电源测试装置及系统的制作方法

本实用新型涉及集成电路测试技术领域，具体而言，涉及一种电源测试装置及系统。

背景技术：

随着科技智能化的发展，越来越多企业加大了对集成电路芯片的研究力度，使得国内集成电路芯片的供应逐渐摆脱对进口的依赖。例如，当前在很多智能手机上得到大量应用的触摸屏控制芯片便为国内企业完成研发设计的。而在一个芯片由设计到最终成熟产品完成的过程中，为保证芯片的质量和性能，集成电路芯片的研发企业及生产厂家则需要对大量的芯片进行相关测试。

在大多数测试场合中，均由人工进行测试。比如，在芯片的批量生产过程中，由于设备和操作者的各种可能的因素(比如设备器件之间的尺寸差异、性能差异等)，无法保证生产出来的芯片全部都是完好品。也就是在生产的末端需要加入各种的测试设备和测试工具，以保证出厂的所有实装电路板或芯片与设计的各种规格和参数完全一致。一般由于工厂生产量大，而目前国内测试设备测试速率和通道数有限(100MHz/256通道以下),难以实现同时测量多颗高速数字芯片，因此只能降频率小批量测试,使得良率和生产效率都很差，难以做到高效、高覆盖的测试。

技术实现要素：

为了克服上述现有技术中的不足，本实用新型提供一种结构简单实用的电源测试装置及系统，以解决上述问题。

为了实现上述目的，本实用新型较佳实施例所提供的技术方案如下所示：

本实用新型较佳实施例提供一种电源测试装置，用于测试待测芯片，包括控制器、M个数模转换器、N个模数转换器，以及电源转换模块，其中，M、N为大于1的整数；

所述控制器与所述M个数模转换器及所述N个模数转换器连接，用于形成多个测试接口；

所述电源转换模块与所述控制器连接，用于输出多路电源。

可选地，上述电源测试装置还包括：

用于固定所述待测芯片的固定部；

与所述固定部传动连接以带动所述固定部运动的第一驱动部，以及

用于与所述待测芯片的引脚和/或接口连接的接口单元，所述接口单元与所述M个数模转换器中的至少部分模数转换器连接。

可选地，上述固定部开设有用于卡持所述待测芯片的卡槽。

可选地，上述卡槽中设置有垫层，所述垫层为由柔性材料形成的与所述卡槽相匹配的结构。

可选地，上述电源测试装置还包括第二驱动部及与所述第二驱动部传动连接的推柱；

其中，所述推柱设置在所述卡槽中，用于在所述第二驱动部的带动下将所述待测芯片从所述卡槽中推出。

可选地，上述电源测试装置还包括与所述第一驱动部和/或第二驱动部连接的控制开关。

可选地，上述第一驱动部为第一气压缸或第一液压缸；所述第二驱动部为第二气压缸或第二液压缸。

可选地，上述电源测试装置还包括总线单元，所述控制器通过所述总线单元与所述M个数模转换器及所述N个模数转换器连接。

可选地，上述电源测试装置还包括底座、滑轨及滑块，所述滑轨设置于所述底座上，所述滑块滑动设置于所述滑轨上，所述固定部设置在所述滑块上，所述滑轨与所述滑块相配合，用于限定所述固定部的运动方向。

本实用新型较佳实施例还提供一种电源测试系统，包括电源装置及上述的电源测试装置，所述电源装置与所述电源测试装置中的控制器连接。

相对于现有技术而言，本实用新型提供的电源测试装置及系统至少具有以下有益效果：该电源测试装置包括控制器、M个数模转换器、N个模数转换器，以及电源转换模块，其中，M、N为大于1的整数。所述控制器与所述M个数模转换器及所述N个模数转换器连接，用于形成多个测试接口；所述电源转换模块与所述控制器连接，用于输出多路电源。本方案通过控制器与M个数模转换器、N个模数转换器相配合，形成多路测试接口，通过电源转换模块输出多路电源，有利于同时对多个芯片进行测试，以提高测试效率。

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举本实用新型较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍。应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本实用新型较佳实施例提供的电源测试装置的方框示意图。

图2为本实用新型较佳实施例提供的电源测试装置的结构示意图。

图3为2中所示电源测试装置的固定部的结构示意图。

图4为本实用新型较佳实施例提供的电源测试系统的方框示意图。

图标：10-电源测试系统；100-电源测试装置；111-控制器；113-模数转换器；114-数模转换器；117-电源转换模块；119-接口单元；120-固定部；121-卡槽；122-垫层；130-第一驱动部；140-第二驱动部；141-推柱；150-控制开关；160-底座；171-滑轨；172-滑块；180-显示器；190-插接组件；200-电源装置。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中”、“上”、“下”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该实用新型产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

此外，术语“水平”、“竖直”等术语并不表示要求部件绝对水平或悬垂，而是可以稍微倾斜。如“水平”仅仅是指其方向相对“竖直”而言更加水平，并不是表示该结构一定要完全水平，而是可以稍微倾斜。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接。可以是机械连接，也可以是电性连接。可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

下面结合附图，对本实用新型的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

请参照图1，为本实用新型较佳实施例提供的电源测试装置100的方框示意图。本实用新型较佳例提供的电源测试装置100可用于测试待测芯片。该电源测试装置100可以包括控制器111、M个数模转换器114、N个模数转换器113，以及电源转换模块117。其中，M、N为大于1的整数，可根据实际情况进行设置，这里对M、N不作具体限定。

可理解地，该待测芯片可以为集成电路芯片或者PCBA板。控制器111可以是中央处理器(Central Processing Unit，CPU)、网络处理器(Network Processor，NP)等；还可以是数字信号处理器(DSP)、专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)，或者该控制器111为定制的其他处理器。

在本实施例中，控制器111与M个数模转换器114及N个模数转换器113连接，用于形成多个测试接口。比如，若一个模数转换器113具有4通道，那么，M可以为32，N可以为8。即，32个数模转换器114及8个模数转换器113可以与控制器111连接，可以形成32个用于连接待测芯片引脚的测试接口。控制器111通过该测试接口可以用于测试待测芯片引脚的电压值和/或电流值，比如，可同时测量电流值和电压值。

在本实施例中，若模数转换器113具有四个通道，便可以对4个待测芯片的引脚的数据进行采样。例如，模数转换器113可以用于采集待测芯片4个引脚的电压值，然后将经模数转换后的电压值输入至控制器111。数模转换器114可以用于将模数转换器113采集的电压值经数模转换后输出，比如输出至如图2所示的显示器180。

在本实施例中，电源转换模块117可以为开关电源，电源转换模块117与控制器111连接，用于输出多路电源。

可理解地，开关电源可以将输入的直流电或交流电电源转换为一路或多路直流电输出的电源。比如，该电源模块可以为能够同时提供±10V的电源的开关电源，用于为各待测芯片、模数转换器113、数模转换器114等模块提供电能。值得说明的是，电源转换模块117每路输出的电压及电流可根据实际情况进行设置，比如，最大输出电流可以为2A，这里对输出的电压及电流不作具体限定。

在本实施例中，电源测试装置100还可以包括总线单元，该总线单元可以用于各模块之间的电性连接及数据传输。比如，控制器111可通过总线单元与M个数模转换器114及N个模数转换器113连接，以实现信号连接及数据传输。

作为一种可选的实施方式，总线单元可以为千兆以太网总线。可理解地，基于千兆以太网总线，有利于提高总线单元满载通信时的数据传输速率，进而有助于同时对多个芯片进行测试，以提高测试效率。

基于上述设计，电源测试装置100可以做到64路(site)同时测试，也就是同时对64个待测芯片进行测试，即，利用多个数模转换器114及多个N个模数转换器113，有助于提高测试I/O频率和测试效率。

例如，电源测试装置100可以对SOC芯片、MEMORY芯片、CIS芯片等芯片进行测试，从而可提高装置测试的覆盖率。

请结合参照图2和图3，其中，图2为本实用新型较佳实施例提供的电源测试装置100的结构示意图，图3为2中所示电源测试装置100的固定部120的结构示意图。在本实施例中，电源测试装置100还可以包括固定部120第一驱动部130及接口单元119。其中，固定部120用于固定待测芯片；第一驱动部130与固定部120传动连接以带动固定部120运动；接口单元119的一端用于与待测芯片的引脚和/或接口连接。接口单元119的另一端与M个数模转换器114中的至少部分模数转换器113连接。

可理解地，固定部120可开设有用于卡持待测芯片的卡槽121，以便于测试员将待测芯片固定在固定部120上。比如，在进行芯片测试时，测试员可将待测芯片固定在固定部120上，然后由第一驱动部130将待测芯片推至接口单元119处，使得待测芯片的引脚或接口与接口单元119中的至少部分接口连接，从而实现芯片测试过程中插接芯片操作的半自动化，有利于提高测试效率。

可选地，卡槽121中可设置的垫层122，该垫层122为由柔性材料形成的与卡槽121相匹配的结构。该垫层122用于在卡持待测芯片的过程中，对待测芯片起到缓冲保护的作用，以避免待测芯片与接口单元119连接过程中被损坏。其中，该柔性材料可以为泡棉或者橡胶。

在本实施例中，第一驱动部130可以为气压缸或液压缸中的一种。优选地，第一驱动部130为气压缸，该气压缸包括缸体及活塞杆，活塞杆传动设置在缸体中，缸体可以与固定部120连接，活塞可以与用于安装接口单元119的固定板连接，用于推动固定部120来回运动，从而实现待测芯片与接口单元119之间的自动拆装。比如，该气压缸在运行时，可通过活塞拉动固定部120往靠近接口单元119的方向移动，以实现固定部120上的待测芯片的引脚可与接口单元119连接。

可选地，该电源测试装置100还可以包括显示器180。控制器111、M个数模转换器114、N个模数转换器113，以及电源转换模块117可以设置在显示器180的壳体内。该显示器180可以与控制器111连接，用于显示测试的数据结果，比如显示测试的电压值或其他数据结果。该显示器180可以为液晶显示屏、LED显示屏。

可选地，电源测试装置100可以包括第二驱动部140及与第二驱动部140传动连接的推柱141。其中，推柱141设置在卡槽121中，用于在第二驱动部140的带动下将待测芯片从卡槽121中推出，以便于测试员将待测芯片从卡槽121中取出。

在本实施例中，第二驱动部140可以为气缸或液压缸，其形状结构及工作原理与第一驱动部130相类似，体积可以比第一驱动部130小，这里不再赘述。

可选地，电源测试装置100包括与第一驱动部130和/或第二驱动部140连接的控制开关150。该控制开关150可以为一个，也可以为两个，可以独立控制第一驱动部130启/停，以及独立控制第二驱动部140启/停。比如，控制开关150为两个，分别与第一驱动部130及第二驱动部140连接，分别用于控制第一驱动部130及第二驱动部140的启动或停止运行。

请再次参照图2，电源测试装置100还包括底座160、滑轨171及滑块172，滑轨171设置于底座160上，滑块172滑动设置于滑轨171上，固定部120设置在滑块172上，滑轨171与滑块172相配合，用于限定固定部120的运动方向，以避免在插接待测芯片过程中出现偏差，使得待测芯片的引脚无法插入接口单元119中。

若将第一驱动部130、第二驱动部140、底座160、滑轨171、滑块172、固定部120、接口单元119组成的如图2所示的部位作为芯片插接的插接组件190，那么一个电源测试装置100可以包括至少一个该插接组件190。为了进一步提高测试效率，电源测试装置100可以包括多个插接组件190，通过多个插接组件190可实现同时对多个待测芯片进行插接，并利用控制器111完成测量。

值得说明的是，固定部120的凹槽及接口单元119的接口数量可根据实际情况进行设置，这里不作具体限定。为了适应不同芯片尺寸，固定部120可拆卸地与第一驱动部130传动连接，接口单元119可拆卸地设置在固定板上，以便于通过更换不同的固定部120及接口单元119以适应相应的待测芯片。

基于上述设计，该电源测试装置100结构简单易于实现，基于多个模数转换器113及数模转换器114，可以实现多个芯片同时测量以及为多个芯片提供电能。另外，通过第一驱动部130及第二驱动部140实现待测芯片的自动安装与拆卸，有利于实现芯片测试的自动化，提高测试效率。

请参照图4，为本实用新型较佳实施例提供的电源测试系统10的方框示意图。本实用新型还提供一种电源测试系统10，该电源测试系统10可以包括电源装置200及如上述的电源测试装置100，电源装置200与电源测试装置100中的控制器111连接，用于为电源测试装置100中的各模块以及待测芯片提供电能。其中，电源装置200可以为多个电池组成的电池模组或者市电电源(比如为220V的交流电)，这里不作具体限定。

综上所述，本实用新型提供一种电源测试装置及系统。该电源测试装置包括控制器、M个数模转换器、N个模数转换器，以及电源转换模块，其中，M、N为大于1的整数。所述控制器与所述M个数模转换器及所述N个模数转换器连接，用于形成多个测试接口；所述电源转换模块与所述控制器连接，用于输出多路电源。本方案通过控制器与M个数模转换器、N个模数转换器相配合，形成多路测试接口，通过电源转换模块输出多路电源，有利于同时对多个芯片进行测试，以提高测试效率。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。