一种光斑尺寸精密测试装置的制作方法

文档序号:16081787发布日期:2018-11-27 21:55阅读:200来源:国知局

本实用新型涉及光学测量技术领域,具体为一种光斑尺寸精密测试装置。



背景技术:

在光机制造行业中,为了使产品能达到设计精度和质量要求,除了传统的物理计量与检测实现方法,可以运用高性能计算机及软件技术、光学、光学成像、声学与机器动作多种混合技术实现的逻辑计量与检测,习惯将这些复杂的计量与检测技术称之为非接触计量与检测技术。

现有的产品光学后焦值较小,而光电传感探测器感光面内缩,产品光斑不能直入探测器;直入式测试调节空间有限,测试误差偏大。



技术实现要素:

本实用新型的目的在于提供一种光斑尺寸精密测试装置,以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种光斑尺寸精密测试装置,包括测试平台,所述测试平台上设置有光电探测传感器、光路系统和仿形治具,所述光电探测传感器和仿形治具分别设置在光路系统的两端,所述光路系统包括长筒,所述长筒的内腔靠近仿形治具的一端固定连接有反射镜,所述反射镜的上方设置有第一透镜,所述第一透镜的边缘固定连接长筒的内侧壁,所述反射镜与第一透镜呈45°夹角,所述长筒顶壁上开设有通孔,所述通孔位于第一透镜的正上方,所述长筒的内腔远离反射镜的一端固定连接有第二透镜,所述长筒的底部和仿形治具的底部均固定连接有第一支架,所述第一支架的底部固定连接测试平台,所述光电探测传感器的底部固定连接有第二支架,所述测试平台的顶部开设有滑槽,且滑槽位于光电探测传感器的正下方,所述滑槽的内部设置有滑块,所述滑块的顶部固定连接第二支架的底部,所述光电探测传感器外接PC电脑。

优选的,所述长筒的顶部设置有橡胶管,所述橡胶管的底部固定在通孔的边缘。

优选的,所述光电探测传感器的直径小于长筒的内径,且光电探测传感器靠近长筒的一端外壁上套设有橡胶圈,所述橡胶圈的外径不小于长筒的内径。

优选的,所述滑槽的截面呈“凸”形,且其内壁上设置有抛光处理层。

优选的,所述第一支架和第二支架均为伸缩杆或伸缩支架。

与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:本装置以反射镜、第一透镜和第二透镜形成可逆转换光路系统,引出样机后焦光斑,拓展了调试空间。本装置结构简单,设计巧妙,制作工艺简单,操作简单易行,制造成本低。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图;

图2为本实用新型滑槽的截面示意图;

图3为图1的A处放大图。

图中标号:1测试平台、2光电探测传感器、3光路系统、31长筒、32反射镜、33第一透镜、34通孔、35第二透镜、4仿形治具、5第一支架、6第二支架、7滑槽、8滑块、9橡胶管、10橡胶圈。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-3,本实用新型提供一种技术方案:一种光斑尺寸精密测试装置,包括测试平台1,所述测试平台1上设置有光电探测传感器2、光路系统3和仿形治具4,所述光电探测传感器2和仿形治具4分别设置在光路系统3的两端,所述光路系统3包括长筒31,所述长筒31的内腔靠近仿形治具4的一端固定连接有反射镜32,所述反射镜32的上方设置有第一透镜33,所述第一透镜33的边缘固定连接长筒31的内侧壁,所述反射镜32与第一透镜33呈45°夹角,所述长筒31顶壁上开设有通孔34,所述通孔34位于第一透镜33的正上方,所述长筒31的内腔远离反射镜32的一端固定连接有第二透镜35,所述长筒31的底部和仿形治具4的底部均固定连接有第一支架5,所述第一支架5的底部固定连接测试平台1,所述光电探测传感器2的底部固定连接有第二支架6,所述测试平台1的顶部开设有滑槽7,且滑槽7位于光电探测传感器2的正下方,所述滑槽7的截面呈“凸”形,且其内壁上设置有抛光处理层,所述滑槽7的内部设置有滑块8,所述滑块8的顶部固定连接第二支架6的底部,所述光电探测传感器2外接PC电脑。

所述长筒31的顶部设置有橡胶管9,所述橡胶管9的底部固定在通孔34的边缘。所述光电探测传感器2的直径小于长筒31的内径,且光电探测传感器2靠近长筒31的一端外壁上套设有橡胶圈10,所述橡胶圈10的外径不小于长筒31的内径。橡胶圈10和橡胶管9可防止其他光线进入长筒31,有效增强测试的准确性。

所述第一支架5和第二支架6均为伸缩杆或伸缩支架。

使用时,产品样机通过仿形治具4固定在测试平台1上,第一透镜33、第二透镜35和反射镜32构成可逆转换光路系统,引出样机后焦光斑,拓展调试空间,光电探测传感器2经第二支架6固定在测试平台1上,并与PC相连。测试时,调节光电探测传感器2、光路系统3和产品样机的水平位置及高度,使待测后焦点准确入射光电探测传感器2。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

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