本实用新型涉及一种夹具及具有该夹具的电气检测装置，尤其是涉及一种用于对检测对象的存在于不同平面上的多个端子等进行检测的夹具及具有该夹具的电气检测装置。
背景技术：
以往，在对电路板等检测对象进行短路、断路等电检测时，在电气检测装置中常常使用具备多个探针的夹具。
上述夹具通常包括多个探针、与多个探针分别对应的多个电极以及对多个探针进行保持的探针保持部，上述探针具有与检测对象的端子接触的顶端以及与上述电极电连接的底端，并且，多个探针的顶端分别从探针保持部的顶部突出微小量。
在现有技术中，检测对象一般为单块厚度一致的电路板。与之相应，对单块电路板进行检测的夹具一般设置成从探针保持部的顶部突出的多个探针的顶端在同一平面上，以对电路板等检测对象的处于相同平面上的端子进行检测。
然而，像由厚度较薄的软板和厚度较厚的硬板构成的软硬结合板那样，当检测对象具有存在于高度差大于探针从探针保持部的顶部突出的量的不同平面上的多个端子时，若使用上述夹具来进行检测，则存在部分探针不能与某些面上的端子接触而无法可靠地进行检测作业的问题。
技术实现要素：
本实用新型是鉴于上述技术问题而完成的，其目的在于提供一种夹具及具有该夹具的电气检测装置，能对检测对象的存在高度差的两个面上的多个端子等可靠地进行检测。
为了解决上述技术问题，本实用新型的夹具用于对检测对象进行电气检测的电气检测装置，包括探针、电极以及探针保持部，上述探针被上述探针保持部保持且具有与上述检测对象的端子接触的顶端以及与上述电极电连接的底端，其中，上述探针保持部包括第一探针保持部和第二探针保持部，上述探针的顶端分别从上述第一探针保持部的顶部和上述第二探针保持部的顶部突出，从上述第一探针保持部的底部到顶部的长度与从上述第二探针保持部的底部到顶部的长度相同，并且，上述第一探针保持部的顶部与上述第二探针保持部的顶部不在同一平面上。
根据上述结构，第一探针保持部的顶部与第二探针保持部的顶部不在同一平面上，因此，通过与检测对象的多个端子等所在的不同平面的高度差对应地设置第一探针保持部的顶部与第二探针保持部的顶部的高度差，能容易地使检测对象的存在于不同平面上的端子等分别与从第一探针保持部的顶部突出的探针的顶端以及从第二探针保持部的顶部突出的探针的顶端接触，从而能对软硬结合板等由不同厚度的基板结合而成的电路板等检测对象可靠地进行检测。
上述第一探针保持部与上述第二探针保持部一体形成，或者上述第一探针保持部相对于上述第二探针保持部能移动。
根据上述结构，在第一探针保持部与第二探针保持部一体形成的情况下，能提高夹具的组装性；在第一探针保持部相对于第二探针保持部能移动的情况下，能方便地对第一探针保持部的顶部与第二探针保持部的顶部的高度差进行调节，从而对厚度差不同的软硬结合板等检测对象进行检测。
上述探针为多个，且各个探针的长度相同。
根据上述结构，探针为多个且各个探针的长度相同。藉此，能使用相同规格的探针对软硬结合板等检测对象进行检测，从而能降低夹具的制造成本并提高组装性。
上述第二探针保持部相对于上述第一探针保持部朝向上述探针的顶端侧突出。
根据上述结构，第二探针保持部相对于第一探针保持部朝向探针的顶端侧突出。藉此，能通过被第一探针保持部的探针对厚度较大的硬板等进行检测，并通过被第二探针保持部保持的探针对厚度较小的软板等进行检测。
被上述第一探针保持部保持的探针的顶端从上述第一探针保持部突出的量与被上述第二探针保持部保持的探针的顶端从上述第二探针保持部突出的量相等。
根据上述结构，被第一、第二探针保持部保持的探针的顶端从第一、第二探针保持部突出的量相等。藉此，能使被第一探针保持部保持的探针的顶端与被第二探针保持部保持的探针的顶端的高度差同第一探针保持部的顶部与第二探针保持部的顶部的高度差相同，从而能对软硬结合板等由不同厚度的基板结合而成的电路板等检测对象可靠地进行检测。
上述夹具还包括：电极保持部，该电极保持部对上述电极进行保持；以及连接构件，该连接构件将上述探针保持部与上述电极保持部连接在一起。
根据上述结构，夹具还包括对电极进行保持的电极保持部。藉此，能使探针与电极可靠地电连接，从而使夹具能可靠地进行检测。
上述电极保持部包括：第一电极保持部，该第一电极保持部以与上述第一探针保持部对置；以及第二电极保持部，该第二电极保持部与上述第二探针保持部对置，且相对于上述第一电极保持部朝向上述探针的顶端侧突出。
根据上述结构，第二电极保持部相对于第一电极保持部朝向探针的顶端侧突出。藉此，通过利用第二电极保持部与第一电极保持部的高度差，能使用相同规格的探针对软硬结合板等检测对象进行检测，从而能降低夹具的制造成本并提高组装性。
上述第一探针保持部的检测对象侧的表面与上述第二探针保持部的检测对象侧的表面的高度差等于上述第一电极保持部的检测对象侧的表面与上述第二电极保持部的检测对象侧的表面的高度差。
根据上述结构，第一、第二探针保持部的检测对象侧的表面之间的高度差等于第一、第二电极保持部的检测对象侧的表面之间的高度差。藉此，能进一步使用相同规格的探针对软硬结合板等检测对象进行检测，从而能进一步降低夹具的制造成本并提高组装性。
上述第一探针保持部的检测对象侧的表面与上述第二探针保持部的检测对象侧的表面的高度差不同于上述第一电极保持部的检测对象侧的表面与上述第二电极保持部的检测对象侧的表面的高度差。
根据上述结构，第一、第二探针保持部的检测对象侧的表面之间的高度差不同于第一、第二电极保持部的检测对象侧的表面之间的高度差。藉此，能使用不同规格的探针对厚度差不同的软硬结合板等检测对象进行检测。
本实用新型还提供一种电气检测装置，具有如上所述的夹具。
根据上述结构，电气检测装置具有如上所述的夹具。藉此，能对软硬结合板等由不同厚度的基板结合而成的电路板等检测对象可靠地进行检测。
本文所描述的夹具及具有该夹具的电气检测装置的额外特征和优点将在下文的详细描述中陈述，并且通过下文对于本领域技术人员显然或者从通过实践本文所描述的实施方式而被本领域技术人员认识到，这些描述包括下文的详细描述、权利要求书、以及附图。
应了解前文的一般描述和下文的详细描述说明了各种实施方式并且意图提供理解要求保护的主题的性质和特征的概述或框架。包括附图以提供对各种实施方式的进一步理解并且附图合并于本说明书中并且构成本说明书的部分。附图示出了本文所描述的各种实施方式，并且与描述一起用来解释要求保护的主题的原理和操作。
附图说明
参考以上目的，本实用新型的技术特征在权利要求书中清楚地描述，并且其优点从以下参照附图的详细描述中显而易见，附图以示例方式示出了本实用新型的优选实施方式，而不限制本实用新型构思的范围。
图1是示意地表示本实用新型实施方式的夹具的立体图。
图2是示意地表示本实用新型实施方式的变形例的夹具的立体图。
(符号说明)
1、1’探针
11、11’第一探针
11A、11A’第一探针的顶端
11B、11B’第一探针的底端
12、12’第二探针
12A、12A’第二探针的顶端
12B、12B’第二探针的底端
2、2’探针保持部
21、21’第一探针保持部
21A、21A’、22A、22A’顶板
21B、21B’、22B、22B’底板
22、22’第二探针保持部
3、3’电极保持部
31、31’第一电极保持部
32、32’第二电极保持部
100、100’夹具
B检测对象
B1第一检测对象
B1A第一检测对象端子
B2第二检测对象
B2A第二检测对象端子
D1第一探针保持部的长度
D2第二探针保持部的长度
T厚度差
H1、H1’第一探针保持部与第二探针保持部的高度差
H2第一电极保持部与第二电极保持部的高度差
h1第一探针的突出量
h2第二探针的突出量
L1、L1’第一探针的长度
L2、L2’第二探针的长度
P电极
具体实施方式
现在将详细地参考本实用新型的各个实施方式，这些实施方式的实例被显示在附图中并描述如下。尽管本实用新型将与示例性实施方式相结合进行描述，但是应当意识到，本说明书并非旨在将本实用新型限制为那些示例性实施方式。相反，本实用新型旨在不但覆盖这些示例性实施方式，而且覆盖可以被包括在由所附权利要求所限定的本实用新型的精神和范围之内的各种选择形式、修改形式、等效形式及其它实施方式。为了便于在所附权利要求中解释和精确定义，术语“上”、“下”、“内”和“外”用于参考在图中所示的示例性实施方式的特征的位置来对这些特征进行描述。
以下参照附图，对本实用新型的夹具100进行说明。
此外，需要提前说明的是，在本实施方式中，检测对象B是由厚度不同的第一检测对象B1和第二检测对象B2结合而成的软硬结合板。其中，第一检测对象B1是厚度较大的硬板，第二检测对象B2是厚度较小的软板。在第一检测对象B1的靠夹具100的表面(图1中的下表面)具有待检测的多个端子B1A，同样，在第二检测对象B2的靠夹具100的表面(图1中的下表面)具有待检测的多个端子B2A。并且，第一检测对象B1的靠夹具100的表面(图1中的下表面)与第二检测对象B2的靠夹具100的表面(图1中的下表面)之间存在厚度差T。因此，多个端子B1A与多个端子B2A不在同一平面上(多个端子B1A所在的平面与多个端子B2A所在的平面存在与上述厚度差T相同的高度差)。
如图1所示，夹具100包括探针1、电极P以及探针保持部2，探针1被探针保持部2保持且具有与检测对象B的端子B1A、B2A接触的顶端11A、12A以及与电极P电连接的底端11B、12B，其中，探针保持部2包括第一探针保持部21和第二探针保持部22，探针1的顶端分别从第一探针保持部21的顶部和第二探针保持部22的顶部突出，第一探针保持部21的从其底部到顶部的长度D1与第二探针保持部22的从其底部到顶部的长度D2相同，并且，第一探针保持部21的顶部与第二探针保持部22的顶部不在同一平面上。
此外，夹具100还包括电极保持部3，该电极保持部3对电极P进行保持；以及连接构件(未图示)，该连接构件将探针保持部2与电极保持部3连接在一起。
根据上述结构，第一探针保持部21的顶部与第二探针保持部22的顶部不在同一平面上，通过与检测对象B的多个端子B1A、B2A所在的不同平面的高度差对应地设置第一探针保持部21的顶部与第二探针保持部22的顶部的高度差，能容易地使检测对象B的存在于不同平面上的端子B1A、B2A分别与从第一探针保持部21的顶部突出的探针1的顶端以及从第二探针保持部22的顶部突出的探针1的顶端接触，藉此，夹具100能对由不同厚度的软硬板结合而成的、具有不在同一平面上的多个待检测端子B1A、B2A的检测对象B可靠地进行检测。此外，夹具100还包括对电极P进行保持的电极保持部3。藉此，能使探针1与电极P可靠地电连接，从而使夹具100能可靠地进行检测。
具体而言，如图1所示，探针1包括多个第一探针11(图中示意地示出了八个，但实际中可设置任意个)和多个第二探针12(图中示意地示出了八个，但实际中可设置任意个)。第一探针11被第一探针保持部21保持，且分别具有与第一检测对象B1的多个端子B1A接触的顶端11A以及与电极P电连接的底端11B。第二探针12被第二探针保持部22保持，且分别具有与第二检测对象B2的多个端子B2A接触的顶端12A以及与电极P电连接的底端12B。
此外，需要特别说明的是，在本实施方式中，多个探针1(第一探针11、第二探针12)的长度相同。藉此，能使用相同规格的探针1对检测对象B进行检测，从而能降低夹具100的制造成本并提高组装性。
以下，参照图1，对本实施方式的探针保持部2的具体结构进行说明。
在本实施方式中，第一探针保持部21与第二探针保持部22一体形成。藉此，能提高夹具100的组装性。具体而言，第一探针保持部21的顶板21A与第二探针保持部22的顶板22A一体形成，第一探针保持部21的底板21B与第二探针保持部22的底板22B一体形成。此外，除了第一探针保持部21和第二探针保持部22以外，探针保持部2还具有四根立柱23。四根立柱23中的其中两根将第一探针保持部21的顶板21A与底板21B连接，四根该立柱23中的剩余两根将第二探针保持部22的顶板22A与底板22B连接，从而形成探针保持部2。
以上对第一探针保持部21与第二探针保持部22一体形成的情况进行了说明，但本实用新型并不局限于此，也可以是，第一探针保持部相对于第二探针保持部能移动，具体而言，第一探针保持部相对于第二探针保持部能沿靠近或远离检测对象的方向(图1中的上下方向)移动。藉此，能对第一探针保持部与第二探针保持部的高度差进行调节，从而对厚度差不同的检测对象(软硬结合板)进行检测。在这种情况下，例如可以分别在第一探针保持部和第二探针保持部增设两根立柱以对探针稳定地进行保持。
如图1所示，探针保持部2主要通过顶板21A、22A和底板21B、22B对探针1进行保持。具体而言，在顶板21A、22A和底板21B、22B上分别开设有多个贯通孔(未图示)，探针1能贯穿多个该贯通孔，并使该探针1的顶端11A、12A和底端11B、12B能分别从顶板21A、22A的上表面和底板21B、22B的下表面突出。
此外，在本实施方式中，上述的第一探针保持部21的长度D1与第二探针保持部22的长度D2相同是指：第一探针保持部21的顶板21A的上表面到底板21B的下表面的距离D1与第二探针保持部22的顶板22A的上表面到底板22B的下表面的距离D2相同(参照图1)。
另外，在本实施方式中，上述的第一探针保持部21的顶部与第二探针保持部22的顶部不在同一平面上是指：第二探针保持部22相对于第一探针保持部21朝向探针1的顶端11A、12A一侧(图1中的上方)突出。具体而言，如图1所示，第二探针保持部22的顶板22A的上表面与第一探针保持部21的顶板21A的上表面存在高度差H1。并且，在本实施方式中，该高度差H1等于第一检测对象B1与第二检测对象B2的厚度差T，即，H1＝T。
藉此，能分别通过被第一探针保持部21的第一探针11对厚度较大的硬板即第一检测对象B1进行检测、通过被第二探针保持部22保持的第二探针12对厚度较小的软板即第二检测对象B2进行检测。
以下，继续参照图1，对本实施方式的电极保持部3的具体结构进行说明。
如图1的下方所示，在本实施方式中，电极保持部3包括：第一电极保持部31，该第一电极保持部31以与第一探针保持部21对置的方式与第一探针保持部21的底部抵接；以及第二电极保持部32，该第二电极保持部32以与第二探针保持部22对置的方式与第二探针保持部22的底部抵接，且相对于第一电极保持部31朝向探针1的顶端11A、12A一侧突出。此外，在本实施方式中，电极保持部3例如通过未图示的螺钉等连接构件连接到探针保持部2的底板21B、22B的下表面。
具体而言，第一电极保持部31内置有多个电极P，多个该电极P的数量与第一探针11的数量对应，且多个该电极P的供第一探针11的底端11B抵接(电连接)的顶端大致与第一电极保持部31的靠探针保持部2一侧的表面(图1中的上表面)齐平。第二电极保持部32也内置有多个电极P，多个该电极P的数量与第二探针12的数量对应，且多个该电极P的供第二探针12的底端12B抵接(电连接)的顶端大致与第二电极保持部32的靠探针保持部2一侧的表面(图1中的上表面)齐平。此外，第一电极保持部31的靠探针保持部2一侧的表面(图1中的上表面)与第二电极保持部32的靠探针保持部2一侧的表面(图1中的上表面)存在高度差H2。
藉此，通过利用第二电极保持部32与第一电极保持部31的高度差H2，能使用相同规格的探针1对软硬结合板即检测对象B进行检测，从而能降低夹具100的制造成本并提高组装性。
此外，在本实施方式中，第一探针保持部21的检测对象B一侧的表面(即，顶板21A的上表面)与第二探针保持部22的检测对象B一侧的表面(即，顶板22A的上表面)的高度差H1等于第一电极保持部31的检测对象B一侧的表面(图1中的上表面)与第二电极保持部32的检测对象B一侧的表面(图1中的上表面)的高度差H2，即H1＝H2。
因此，在本实施方式中，被第一探针保持部21保持的探针1(11)的顶端11A从第一探针保持部21突出的量h1与被第二探针保持部22保持的探针1(12)的顶端12A从第二探针保持部22突出的量h2相等。具体而言，在图1中，第一探针11的顶端11A从顶板21A的上表面突出的量h1与第二探针12的顶端12A从顶板22A的上表面突出的量h2相等，即，h1＝h2。
由于H1＝H2，因此，能进一步使用相同规格的探针1(11、12)对软硬结合板即检测对象B进行检测，从而能进一步降低夹具100的制造成本并提高组装性。
由于h1＝h2，因此，顶端11A与顶端12A的高度差＝H1＝T，从而能对由厚度差为T的基板结合而成的检测对象B可靠地进行检测。
(变形例)
以下参照图2，对本实用新型实施方式的变形例进行说明。
在上述实施方式中，对H1＝H2的情况进行了说明。但本实用新型并不局限于此，也可以是，第一探针保持部21’的检测对象B一侧的表面与第二探针保持部22’的检测对象B一侧的表面的高度差H1’不同于第一电极保持部31’的检测对象B一侧的表面与第二电极保持部32’的检测对象B一侧的表面的高度差。
具体而言，如图2所示，在本变形例中，第一探针保持部21’的顶板21A’的上表面与第二探针保持部22’的顶板22A’的上表面之间存在高度差H1’，底板21B’的上表面与底板22B’的上表面之间也存在高度差H1’，这一点与上述实施方式相同。不过，第一电极保持部31’的上表面与第二电极保持部32’的上表面共面，即，高度差为零。因此，第一电极保持部31’以与第一探针保持部21’对置的方式与第一探针保持部21’的底部抵接，但第二电极保持部32’以与第二探针保持部22’对置的方式与第二探针保持部22’的底部隔开间隔。
在这种情况下，第一探针11’的长度L1’与第二探针12’的长度L2’不同。具体而言，如图2所示，第一探针11’的底端11A’从底板22B’的靠电极保持部3’一侧的表面(图2中的下表面)突出H1’的长度，即，L1’＜L2’，且L1’+H1’＝L2’。即，通过使用不同规格的探针1’(第一探针11’、第二探针12’)和夹具100’，将多个第一探针11’的顶端11A’和多个第二探针12’的顶端12A’保持为具有与检测对象B的厚度差T对应的高度差H1’(即，H1’＝T)，从而能对厚度差不同的软硬结合板即检测对象可靠地进行检测。
除了上述不同点以外，夹具100’的其他结构与夹具100’相同，在此省略其详细说明。
另外，本实用新型还提供一种具有夹具100、100’的电气检测装置(未图示)，具有上述夹具100、100’的该电气检测装置同样能对软硬结合板等由不同厚度的基板结合而成的电路板可靠地进行检测。
本实用新型在其范围内，能将上述实施方式自由组合，或是将上述实施方式适当变形、省略。