一种薄型X光束电离室的制作方法

文档序号:16768153发布日期:2019-01-29 18:07阅读:252来源:国知局
一种薄型X光束电离室的制作方法

本实用新型属于电离室领域,尤其是一种薄型X光束电离室。



背景技术:

电离室是X射线探测设备,被广泛应用于束状X射线探测特别是同步辐射束线监测及同步辐射实验研究中。根据需要通入纯氩,纯氮或混合工作气体,高压电极上施加高电压,则在信号电极与高压电极之间产生电场,当有X射线沿轴向方向从窗口入射,两极板之间的气体产生电离,在电场的作用下电离的带电粒子及电子分别向两极板运动,当达到极板即产生信号电流,信号电流与X射线强度正比。电离室基于这一物理原理实现对入射X射线强度探测。

目前国外生产的薄型X光束电离室由于腔体沿光轴向长度相对窗口尺度短,易受外界电磁干扰的影响,即噪声大;由于内部空间小,结构受限,造成极板平行度不易控制,高压对信号电极板造成漏电,造成暗电流。



技术实现要素:

本实用新型要解决的问题是,设计一种高精度的用于小空间实验环境的电离室,采用的技术方案如下:

一种薄型X光束电离室,包括壳体、信号插座、第一快接气嘴、第二快接气嘴、高压电极板、信号电极板、高压插座、垫片、第一绝缘卡块、第二绝缘卡块、第三绝缘卡块、第四绝缘卡块、第一焊接柱和第二焊接柱。

进一步的,壳体为矩形框结构,壳体四周有孔,壳体端面矩形框边框有凹槽,壳体内表面有凹槽。

进一步的,第一焊接柱一端焊接在高压电极板上,另一端连接高压插座的引脚,高压电极板的两端分别插接一个绝缘卡块,第二焊接柱一端焊接在信号电极板上,另一端连接信号插座的引脚,信号电极板的两端分别插接一个绝缘卡块,四个绝缘卡块分别插在壳体内表面的凹槽内,第一快接气嘴、第二快接气嘴、信号插座、高压插座固定在壳体上,信号插座与壳体之间有垫片。

进一步的,所述电离室壳体两端分别安装有盖板和封膜压板,盖板安装在壳体上,封膜压板安装在盖板上。盖板和壳体之间有O型密封圈,O型密封圈置于壳体一侧端面上的矩形凹槽内。盖板和封膜压板之间有窗口封膜。

进一步的,所述电离室为气密结构。

进一步的,壳体材料优选铝。

进一步的,垫片材料优选铝。

进一步的,绝缘卡块材料优选聚四氟乙烯。

进一步的,窗口封膜优选70μm镀铝聚酯酰胺封膜。

进一步的,O型密封圈优选橡胶。

进一步的,高压电极板和信号电极板之间相互平行。

进一步的,电极和焊接柱材料优选铜。

进一步的,盖板中间有10mm╳20mm窗口。

进一步的,封膜压板中间有10mm╳20mm窗口。

进一步的,盖板和封膜压板尺寸相同。

进一步的,盖板和封膜压板材料优选钢。

进一步的,高压电极板和信号电极板尺寸相同,为10mm╳20mm。

进一步的,高压电极板和信号电极板沿X射线入射方向长度为20mm。

与现有技术相比,本实用新型的有益效果在于:

1.电离室沿其X射线入射方向长度为20mm适用于小空间的实验环境。

2.电极板插在绝缘卡块上,卡块插在金属壳体内表面的凹槽内,这种结构在保证电极板相互平行的同时,避免了高压电极对信号电极的漏电,提高了测量的精度。

3.采用聚酯酰胺窗口封膜,有效屏蔽了外界电磁干扰的影响。

附图说明

图1是本实用新型结构示意图;

图2是本实用新型俯视图;

图3是本实用新型内部结构示意图;

图4是本实用新型内部结构侧视图。

附图标记说明:

封膜压板-1,盖板-2,O型密封圈-3,绝缘卡块-4,快接气嘴-5,螺丝-6,焊接柱-7,高压插座-8,壳体-9,垫片-10,信号插座-11,窗口封膜-12,电极板-13。

具体实施方式

如图1至4所示,本实用新型一种薄型X光束电离室,包括壳体9、信号插座11、两个接气嘴5、两块电极板13、高压插座、垫片、四个绝缘卡块4、两个焊接柱7,其中电极板13分为高压电极板和信号电极板,第一焊接柱一端焊接在高压电极板上,另一端连接高压插座8的引脚,高压电极板的两端分别插接一个绝缘卡块,第二焊接柱一端焊接在信号电极板上,另一端连接信号插座11的引脚,信号电极板的两端分别插接一个绝缘卡块,四个绝缘卡块分别插在壳体9内表面的槽内,第一快接气嘴、第二快接气嘴、信号插座11、高压插座8固定在壳体9上,信号插座11与壳体9之间有垫片10。

电离室壳体9两端分别安装有盖板2和封膜压板1,盖板2安装在壳体9上,封膜压板1安装在盖板2上。盖板2和壳体9之间有O型密封圈3,O型密封圈3置于壳体9一侧端面上的矩形凹槽内。盖板2和封膜压板1之间有窗口封膜12。

使用时,根据需要使用快接气嘴5通入纯氩,纯氮或混合工作气体,在高压电极上施加高电压,使信号电极与高压电极之间产生电场,当有X射线沿轴向方向从窗口入射,两极板之间的气体产生电离,在电场的作用下电离的带电粒子及电子分别向两极板运动,当达到极板即产生信号电流,信号电流与X射线强度正比,通过检测信号插座11输出的电流强度即可计算出入射X射线的强度。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

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