光谱,从而对待测材料的角度依赖特性进行分析,解决了现有的技术中,通常通过边带辐射测量,表面等离子体耦合测量以及在微腔结构中染色分子进行对oled材料的偶极矩取向测量,测量步骤复杂的问题。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请的一个实施例提供的荧光光谱的测试装置的结构示意图;

图2为本申请的另一个实施例提供的荧光光谱的测试装置的结构示意图;

图3是本申请的另一个实施例提供的荧光光谱的测试装置的结构示意图;

图4是本申请的另一个实施例提供的待测材料在0-90度的旋转角度的照射下生成的荧光光谱;

图5是本申请的一个实施例提供的荧光光谱的测试方法的示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案,下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚地描述,显然,所描述的实施例是本申请一部分的实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本申请保护的范围。

本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“包括”以及它们任何变形,意图在于覆盖不排他的包含。例如包含一系列步骤或单元的过程、方法或系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元,而是可选地还包括没有列出的步骤或单元,或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。此外,术语“第一”、“第二”和“第三”等是用于区别不同对象,而非用于描述特定顺序。

图1为本申请实施例提供的一种荧光光谱的测试装置的结构示意图,如图1所示,本实施例中的测试装置包括:

激发光源1,用于生成紫外光束,并将所述紫外光束照射在待测材料表面;

旋转模块10,用于固定所述待测材料,并根据用户输入的控制指令对所述待测材料和所述激发光源进行旋转;以及

检测模块20,用于接收所述待测材料生成的受激荧光光束,并根据所述受激荧光光束得到对应的荧光光谱;

其中,所述激发光源1与所述旋转模块10通过连接板20进行固定连接。

在本实施例中,激发光源1与连接板2固定连接,连接板20与旋转模块10固定连接,当旋转模块10接收用户输入的控制指令进行旋转时,旋转模块10带动连接板2进行旋转,同时,连接板2带动激发光源1进行旋转。

测试装置在工作时,激发光源1生成紫外光束,并将该紫外光束照射在放置在旋转模块20的待测材料上,待测材料收到照射后产生受激荧光光束,检测模块20与旋转模块10对立设置,检测模块20接收待测材料在照射后产生的受激荧光光束后生成对应的荧光光谱,当旋转模块10根据用户输入的控制指令进行旋转时,获取待测材料在不同旋转角度时生成的受激荧光光束的荧光光谱。

在一个实施例中,用户输入的控制指令可以包括顺时针旋转指令和逆时针旋转指令,当旋转模块10接收到顺时针旋转指令时,旋转模块10按照预设的旋转速率进行顺时针旋转,当旋转模块10接收到逆时针旋转指令时,旋转模块10按照预设的旋转速率进行逆时针旋转。

在一个实施例中,激发光源1发出的紫外光束的入射方向与旋转模块10的旋转方向一致,例如,当紫外光束以顺时针方向照射到待测材料表面时,旋转模块10需要按照顺时针方向旋转,当紫外光束以逆时针方向照射到待测材料表面时,旋转模块10需要按照逆时针方向旋转。

在一个实施例中,待测材料与检测模块20的几何中心处于同一水平高度。具体的,该几何中心可以为检测模块20的几何重心。

图2为本申请的另外一个实施例提供的荧光光谱的测试装置的结构示意图,在一个实施例中,所述旋转模块10包括:

柱面镜4,用于固定所述待测材料3;

旋转台5,用于对所述连接板2进行旋转;

其中,所述旋转台5与所述柱面镜4固定连接。

在本实施例中,参见图2和图3,柱面镜4用于固定待测材料3,当待测材料3受到紫外光束照射时,待测材料3产生的受激荧光光束通过柱面镜4后可以向空间发出均匀的受激荧光光束,旋转台5对连接板2进行旋转,从而带动与连接板2固定连接的柱面镜和激发光源进行旋转,此时,检测模块20接收待测材料3在不同旋转角度生成的受激荧光光束后,根据该受激荧光光束生成对应的荧光光谱。

在一个实施例中,所述待测材料3贴覆在所述柱面镜4的表面。具体的,本实施例中的待测材料3可以贴覆在柱面镜4的几何中心位置。

在一个实施例中,所述旋转模块10还包括:

电机,用于接收用户输入的控制指令,并根据所述控制指令对所述旋转台5进行旋转。

在本实施例中,电机与旋转台5可以通过啮合连接,通过电机转动带动旋转台5进行旋转。

参见图2,在一个实施例中,所述检测模块20包括:

光学收集单元6,用于接收所述待测材料3生成的受激荧光光束;

光学探测单元7,用于根据所述受激荧光光束得到对应的荧光光谱,其中,所述光学探测单元7与所述光学收集单元6连接。

在本实施例中,光学收集单元6与光学探测单元7通过光纤连接,光学收集单元6用于在待测材料旋转过程中收集待测材料在不同的旋转角度时受激发产生的受激荧光光束,并通过光纤将该受激荧光光束传输至光学探测单元7中,光学探测单元7在接收该受激荧光光束后生成对应的荧光光谱,从而得到不同旋转角度下待测材料的受激荧光光谱。

在一个实施例中,本实施例中的测试装置还包括:

荧光光谱分析模块,用于接收所述荧光光谱,并根据所述荧光光谱生成所述待测材料的角度依赖特性评价报告。

在本实施例中,角度依赖特性是在不同的旋转角度下,待测材料3在接收紫外光束照射后产生的受激荧光光束的荧光光谱强度,进而获得荧光角度分布,图4为本申请的一个实施例中,待测材料在0-90度的旋转角度的照射下生成的荧光光谱,参见图4可知,该荧光光谱的横轴为待测材料的旋转角度,荧光光谱的纵轴为待测材料在不同旋转角度下的受激荧光光束的强度,荧光光谱分析模块可以通过分析待测材料产生的受激荧光光束在各个旋转角度的强度的幅值的变化,评价待测材料的角度依赖特性,例如,当荧光光谱分析模块在检测到当旋转角度在55度到60度区间时,受激荧光光束的强度增加到最高,根据预先设置的拟合模型,可以得到待测材料的受激荧光光束的强度对该区间角度的依赖性。

在一个实施例中,荧光光谱分析模块还可以用于根据所述荧光光谱获取所述待测材料的分子偶极取向分析报告。

在实施例中,待测材料在不同的旋转角度下生成的受激荧光光束的强度与待测材料的分子偶极取向密切相关,通过预设的分子偶极取向拟合模型对待测材料受激发生成的荧光光谱进行拟合分析,可以获取待测材料的分子偶极取向分析报告。

在一个实施例中,所述光学收集单元6包括至少一个光学棱镜和至少一个滤光片。

在一个实施例中,所述紫外光束与所述待测材料之间的角度为45度。

在本实施例中,激发光源1发出的紫外光束的入射方向与旋转模块10的旋转方向一致,例如,当紫外光束以顺时针方向45度的角度照射到待测材料表面时,旋转模块10需要按照顺时针方向旋转,当紫外光束以逆时针方向45度的角度照射到待测材料表面时,旋转模块10需要按照逆时针方向旋转。

在一个实施例中,本申请还提出了一种荧光光谱的测试方法,所述测试方法包括:

步骤s10:通过激发光源生成紫外光束,并将所述紫外光束照射在待测材料表面;

步骤s20:采用旋转模块固定所述待测材料,并根据用户输入的控制指令对所述待测材料和所述激发光源进行旋转,其中,所述激发光源与所述旋转模块通过连接板进行固定连接;

步骤s30:接收所述待测材料生成的受激荧光光束,并根据所述受激荧光光束得到对应的荧光光谱。

在本实施例中,激发光源1生成紫外光束,并将该紫外光束照射在放置在旋转模块20的待测材料上,待测材料收到照射后产生受激荧光光束,检测模块20与旋转模块10对立设置,检测模块20接收待测材料在照射后产生的受激荧光光束后生成对应的荧光光谱,当旋转模块10根据用户输入的控制指令进行旋转时,获取待测材料在不同旋转角度时生成的受激荧光光束的荧光光谱。

在一个实施例中,用户输入的控制指令可以包括顺时针旋转指令和逆时针旋转指令,当旋转模块10接收到顺时针旋转指令时,旋转模块10按照预设的旋转速率进行顺时针旋转,当旋转模块10接收到逆时针旋转指令时,旋转模块10按照预设的旋转速率进行逆时针旋转。

在一个实施例中,激发光源1发出的紫外光束的入射方向与旋转模块10的旋转方向一致,例如,当紫外光束以顺时针方向照射到待测材料表面时,旋转模块10需要按照顺时针方向旋转,当紫外光束以逆时针方向照射到待测材料表面时,旋转模块10需要按照逆时针方向旋转。

在一个实施例中,待测材料与检测模块20的几何中心处于同一水平高度。具体的,该几何中心可以为检测模块20的几何重心。

参见图2,在一个实施例中,所述检测模块20包括:

光学收集单元6,用于接收所述待测材料3生成的受激荧光光束;

光学探测单元7,用于根据所述受激荧光光束得到对应的荧光光谱,其中,所述光学探测单元7与所述光学收集单元6连接。

在本实施例中,柱面镜4用于固定待测材料3,当待测材料3受到紫外光束照射时,待测材料3产生的受激荧光光束通过柱面镜4向空间发出受激荧光光束,旋转台5对连接板2进行旋转,从而带动与连接板2固定连接的柱面镜和激发光源进行旋转,此时,检测模块20接收待测材料3在不同旋转角度生成的受激荧光光束后,根据该受激荧光光束生成对应的荧光光谱。

在一个实施例中,所述待测材料3贴覆在所述柱面镜4的表面。具体的,本实施例中的待测材料3可以贴覆在柱面镜4的几何中心位置。

在一个实施例中,所述通过激发光源生成紫外光束,并将所述紫外光束照射在待测材料表面,包括:

将所述紫外光束与所述待测材料之间的角度设置为45度,以使所述紫外光束以45度的角度照射在所述待测材料表面。

在本实施例中,激发光源1发出的紫外光束的入射方向与旋转模块10的旋转方向一致,例如,当紫外光束以顺时针方向45度的角度照射到待测材料表面时,旋转模块10需要按照顺时针方向旋转,当紫外光束以逆时针方向45度的角度照射到待测材料表面时,旋转模块10需要按照逆时针方向旋转。

本申请实施例提供了一种荧光光谱的测试装置及测试方法,所述测试装置包括:激发光源,用于生成紫外光束,并将所述紫外光束照射在待测材料表面;旋转模块,用于固定所述待测材料,并根据用户输入的控制指令对所述待测材料和所述激发光源进行旋转;以及检测模块,用于接收所述待测材料生成的受激荧光光束,并根据所述受激荧光光束得到对应的荧光光谱;其中,所述激发光源与所述旋转模块通过连接板进行固定连接。通过获取待测材料在不同旋转角度下的荧光光谱,从而对待测材料的角度依赖特性进行分析,解决了现有的技术中,通常通过边带辐射测量,表面等离子体耦合测量以及在微腔结构中染色分子进行对oled材料的偶极矩取向测量,导致测量步骤复杂的问题。

以上所述仅为本申请的可选实施例而已,并不用以限制本申请,凡在本申请的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本申请的保护范围之内。

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