本实用新型涉及三极管测试领域，具体涉及一种三极管开尔文测试组件。
背景技术：
对于功率器件芯片的正反压降或通态电阻的测试，为了提高测试的精度，通常采用开尔文测试法。开尔文测试就是通常所说的四线测试法，四线测试法的目的是扣除导线电阻带来的压降。一般30厘米长导线的等效电阻大概是十毫欧姆到百毫欧姆，如果通过导线的电流足够大(比如是安培级的话)，那么导线两端的压降就达到几十到上百毫伏。
目前，开尔文测试法的设备一般有四个测试探针，将测试测针连接在被测电子元件的两端，其中两个测试探针形成回路作为电流供给电子元件，另外两个探针作为高阻抗测量。使用这种测试方法，排线阻抗、接触阻抗等内部阻抗皆可忽略，因此可提高测试精度。
现有的测试方式一般是将探针做成夹子状的测试夹，测试夹接触待测电子元件的接触脚，从而进行测试，然而，对于二极管、三极管等尺寸较小的部件，测试需要固定其位置，操作困难，测试效率低。
技术实现要素：
针对以上问题，本实用新型提供一种适用于三极管的开尔文测试组件，使用该测试组件测试三极管，三极管的引脚与其接触良好，测试时操作简单，测试效率高。
为实现上述目的，本实用新型通过以下技术方案来解决：
一种三极管开尔文测试组件，包括安装座，所述安装座包括输入端和输出端，所述输入端包括依次设置的第一接触端子、第二接触端子、第三接触端子、第四接触端子、第五接触端子、第六接触端子，所述输出端包括依次设置的第一输出端子、第二输出端子、第三输出端子、第四输出端子、第五输出端子，所述第一接触端子与所述第一输出端子连接，所述第二接触端子与所述第二输出端子连接，所述第三接触端子、所述第四接触端子均与所述第三输出端子连接，所述第五接触端子与所述第四输出端子连接，所述第六接触端子与所述第五输出端子连接，所述第一接触端子与所述第六接触端子镜像设置并且均包括弯折部A以及连接部A，所述第二接触端子与所述第五接触端子镜像设置并且均包括弯折部B以及连接部B，所述弯折部A的长度大于所述弯折部B的长度，所述连接部A的长度大于所述连接部B的长度。
具体的，所述第一接触端子与所述第二接触端子之间、所述第二接触端子与所述第三接触端子之间、所述第三接触端子与所述第四接触端子之间、所述第四接触端子与所述第五接触端子之间、所述第五接触端子与所述第六接触端子之间均夹设有绝缘隔板。
具体的，所述第六接触端子远离所述第五接触端子一侧还设有锁紧块，所述安装座与所述锁紧块螺纹连接，所述安装座与所述锁紧块之间还设有定位柱，所述定位柱穿过所述输入端和所述绝缘隔板将所述输入端固定在所述安装座与所述锁紧块之间。
具体的，所述第六接触端子和所述锁紧块之间还设有所述绝缘隔板。
具体的，所述第三接触端子与所述第四接触端子的间距为d，d≤0.38mm。
本实用新型的有益效果是：
第一，本实用新型的开尔文测试组件，适用于测试三极管的各电学性能，测试时，将三极管的中间引脚夹设于第三接触端子与第四接触端子之间，夹设的方式使两者接触良好，避免由于接触不良导致的测试误差，然后只需将第一接触端子、第二接触端子、第五接触端子及第六接触端子按压，使其与另外两引脚接触，即可完成测试，操作简单，测试效率高；
第二，第一接触端子与第二接触端子、第五接触端子与第六接触端子设计成错位结构，测试方便，也有效地避免了由于互相接触而影响测试结构；
第三，由于三极管的引脚标准尺寸为0.38mm，将第三接触端子与第四接触端子的间距设置为小于等于0.38mm，可使三极管的引脚更稳固地放置于测试组件内。
附图说明
图1为本实用新型的一种三极管开尔文测试组件的主视图。
图2为本实用新型的一种三极管开尔文测试组件的右视图。
图3为本实用新型的一种三极管开尔文测试组件的左视图。
图4为本实用新型的一种三极管开尔文测试组件的内部结构示意图。
图5为本实用新型的一种三极管开尔文测试组件插入三极管测试时的主视图。
附图标记为：安装座1、输入端11、第一接触端子111、第二接触端子112、第三接触端子113、第四接触端子114、第五接触端子115、第六接触端子116、输出端12、第一输出端子121、第二输出端子122、第三输出端子123、第四输出端子124、第五输出端子125、弯折部A101、连接部A102、弯折部B103、连接部B104、绝缘隔板13、锁紧块14、定位柱15、三极管2、第一引脚21、第二引脚22、第三引脚23。
具体实施方式
下面结合实施例和附图对本实用新型作进一步详细的描述，但本实用新型的实施方式不限于此。
如图1-5所示：
一种三极管开尔文测试组件，包括安装座1，安装座1包括输入端11和输出端12，输入端11包括依次设置的第一接触端子111、第二接触端子112、第三接触端子113、第四接触端子114、第五接触端子115、第六接触端子116，输出端12包括依次设置的第一输出端子121、第二输出端子122、第三输出端子123、第四输出端子124、第五输出端子125，第一接触端子111与第一输出端子121连接，第二接触端子112与第二输出端子122连接，第三接触端子113、第四接触端子114均与第三输出端子123连接，第五接触端子115与第四输出端子124连接，第六接触端子116与第五输出端子125连接，第一接触端子111与第六接触端子116镜像设置并且均包括弯折部A101以及连接部A102，第二接触端子112与第五接触端子125镜像设置并且均包括弯折部B103以及连接部B104，弯折部A101的长度大于弯折部B103的长度，连接部A102的长度大于连接部B104的长度。
优选的，第一接触端子111与第二接触端子112之间、第二接触端子112与第三接触端子113之间、第三接触端子113与第四接触端子114之间、第四接触端子114与第五接触端子115之间、第五接触端子115与第六接触端子116之间均夹设有绝缘隔板13，绝缘隔板13将各部分隔开，起到绝缘效果。
优选的，第六接触端子116远离第五接触端子115一侧还设有锁紧块14，安装座1与锁紧块14螺纹连接，安装座1与锁紧块14之间还设有定位柱15，定位柱15穿过输入端11和绝缘隔板13将输入端11固定在安装座1与锁紧块14之间。
优选的，第六接触端子116和锁紧块14之间还设有绝缘隔板13。
优选的，第三接触端子113与第四接触端子114的间距为d，d≤0.38mm，三极管2下侧依次设有第一引脚21、第二引脚22、第三引脚23，由于三极管2的第二引脚22标准尺寸为0.38mm，将第三接触端子113与第四接触端子114的间距设置为小于等于0.38mm，可使三极管22的引脚第二引脚22更稳固地放置于测试组件内。
具体测试操作如下：
将第二引脚22夹设于第三接触端子113与第四接触端子114之间，此时，第一引脚21位于第二接触端子112与第三接触端子113之间，第三引脚23位于第四接触端子114与第五接触端子115之间，按压第二接触端子112与第三接触端子113，使其弯折部A101和弯折部B103与第一引脚21接触，按压第五接触端子115与第六接触端子116，使其弯折部A101和弯折部B103与第三引脚23接触，而下侧的第一输出端子121、第二输出端子122、第三输出端子123、第四输出端子124、第五输出端子125均可连接万能表或其他测试仪器，通过测试仪器选择相应的测试部位及测试选项即可完成相应的测试。
以上所述实施例仅表达了本实用新型的一种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。