一种芯片多工位测试系统的制作方法

本实用新型涉及芯片测试系统，特别涉及一种芯片多工位测试系统。

背景技术：

多工位测试实践证明，增加工位数可提高测试效率，同时测试n个芯片，效率可提高n倍。目前的芯片测试系统拥有的算法模式数目有限，而且数字引脚和模块引脚都有限定，因此欲增加工位数提高无线工控芯片的测试效率，必须在原有的系统资源上增加一定的硬件和开发一款测试程序，而且目前的测试系统存在一定的局限性，很多测试系统只能进行两工位和四工位同频率测试，故虽然能提高一定的测试效率，但不能进行多频率同测，限制了无线工控芯片只能在一个频率测试，若要测不同频率还需再测试一次，这无疑增加了测试成本及效率。

技术实现要素：

本实用新型的目的是提供一种芯片多工位测试系统的硬件结构，在软件工程师对芯片多工位测试系统中的信号处理器进行编程后，该芯片多工位测试系统能同时测试处于不同频段下的芯片。

为了达到上述目的，本实用新型提供一种芯片多工位测试系统，包括依次电连接的主控装置、测试机和多工位探针卡，所述多工位探针卡用于放置被测芯片，所述测试机根据主控装置所设定的程序产生频率信号传至多工位探针卡上的被测芯片，使被测芯片处于某个频段，还设有电连接多工位探针卡的信号处理器，其用于处理来自放置在多工位探针卡上的被测芯片的数据。

优选地，所述信号处理器通过射频线电连接多工位探针卡。

优选地，所述多工位探针卡设有至少两个用于放置被测芯片的工位。

优选地，所述多工位探针卡的每个工位上设有16个探针

优选地，所述主控装置为计算机。

本实用新型所提供的硬件结构具有以下有益效果：在软件工程师对芯片多工位测试系统中的信号处理器进行编程后，信号处理器接收到来自多工位探针卡的被测芯片数据后，将数据同时进行计算处理，再将得出的结果与预设的值进行比较，使多个芯片能在不同频率下同时进行测试，提高了芯片的测试效率。

附图说明

图1是芯片多工位测试系统的结构框图；

图2是芯片多工位测试系统与被测芯片的引脚电连接示意图。

具体实施方式

如图1所示，芯片多工位测试系统包括依次电连接的计算机、测试机和多工位探针卡，所述计算机用作主控装置，多工位探针卡用于放置被测芯片，使多工位探针卡上的探针接触被测芯片的引脚。测试系统与被测芯片各引脚的电连接关系如图2所示，被测芯片为16引脚芯片，故多工位探针卡(图2中未示出)的每个工位上相应地设有16个探针。

测试时，将两个以上的被测芯片放置在多工位探针卡上，使多工位探针卡上的探针接触被测芯片的引脚；测试机根据计算机所设定的程序产生多个不同的频率信号，多个不同的频率信号通过多工位探针卡分别传送至放置在多工位探针卡上的各个被测芯片，使各个被测芯片处于不同的频段；各个被测芯片在不同频段下所产生的数据不同，全部被测芯片产生的不同数据经多工位探针卡传至信号处理器，由于多工位探针卡和信号处理器之间采用射频线电连接，数据的传输稳定，故数据不会受到外界的干扰；信号处理器接收到全部数据后对其进行计算处理，将计算得出的结果与预设的值逐一进行比较，若比较结果相同则通过测试，信号处理器将通过测试的信号经多工位探针卡和测试机传至计算机，在计算机显示屏上显示相应的芯片PASS，若比较结果不同则不通过测试，信号处理器将不通过测试的信号经多工位探针卡和测试机传至计算机，在显示屏幕上显示相应的芯片FAIL，从而将不符合产品规格要求的芯片筛选出来。测试系统可对芯片的电压、电流、射频功能等进行验证，并且通过信号处理器可同时测试多个处于不同频段的芯片。