一种大米谷粒精白度测量仪的制作方法

本实用新型属于精白度测量仪技术领域，具体涉及一种大米谷粒精白度测量仪。

背景技术：

碾米工厂要做好成品率管理和质量管理，光靠测量白度是不够的。精白度仪不仅可以测量白度，而且还可以检测精白度、透明度，从而为碾米的质量管理做出了巨大贡献。测量精白度、透明度、白度3种要素，内藏的计算机演算测量值，并显示平均值。所谓精白度就是用数字显示经碾磨后的大米哪一种品质得到了提高，这些数值可以通过计算机来进行。由于采用了LED(发光二极管)，所以可以均匀地得到光源，从而提高了信赖度。并且能够进行长期稳定的高精度测量，还省去更换灯管的烦琐。米经过一段时间后，其成分中的类脂化合物就会被分解，而且会自动生成最终导致霉变的醛类。佐竹的测鲜仪就是以测定醛类的数量，再给它打分的形式，评定出米的新鲜度的新型仪器。

因为现有的精白度测量仪在其测量精度，测样效率以及人力耗损等方面仍有需要提升的地方，所以我们需一种大米谷粒精白度测量仪来解决上述问题，满足人们的需求。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种大米谷粒精白度测量仪，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种大米谷粒精白度测量仪，包括测样主机，所述测样主机右侧设有进样操控柱，所述测样主机底部设有样品承接料斗，所述样品承接料斗底部设有LED激发测量光源，所述LED激发测量光源底部设有数控传感器，所述数控传感器正面设有参数设置按钮，所述参数设置按钮底部设有支撑底脚，所述测样主机左侧设有米粒分离机，所述米粒分离机上表面设有筛料管，所述筛料管右侧设有控制传感器，所述控制传感器底部设有散热风机，所述散热风机底部设有防震缓冲垫，所述防震缓冲垫左侧设有碾米机，所述碾米机上表面设有翻转碾白轴，所述翻转碾白轴上表面设有杂物出料筒。

优选的，所述翻转碾白轴包括搅拌辊、碾白轴，所述搅拌辊设置在翻转碾白轴上表面，所述碾白轴设置在翻转碾白轴底部。

优选的，所述进样操控柱底部设有螺纹，所述进样操控柱与测样主机通过螺纹转动连接。

优选的，所述控制传感器包括数据芯片、控制器，所述数据芯片设置在控制传感器左侧，所述控制器设置在数据芯片右侧。

优选的，所述LED激发测量光源和测样主机电性连接。

优选的，所述支撑底脚设置为4个，4个所述支撑底脚分别对称设置在数控传感器底部。

优选的，所述散热风机内嵌在米粒分离机正面。

优选的，所述筛料管和控制传感器通过卡扣固定连接。

本实用新型的技术效果和优点：1、该种大米谷粒精白度测量仪将样品承接料斗容积增大，可同时测多组大米谷粒样品，提高测样效率；

2、该种大米谷粒精白度测量仪设有米粒分离机和翻转碾白轴，可对米粒进行测量前预处理，更好地测量其精白度；

3、该种大米谷粒精白度测量仪在其底部设有防震缓冲垫，可减少机械振动对该测量仪的反冲损伤。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的翻转碾白轴结构示意图；

图3为本实用新型的控制传感器结构示意图。

图中：1、碾米机；2、翻转碾白轴；201、搅拌辊；202、碾白轴；3、防震缓冲垫；4、杂物出料筒；5、散热风机；6、筛料管；7、控制传感器；701、数据芯片；702、控制器；8、米粒分离机；9、测样主机；10、样品承接料斗；11、LED激发测量光源；12、进样操控柱；13、参数设置按钮；14、支撑底脚；15、数控传感器。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型提供了如图1、图2和图3所示的一种大米谷粒精白度测量仪，包括测样主机9，所述测样主机9右侧设有进样操控柱12，所述测样主机9底部设有样品承接料斗10，所述样品承接料斗10底部设有LED激发测量光源11，所述LED激发测量光源11底部设有数控传感器15，所述数控传感器15正面设有参数设置按钮13，所述参数设置按钮13底部设有支撑底脚14，所述测样主机9左侧设有米粒分离机8，所述米粒分离机8上表面设有筛料管6，所述筛料管6右侧设有控制传感器7，所述控制传感器7底部设有散热风机5，所述散热风机5底部设有防震缓冲垫3，所述防震缓冲垫3左侧设有碾米机1，所述碾米机1上表面设有翻转碾白轴2，所述翻转碾白轴2上表面设有杂物出料筒4。

具体的，所述翻转碾白轴2包括搅拌辊201、碾白轴202，所述搅拌辊201设置在翻转碾白轴2上表面，所述碾白轴202设置在翻转碾白轴2底部。

具体的，所述进样操控柱12底部设有螺纹，所述进样操控柱12与测样主机9通过螺纹转动连接。

具体的，所述控制传感器7包括数据芯片701、控制器702，所述数据芯片701设置在控制传感器7左侧，所述控制器702设置在数据芯片701右侧。

具体的，所述LED激发测量光源11和测样主机9电性连接。

具体的，所述支撑底脚14设置为4个，4个所述支撑底脚14分别对称设置在数控传感器15底部。

具体的，所述散热风机5内嵌在米粒分离机8正面。

具体的，所述筛料管6和控制传感器7通过卡扣固定连接。

工作原理：该种大米谷粒精白度测量仪在使用时，先将测样主机9连接电源，将参数设置按钮13进行参数设置，将样品放入样品承接料斗10中，通过进样操控柱12控制其进样，LED激发测量光源11发出光源，对样品承接料斗10中的样品进行光照测量，数控传感器15将测量数据进行传感，粒分离机8中的筛料管6和翻转碾白轴2对米粒进行筛分，散热风机5对该仪器进行散热，防震缓冲垫3减少机械振动对仪器的反冲损伤，杂物出料筒4将杂物进行排放，支撑底脚14对仪器进行底部支撑。

最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换,凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。