本实用新型涉及一种被动组件检测机构，尤指一种可自动对被动组件进行各种检测，以符合各种安全规范需求及大幅提升检测效率的被动组件自动检测机构。
背景技术：
一般的被动组件在制作完成后，通常是依据各种安全规范的需求进行各种检测，如层间测试、直流电阻测试、串联电感测式、串联电阻测式、外观检查等，以取得相对应数据并进行筛检后，才会将良品以同一极性方向地传送出去。目前的被动组件进行检测的方式，通常是分别依序将被动组件运送到各种专门检测单项数据的检测机，如层间测试机、直流电阻测试机、串联电感测试机、串联电阻测试机及外观检查机等进行检测及筛检，再送至一喷墨机喷上检测合格的标识符号，最后送到一包装机进行极性方向的测试、转换、喷墨及包装。因此整个检测流程的时间及人力会被大量浪费在被动组件于各检测机台之间的运送中，而使检测效率不佳，尤其是如此多的被动组件检测机、喷墨机及包装机不但会占用大量的空间及人力，而且更是会使设备成本大幅增加。
技术实现要素：
本实用新型所要解决的技术问题是：针对现有技术中被动组件于检测流程中需于多台各种类检测机之间运送及检测所存在的检测效率不佳、占空间及成本高等诸多问题，而提供一种被动组件自动检测机构。
为解决上述技术问题，本实用新型所采用技术方案是：一种被动组件自动检测机构，其包括机台、进料模块、层间测试器、直流电阻测试器、串联电感/电阻测试器、第一极性测试器、极性转换器、第二极性测试器、CCD外观检测器及输出轨道，其特征在于，还包括分割盘，其中，该进料模块设于该机台上以将数个被动组件依序向前传送；该分割盘顺时针寸转地设在该机台上，该分割盘的周面等间隔设有数个缺槽，该分割盘的寸转角度为一格，使每一缺槽可依序接收一个来自该进料模块的被动组件，并将其顺时针运送；该层间测试器设于该机台上，以对经过的被动组件进行层间测试而取得被动组件进行非破坏性的耐电气冲击数据；该直流电阻测试器系设于该机台上且位于该层间测试器之后，可供对经过的被动组件进行直流电阻测试，以取得被动组件的直流电阻数据；该串联电感/电阻测试器设于该机台上且位于该直流电阻测试器之后，可供对经过的被动组件进行串联电感/电阻测试，以取得被动组件的串联电感值及串联电阻值；该第一极性测试器设于该机台上且位于该串联电感/电阻测试器之后，可供对经过的被动组件进行极性测试，以取得被动组件的极性方向；该极性转换器设于该机台上且位于该第一极性测试器之后，可供将经该第一极性测试器检测出的反向的被动组件转换至正向；该第二极性测试器设在该机台上且位于该极性转换器之后，可供对经过的被动组件进行极性测试，以确定被动组件的极性方向；该CCD外观检测器设于该机台上且位于该第二极性测试器之后，可供撷取经过的被动组件的影像并进行外观的检查；该输出轨道设于该机台上且位于该CCD外观检测器之后，可供将检测完成及极性转换成正向的被动组件依序向外传送。
所述机台上具有一层间测试不良品排出孔、一直流电阻测试不良品排出孔、一串联电感测试不良品排出孔、一串联电阻测试不良品排出孔、一极性测试不良品排出孔及一外观检测不良品排出孔，该层间测试不良品排出孔位于该层间测试器之后，可供将层间测式值超出标准范围的不良品排出，该直流电阻测试不良品排出孔位于该直流电阻测试器之后可供将直流电阻测试超值出标准范围的不良品排出，该串联电感测试不良品排出孔位于该串联电感/电阻测试器之后，可供将串联电感测试值超出标准范围的不良品排出，该串联电阻测试不良品排出孔位于该串联电感/电阻测试器之后，可供将串联电阻测试值超出标准范围的不良品排出，该极性测试不良品排出孔位于该第二极性测试器之后但位于该吸尘单元之前，可供将经该第二极性测试器确定为极性方向错误的被动组件排出，该外观检测不良品排出孔位于该CCD外观检测器之后但位于该吸尘单元之前，可供将经该CCD外观检测器检测出外观有瑕疵的被动组件排出。
所述检测机构更包括有一吸尘单元，该吸尘单元设于该机台上且位于该CCD外观检测器之后，可供将缺槽中除被动组件以外的杂质吸出。
所述机台上更具有一重测排除孔，该重测排除孔位于该吸尘单元之后，可以在发生当机或其他因素造成停机之情形下将该分割盘上所有的被动组件全部排出。
所述分割盘上具有50格缺槽，并将其分别定义为50个工位，以对正该进料模块进料处的缺槽定义为第1工位，然后顺时针依多递增工位直至第50工位，该层间测试器位于第6工位，该层间测试不良品排出孔位于第8工位，该直流电阻测试器位于第10工位，该直流电阻测试不良品排出孔位于第12工位，该串联电感/电阻测试器位于第14工位，该串联电感测试不良品排出孔位于第17工位，该串联电阻测试不良品排出孔位于第19工位，该第一极性测试器位于第21工位，该极性转换器，位于第24工位，该第二极性测试器位于第27工位，该极性测试不良品排出孔位于第29工位，该CCD外观检测器位于第30工位，该外观检测不良品排出孔位于第31工位，该吸尘单元位于第33工位，该重测排除孔位于第46工位。
所述机台上设有数个吹气单元，该数个吹气单元对应设于上述各不良品排出孔处，以将分割盘的缺槽中的不良品吹入相应的不良品排出孔中。
所述层间测试器具有同步升降的数个探针，该数个探针位在该分割盘的相对应缺槽的下侧，该数个探针上升时可接触该相对应缺槽中的被动组件以进行充压及检测出相对应的数据。
所述直流电阻测试器具有同步升降的数个探针，该数个探针位在该分割盘的相对应缺槽的下侧，该数个探针上升时可接触该相对应缺槽中的被动组件以进行充压及检测出相对应的数据。
所述极性转换器具有可转动的一旋转件，该旋转件位于该分割盘的外侧，于该旋转件的顶面具有贯通到两相对侧呈开口状的一容槽以容纳该被动组件，该机台上设有两吹气单元分别位于该旋转件的内侧及外侧，位在内侧的吹气单元可供将极性反向的被动组件由该分割盘的缺槽吹到该旋转件的容槽中，位在外侧的吹气单元可将经该旋转件旋转180度的极性正向的被动组件由该旋转件的容槽吹回该分割盘的缺槽中。
所述机构更包括有一喷墨单元及一CCD喷墨检测单元，该喷墨单元位于该输出轨道的上方，可供于检测完成的被动组件上喷上检测合格的符号，该CCD喷墨检测单元位于该输出轨道的上方且并位于该喷墨单元之后，可供检测被动组件上的检测合格符号是否清晰。
本实用新型所提供的被动组件自动检测机构，可藉由该些依序设于该分割盘运送被动组件的路径上的层间测试器、直流电阻测试器、串联电感/电阻测试器、第一极性测试器及CCD外观检测器对经过的被动组件进行检测，使其在同一机台中即可取得该被动组件的层间测试、直流电阻测试、串联电感/电阻测试、极性测试、外观检测等相关数据，以供进行良品及不良品的快速筛检。而且，可藉由极性转换器将反向的被动组件转换成正向，以便之后的封装作业。因此，可大幅提升被动组件的检测效率及可降低设备的购置成本。
附图说明
图1是本实用新型的系统方块图。
图2是本实用新型各构件的位置配置示意图。
图3是本实用新型的层间检测器及电感测试器、电阻测试器的立体外观示意图。
图4是本实用新型的直流电阻测试器及第一、二极性测试器的侧面示意图。
图5是本实用新型的极性转换器的立体外观示意图。
符号说明：
10 机台 11 层间测试不良品排出孔
12 直流电阻测试不良品排出孔 13 串联电感测试不良品排出孔
14 串联电阻测试不良品排出孔 15 极性测试不良品排出孔
16 外观检测不良品排出孔 17 重测排除孔
20 进料模块 30 分割盘
31 缺槽 40 层间测试器
400 探针 41 直流电阻测试器
410 探针 42 串联电感/电阻测试器
43 第一极性测试器 44 极性转换器
440 旋转件 441 容槽
45 第二极性测试器 50 CCD外观检测器
60 吸尘单元 70 输出轨道
71 喷墨单元 72 CCD喷墨检测单元。
具体实施方式
请参阅图1-图5所示，显示本是本实用新型的所述的被动组件自动检测机构，其包括一机台10及设于该机台10上的一进料模块20、一分割盘30、一层间测试器40、一直流电阻测试器41、一串联电感/电阻测试器42、一第一极性测试器43、一极性转换器44、一第二极性测试器45、一CCD外观检测器50、一吸尘单元60、一输出轨道70、一喷墨单元71及一CCD喷墨检测单元72。其中：
该机台10，顶面具有一层间测试不良品排出孔11、一直流电阻测试不良品排出孔12、一串联电感测试不良品排出孔13、一串联电阻测试不良品排出孔14、一极性测试不良品排出孔15、一外观检测不良品排出孔16及一重测排出孔17。上述的排出孔分别各配合有一吹气单元(图中未示) 以将分割盘30上相对应的不良品吹入相应的排出孔中。
该进料模块20，以将数个被动组件依序向前传送到该分割盘30。
该分割盘30，可在该机台10上顺时针寸转，该分割盘30的周面等间隔设有数个缺槽31，该分割盘30的寸转角度为一格，每一缺槽31可依序接收一个来自该进料模块20的被动组件，并将其顺时针运送。在本实用新型的中，该分割盘30上具有50格缺槽31，并将其定义为50个工位，以对正该进料模块20进料处的缺槽31定义为第1工位（参见图2中紧挨着缺槽标记的数字1，以下类似，不再叙述），然后顺时针依多递增工位直至第50工位。
该层间测试器40，位于第6工位处，以对经过的被动组件进行层间测试而取得被动组件进行非破坏性的耐电气冲击数据。该层间测试不良品排出孔11位于第8工位处，可供将层间测试值超出标准范围的不良品排出。
该直流电阻(DCR)测试器41，位于第10工位处，可供对经过的被动组件进行直流电阻测试，以取得被动组件的直流电阻数据。该直流电阻测试不良品排出孔12位于第12工位处，可供将直流电阻测试值超出标准范围的不良品排出。
该串联电感/电阻(LS/RS)测试器42，位于第14工位处，可供对经过的被动组件进行串联电感/电阻测试，以取得被动组件的串联电感值及串联电阻值。该串联电感测试不良品排出孔13位于第17工位处，可供将串联电感测试值超出标准范围的不良品排出。该串联电阻测试不良品排出孔14位于第19工位处，可供将串联电阻测试值超出标准范围的不良品排出。
该第一极性测试器43，位于第21工位处，可供对经过的被动组件进行极性测试，以取得被动组件的极性方向。
该极性转换器44，位于第24工位处，可供将经该第一极性测试器43检测出的反向的被动组件转换至正向。
该第二极性测试器45，位于第27工位处，可供对经过的被动组件进行极性测试，以再次确定被动组件的极性方向。该极性测试不良品排出孔15位于第29工位处，可供将极性方向错误的被动组件排出。
该CCD外观检测器50，位于第30工位处，可供撷取经过的被动组件的影像并进行外观的检查。该外观检测不良品排出孔16位于第31工位处，可供将外观有瑕疵的被动组件排出。
该吸尘单元60，位于第33工位处，可供将该分割盘30上经过其下方的缺槽31中除被动组件以外的粉尘、灰尘等杂质吸出。该重测排除孔17位于第46工位处，可以让万一在测试时发生当机或其他因素造成停机的情形下供将该分割盘30上所有的被动组件全部排出，以免未经测试的被动组件被包装。
该输出轨道70，设于该分割盘30运送被动组件的路径上，且位于该吸尘单元60之后。该输出轨道70可供将检测完成及极性转换成正向后的被动组件依序向外传送。
该喷墨单元71，位于该输出轨道70的上方，可供于检测完成的被动组件上喷上检测合格的符号。
该CCD喷墨检测单元72，位于该输出轨道70的上方且并位于该喷墨单元71之后，可供检测被动组件上的检测合格符号是否清晰。
请参阅图3所示，指出该层间测试器40具有同步升降的数个探针400，该数个探针400位在该分割盘30的相对应缺槽31的下侧。该数个探针400上升时可接触该相对应缺槽31中的被动组件以进行充压及检测出相对应的数据。而该串联电感/电阻测试器42的结构与该层间测试器40相同，仅是测试的数据不同。
请参阅图4所示，指出该直流电阻测试器41具有同步升降的数个探针410，该数个探针410位在该分割盘30的相对应缺槽31的下侧，该数个探针410上升时可接触该相对应缺槽31中的被动组件以进行充压及检测出相对应的数据。而该第一极性测试器43及第二极性测试器45的结构与该直流电阻测试器41相同，仅是测试的数据不同。
请参阅图5所示，指出该极性转换器44具有可转动的一旋转件440，该旋转件440位于该分割盘30的外侧，于该旋转件440的顶面具有贯穿到两相对侧呈开口状的一容槽441以容纳该被动组件。该机台10上配合设有两吹气单元(图中未示)分别位于该旋转件440的内侧及外侧，位在内侧的吹气单元可供将极性反向的被动组件由该分割盘30的缺槽31吹到该旋转件440的容槽441中，位在外侧的吹气单元可将经该旋转件440旋转180度的极性正向的被动组件由该旋转件440的容槽441吹回该分割盘30的缺槽31中。
本实用新型所提供的被动组件自动检测机构可藉由该些依序设于该分割盘30运送被动组件的路径上的层间测试器40、直流电阻测试器41、串联电感/电阻测试器42、第一极性测试器43、第二极性测试器45及CCD外观检测器50对经过的被动组件进行各种数据及外观的检测，使其在同一机台中即可取得该被动组件的层间测试、直流电阻测试、串联电感/电阻测试、极性测试、外观检测等相关数据，以供利于进行良品及不良品的快速筛检。而且，可利用该吸尘单元60将被动组件以外的粉尘等杂质吸出，以及可藉由极性转换器44将反向的被动组件转换成正向，以便之后的封装作业。所以可大幅提升被动组件的检测效率及可降低设备的购置成本。