一种间歇寿命试验设备专用老化板结构的制作方法

本实用新型涉及一种器件测试工具，尤其涉及一种间歇寿命试验设备专用老化板结构。

背景技术：

间歇寿命试验是对电路间断的施加应力，使器件受到“开”“关”之间的电应力周期变化，来加速电路内部的物理、化学反应的过程，而这种周期变化的电应力又导致器件和外壳温度的周期变化，最终得到测定微电子器件的典型失效率或者证实器件的质量或可靠性。间歇寿命的老化板设计决定了上述实验的准确性、操作员的使用简便、直观及安全。

现有技术的缺点：现有老化板不能够实现每路独立控制，只能做某一种封装的间歇寿命不能实现一板多用，板上不能观察当前的工作状态等等。

技术实现要素：

本实用新型为了解决上述现有技术中存在的缺陷和不足，提供了一种可在老化不同封装器件的情况下，只需要改变上面老化小板即可，实现一板多用，且操作者通过看老化板就可判断其工作状态，同时老化板上分成多路独立控制，互不影响的间歇寿命试验设备专用老化板结构。

本实用新型的技术方案：一种间歇寿命试验设备专用老化板结构，包括老化板本体、安装在老化板本体上的对接金手指、若干试验工位和多路独立保险丝，每个试验工位上设有一块老化小板，所述老化小板通过排针和排针孔对接的结构安装在老化板本体上，每块老化小板上设有4个待测器件安装位，每个待测器件安装位上设有一个循环检测指示灯，所述老化板本体上还设有系统电源指示灯和老化电源指示灯。

本实用新型在老化板本体上设置老化小板，两者通过排针对接，可在老化不同封装器件的情况下，只需要改变上面的老化小板即可，实现一板多用，且在板上有系统电源、老化电源及每个工位老化的 LED循环检测指示灯，使得操作者只需通过看老化板就可判断其工作状态，同时老化板上分成多路独立控制，互不影响。

优选地，所述老化板本体上设有安装排针的排针座，所述老化小板上设有设置排针孔的排针孔座。

该种结构排针座在老化板本体上拥有固定的连接，通过设计不同的小板来实现一板多用，进一步确保一块板子可老化多种封装器件。

优选地，所述老化板本体的一侧设有把手，所述把手位于对接金手指的相对侧。

把手的设计，使得其操作简便、省力，提高工作效率。

优选地，所述老化小板分为两组，每组10个，所述对接金手指的数量为2个，所述独立保险丝的数量为4路。

本实用新型的四路保险丝，有效保护器件，使某一器件损坏时不影响其他器件。

本实用新型在老化板本体上设置老化小板，两者通过排针对接，可在老化不同封装器件的情况下，只需要改变上面的老化小板即可，实现一板多用，且在板上有系统电源、老化电源及每个工位老化的 LED循环检测指示灯，使得操作者只需通过看老化板就可判断其工作状态，同时老化板上分成多路独立控制，互不影响。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型中老化小板和老化板本体之间的连接示意图；

图中1.老化板本体，2.老化小板，3.系统电源指示灯，4.老化电源指示灯，5.循环检测指示灯，6.对接金手指，7.独立保险丝，8. 排针，9.排针座，10.排针孔座，11.把手。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步详细的说明，但并不是对本实用新型保护范围的限制。

如图1和2所示，一种间歇寿命试验设备专用老化板结构，包括老化板本体1、安装在老化板本体1上的对接金手指6、20个试验工位和4路独立保险丝7。每个试验工位上设有一块老化小板2，老化小板2通过排针8和排针孔对接的结构安装在老化板本体1上，每块老化小板2上设有4个待测器件安装位，每个待测器件安装位上设有一个循环检测指示灯5，老化板本体1上还设有系统电源指示灯3和老化电源指示灯4。老化板本体1上设有安装排针8的排针座9，老化小板2上设有设置排针孔的排针孔座10。老化板本体1的一侧设有把手11，把手11位于对接金手指6的相对侧。老化小板2分为两组，每组10个，对接金手指6的数量为2个。

本实用新型使用时，板上一共可同时对80个器件进行间歇寿命试验，分为两个金手指，四路独立控制，保险丝有效保护器件防止电流过大。每块老化小板上安装四个器件，左右两个各属于同一路，老化小板可根据不同的封装或者要求来设计，当循环检测时，对应器件的循环检测LED指示灯会闪一下。当系统电源LED指示灯亮时表示主控板检测功能正常，当老化电源LED指示灯亮时表示器件正在进行试验。在尾端的把手设计时操作更简便省力。

本实用新型在老化板本体上设置老化小板，两者通过排针对接，可在老化不同封装器件的情况下，只需要改变上面的老化小板即可，实现一板多用，且在板上有系统电源、老化电源及每个工位老化的 LED循环检测指示灯，使得操作者只需通过看老化板就可判断其工作状态，同时老化板上分成多路独立控制，互不影响。